1.一種高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試平臺(tái),其特征是,包括:
上位機(jī)(1),所述上位機(jī)(1)通過(guò)Labview進(jìn)行測(cè)試條件設(shè)置和測(cè)試數(shù)據(jù)的處理、保存;
DSP控制系統(tǒng)(2),所述DSP控制系統(tǒng)(2)用于實(shí)現(xiàn)雙脈沖發(fā)送、母線電壓和Ic電流的采樣、以及控制系統(tǒng)故障的軟硬件保護(hù)及控制系統(tǒng)放電;
電源模塊(3),所述電源模塊(3)與DSP控制系統(tǒng)(2)連接,提供直流電源Vcc;
示波器(4),所述示波器(4)與上位機(jī)(1)連接,示波器(4)通過(guò)探頭采集測(cè)試電路的時(shí)序波形,并將測(cè)試波形上傳至上位機(jī)(1);
A/D采樣電路(5),所述A/D采樣電路(5)和DSP控制系統(tǒng)(2)連接,A/D采樣電路(5)用于母線電壓Ucc、Vce、Vge、Ic的采樣;
故障保護(hù)電路(6),所述故障保護(hù)電路(6)與DSP控制系統(tǒng)(2)連接;
以及外圍輔助電路(9),所述外圍輔助電路(9)包括驅(qū)動(dòng)電路和放電回路。
2.如權(quán)利要求1所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試平臺(tái),其特征是:所述驅(qū)動(dòng)電路提供驅(qū)動(dòng)電流,具有驅(qū)動(dòng)電阻和驅(qū)動(dòng)電壓可調(diào)功能,以及具有電氣隔離和過(guò)流、過(guò)壓保護(hù)功能。
3.如權(quán)利要求1所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試平臺(tái),其特征是:所述放電回路為測(cè)試電路的母線電容進(jìn)行放電。
4.如權(quán)利要求1所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試平臺(tái),其特征是:所述測(cè)試電路中母線電容選擇并聯(lián)型的薄膜電容作為DC-link的電容器。
5.一種高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法,其特征是,主要基于labview和DSP控制系統(tǒng)的上下位機(jī)通信,主要過(guò)程為:
(1)上位機(jī)通過(guò)Labview界面設(shè)置測(cè)試參數(shù),經(jīng)通信線控制程控電壓源、示波器和發(fā)送測(cè)試條件給DSP控制系統(tǒng);
(2)借助于DSP控制系統(tǒng)完成母線電容的充電至設(shè)定的電壓值后自動(dòng)斷開(kāi)充電,并在Labview界面提示充電停止,啟動(dòng)測(cè)試;
(3)上位機(jī)labview顯示讀取的示波器數(shù)據(jù)和動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù),并自動(dòng)保存相應(yīng)的數(shù)據(jù)。
6.如權(quán)利要求5所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法,其特征是:所述步驟(1)中上位機(jī)通過(guò)Labview界面設(shè)置柵極電壓、驅(qū)動(dòng)電阻、母線電壓、測(cè)試電流參數(shù),根據(jù)完成脈沖寬度的設(shè)置。
7.如權(quán)利要求5所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法,其特征是:?jiǎn)?dòng)測(cè)試之前,由DSP控制系統(tǒng)采樣Vcc、Ic、Vce、Vge,并判斷是否存在欠壓、過(guò)壓、過(guò)流故障,若出現(xiàn)故障則切斷是開(kāi)啟放電回路。
8.如權(quán)利要求5所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法,其特征是:所述步驟(3)中動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)為電流上升時(shí)間tr,開(kāi)通時(shí)間ton,開(kāi)通電流峰值Ipeak,開(kāi)通損耗Eon,電流下降時(shí)間tf,關(guān)斷時(shí)間峰值Vpeak,關(guān)斷損耗Eoff,反向恢復(fù)損耗Err。
9.如權(quán)利要求5所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法,其特征是:當(dāng)測(cè)試完成時(shí)啟動(dòng)放電回路。
10.如權(quán)利要求7或9所述的高壓大電流IGBT的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法,其特征是:在啟動(dòng)放電回路時(shí),判斷母線電壓是否低于36V,是,則停止放電;否,則繼續(xù)放電。