本實(shí)用新型涉及一種電子通訊領(lǐng)域的邊界掃描測試裝置，尤其是涉及一種多工位邊界掃描并行測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著電路技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成時(shí)代，超大規(guī)模集成電路的高度復(fù)雜性，以及多層印制板、表面貼裝、圓片規(guī)模集成和多芯片模塊技術(shù)在電路系統(tǒng)中的應(yīng)用，都使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問性正逐步削弱以至于消失，電路板體積減小、元器件引腳增多和板上功能密度增加使得能夠留給探針的測試點(diǎn)大幅度縮小，傳統(tǒng)的在線測試系統(tǒng)測試已無法很好地滿足這類產(chǎn)品的測試，一種新的測試技術(shù)產(chǎn)生了，聯(lián)合測試行為組織定義這種新的測試方法為邊界掃描測試。但目前許多邊界掃描測試儀測試效率不高，無法同時(shí)對不同的電路板進(jìn)行測試，從而也帶來了測試成本的上升。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的主要目的是提供一種具有高測試效率的多工位邊界掃描并行測試系統(tǒng)。

為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：一種多工位邊界掃描并行測試系統(tǒng)，包括PC機(jī)和邊界掃描測試儀，所述邊界掃描測試儀包括第一信號(hào)收發(fā)模塊，所述第一信號(hào)收發(fā)模塊連接有JTAG控制器，所述JTAG控制器通過JTAG總線并行連接有若干個(gè)測試用工位，每個(gè)測試工位包括TAP控制器，多個(gè)測試工位可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對電路板的測試。所述PC機(jī)包括第二信號(hào)收發(fā)模塊。所述第一信號(hào)收發(fā)模塊和第二信號(hào)收發(fā)模塊通過局域網(wǎng)相互通信，從而使得不再受線長的控制，測試位置靈活可調(diào)，并且無布線的耗費(fèi)成本。

進(jìn)一步，所述JTAG總線由TDI、TDO、TMS、TCK、TRST構(gòu)成，主要完成測試矢量輸入、測試響應(yīng)輸出和測試控制。

進(jìn)一步，所述TAP控制器的核心是16個(gè)工作狀態(tài)轉(zhuǎn)換機(jī)制，狀態(tài)轉(zhuǎn)換由TCK采樣TMS的值來實(shí)施，主要接收來自JATG總線的命令，控制所要測試的邊界掃描單元的行為，實(shí)現(xiàn)對待測定器件管腳的設(shè)定、讀取和隔離。

進(jìn)一步，所述測試工位還包括邊界掃描寄存器、旁路寄存器和指令寄存器。

本實(shí)用新型具有的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是：測試效率高，測試成本低，使用方便。

附圖說明

圖1是所述多工位邊界掃描并行測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了更好的理解本實(shí)用新型，下面結(jié)合具體實(shí)施例和附圖對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步的描述。

如圖所示，本實(shí)用新型提供一種多工位邊界掃描并行測試系統(tǒng)，包括PC機(jī)和邊界掃描測試儀，所述邊界掃描測試儀包括第一信號(hào)收發(fā)模塊，所述第一信號(hào)收發(fā)模塊連接有JTAG控制器，所述JTAG控制器通過JTAG總線并行連接有若干個(gè)測試用工位，具體地，所述JTAG總線由TDI、TDO、TMS、TCK、TRST構(gòu)成，主要完成測試矢量輸入、測試響應(yīng)輸出和測試控制。每個(gè)測試工位包括TAP控制器，所述TAP控制器的核心是16個(gè)工作狀態(tài)轉(zhuǎn)換機(jī)制，狀態(tài)轉(zhuǎn)換由TCK采樣TMS的值來實(shí)施，主要接收來自JATG總線的命令，控制所要測試的邊界掃描單元的行為，實(shí)現(xiàn)對待測定器件管腳的設(shè)定、讀取和隔離。所述測試工位還包括邊界掃描寄存器、旁路寄存器和指令寄存器。所述TMS、TCK、TRST并行地與各個(gè)工位的TAP控制器相連接，而TDI并行地與各個(gè)工位的掃描寄存器、旁路寄存器和指令寄存器相連接，所述TDO與各個(gè)工位的掃描鏈的末端并行相連。所述PC機(jī)包括第二信號(hào)收發(fā)模塊。所述第一信號(hào)收發(fā)模塊和第二信號(hào)收發(fā)模塊通過局域網(wǎng)相互通信。進(jìn)一步，所述JTAG控制器接收第一信號(hào)收發(fā)器發(fā)出的指令并控制相應(yīng)的工位進(jìn)行測試，所述PC機(jī)采用并行計(jì)算方式對測試結(jié)果進(jìn)行分析并存儲(chǔ)，監(jiān)測效率高，無需多臺(tái)測試儀，測試成本低。

以上對本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明，但所述內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，不能被認(rèn)為用于限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍。凡依本實(shí)用新型范圍所作的均等變化與改進(jìn)等，均應(yīng)仍歸屬于本專利涵蓋范圍之內(nèi)。