一種絲米級物體表面平整度繪制尺的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種建筑行業(yè)探測平整度的工具,具體的說,是一種絲米級物體表面平整度繪制尺。
【背景技術(shù)】
[0002]在生活水平日益提高的今天,我們對生活中的很多細節(jié)會花更多的功夫,例如,我們有時候想知道墻體是否平整,瓷磚貼了的地面是否平整。
[0003]目前測量新建工程墻面平整度的工具是比較原始的,一般靠一把木質(zhì)直尺和一把塞尺。檢測時需要3人同時進行,其中一人將直尺靠到受檢墻面上,另一人用目測直尺與墻面之間的空隙,再將塞尺塞入縫隙內(nèi),塞尺插入的深度越大,則表明其平整度越差。這種測量方法缺點很多,如使用起來很復(fù)雜、比較耗費人力資源且所數(shù)據(jù)不科學(xué),有很大誤差。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種使用方便、測量誤差小、結(jié)構(gòu)簡單的物體表面平整度繪制尺。
[0005]本實用新型通過下述技術(shù)方案實現(xiàn):一種絲米級物體表面平整度繪制尺,包括底座、與底座相連的擋板,設(shè)置于底座與擋板上的探測裝置以及底座上放置的畫紙,探測裝置包括卡于底座、擋板上的探測筆、固定于探測筆上的畫筆,底座截面呈L形,包括相互垂直的探測筆固定基體、畫紙載體,探測筆固定基體上設(shè)置有底座探測筆卡槽,其上還設(shè)置有固定腳,所述畫紙放置于畫紙載體上,探測筆的頂端設(shè)置有固定環(huán),所述畫筆通過固定環(huán)固定于探測筆上,且其筆尖與畫紙接觸。
[0006]本實用新型所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其所述擋板與探測筆固定基體平行,其上設(shè)置有與底座探測筆卡槽形狀大小相同且位置相對應(yīng)的擋板探測筆卡槽,且其通過探測筆固定基體上設(shè)置的固定腳與底座固定連接,并且固定腳延伸到擋板的另外一面。
[0007]本實用新型所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其所述探測筆同時卡于底座探測筆卡槽、擋板探測筆卡槽內(nèi),且其筆尖靠近擋板一側(cè)。
[0008]本實用新型所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其所述探測筆上套有彈簧,彈簧置于底座與擋板之間。彈簧的設(shè)置目的在于使得探測筆在滑動的時候能減少震動,保持畫出線條的精確度。
[0009]本實用新型所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其所述探測筆的筆尖設(shè)置有圓形滾珠,圓形滾珠的設(shè)置則使得探測筆在不光滑的探測面也可以無障礙的滑行。
[0010]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點及有益效果:
[0011](I)本實用新型所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺在其使用過程中,只需一人操作即可,使用起來較為方便。
[0012](2)本實用新型所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺的測量結(jié)果與現(xiàn)有技術(shù)的探測結(jié)果相比誤差較小。
[0013](3)本實用新型所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺結(jié)構(gòu)簡單。
【附圖說明】
[0014]圖1為本實用新型整體結(jié)構(gòu)圖。
[0015]圖2為本實用新型底座整體結(jié)構(gòu)圖。
[0016]圖3為探測筆筆尖部分局部放大圖。
[0017]其中I一底座,11一探測筆固定基體,111一底座探測筆卡槽,12—畫紙載體,13—固定腳,2一擋板,21一擋板探測筆卡槽,3一探測筆,31一固定環(huán),32一圓形滾珠,4一畫筆,5—彈簧,6—畫紙。
【具體實施方式】
[0018]下面結(jié)合實施例對本實用新型作進一步地詳細說明,但本實用新型的實施方式不限于此。
實施例
[0019]如圖1、圖2所示,一種絲米級物體表面平整度繪制尺,包括底座1、與底座I相連的擋板2,設(shè)置于底座I與擋板2上的探測裝置以及底座I上放置的畫紙6。
[0020]所述探測裝置包括卡于底座1、擋板2上的探測筆3、固定于探測筆3上的畫筆4。
[0021]所述底座I截面呈L形,包括相互垂直的探測筆固定基體11、畫紙載體12,探測筆固定基體11上設(shè)置有底座探測筆卡槽111,其上還設(shè)置有固定腳13,所述畫紙6放置于畫紙載體12上。
[0022]所述擋板2與探測筆固定基體11平行,其上設(shè)置有與底座探測筆卡槽111形狀大小相同且位置相對應(yīng)的擋板探測筆卡槽21,且其通過探測筆固定基體11上設(shè)置的固定腳13與底座I固定連接,并且固定腳13延伸到擋板2的另外一面。
[0023]所述探測筆3同時卡于底座探測筆卡槽111、擋板探測筆卡槽21內(nèi),且其筆尖靠近擋板2—側(cè)。
[0024]所述探測筆3上套有彈簧5,彈簧5置于底座I與擋板2之間。彈簧5的設(shè)置目的在于使得探測筆3在滑動的時候能減少震動,保持畫出線條的精確度。
[0025]所述探測筆3的筆尖設(shè)置有圓形滾珠32,圓形滾珠32的設(shè)置則使得探測筆3在不光滑的探測面也可以無障礙的滑行。
[0026]所述探測筆3的頂端設(shè)置有固定環(huán)31,所述畫筆通過固定環(huán)31固定于探測筆3上,且其筆尖與畫紙6接觸。
[0027]在本實用新型的實際應(yīng)用中,只需將固定腳13底面貼于測量面上,再將探測筆3垂直于探測筆固定基體11和擋板2,并將探測筆3從底座探測筆卡槽111的一端滑到另一端即可使得畫筆4在畫紙6上畫出一條輪廓線,根據(jù)這條輪廓線即可判斷測量面的平整度。
[0028]以上所述,僅是本實用新型的較佳實施例,并非對本實用新型做任何形式上的限制,凡是依據(jù)本實用新型的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化,均落入本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其特征在于:包括底座(I)、與底座(I)相連的擋板(2),設(shè)置于底座(I)與擋板(2)上的探測裝置以及底座(I)上放置的畫紙(6),探測裝置包括卡于底座(I)、擋板(2)上的探測筆(3)、固定于探測筆(3)上的畫筆(4),底座(I)截面呈L形,包括相互垂直的探測筆固定基體(11)、畫紙載體(12),探測筆固定基體(11)上設(shè)置有底座探測筆卡槽(111),其上還設(shè)置有固定腳(13),所述畫紙(6)放置于畫紙載體(12)上,探測筆(3)的頂端設(shè)置有固定環(huán)(31),所述畫筆通過固定環(huán)(31)固定于探測筆(3)上,且其筆尖與畫紙(6)接觸。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其特征在于:所述擋板(2)與探測筆固定基體(11)平行,其上設(shè)置有與底座探測筆卡槽(111)形狀大小相同且位置相對應(yīng)的擋板探測筆卡槽(21),且其通過探測筆固定基體(11)上設(shè)置的固定腳(13)與底座(I)固定連接。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其特征在于:所述探測筆(3)同時卡于底座探測筆卡槽(111)、擋板探測筆卡槽(21)內(nèi),且其筆尖靠近擋板(2)—側(cè)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其特征在于:所述探測筆(3)上套有彈簧(5),彈簧(5)置于底座(I)與擋板(2)之間。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種絲米級物體表面平整度繪制尺,其特征在于:所述探測筆(3)的筆尖設(shè)置有圓形滾珠(32)。
【專利摘要】本實用新型公開了一種絲米級物體表面平整度繪制尺,包括底座、與底座相連的擋板,設(shè)置于底座與擋板上的探測裝置以及底座上放置的畫紙,所述探測裝置包括卡于底座、擋板上的探測筆、固定于探測筆上的畫筆、套與探測筆上的彈簧,所述探測筆的頂端設(shè)置有固定環(huán),其筆尖設(shè)置有圓形滾珠,所述畫筆通過固定環(huán)固定于探測筆上,其筆尖與畫紙接觸,所述彈簧置于底座與擋板之間。本實用新型的有益效果在于,使用方便、測量誤差小、結(jié)構(gòu)簡單。
【IPC分類】G01B5/28
【公開號】CN205383979
【申請?zhí)枴緾N201620058026
【發(fā)明人】張佳
【申請人】四川建筑職業(yè)技術(shù)學(xué)院
【公開日】2016年7月13日
【申請日】2016年1月21日