本實(shí)用新型涉及一種導(dǎo)線的制備裝置，尤其涉及一種鍍層測厚儀。

背景技術(shù)：

在導(dǎo)線的制備過程中，需要對導(dǎo)線的鍍層厚度進(jìn)行測定，判定該導(dǎo)線的鍍層是否達(dá)標(biāo)。由于鍍層的厚度非常薄，用傳統(tǒng)的厚度測量方法行不通，現(xiàn)有技術(shù)中采用X射線進(jìn)行鍍層厚度測量，這種機(jī)器由于需要產(chǎn)生X射線，因此結(jié)構(gòu)復(fù)雜，一旦出現(xiàn)故障需要專業(yè)的廠家人員來維修，使用成本比較高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決背景技術(shù)中存在的問題，本實(shí)用新型提供了一種電鍍導(dǎo)體鍍層厚度測厚儀，該測厚儀采用光學(xué)的辦法，能夠準(zhǔn)確的測量鍍層厚度，并且結(jié)構(gòu)簡單，故障率低，使用成本低。

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案：

一種電鍍導(dǎo)體鍍層測厚儀，包括激光發(fā)生器，其特征在于，所述激光發(fā)生器的激光出口對面間隔一定距離設(shè)置有反射器，反射器朝向激光發(fā)生器的一側(cè)具有反射面，反射面的下方設(shè)置有兩個光感應(yīng)器，兩個光感應(yīng)器之間留有空隙，兩個光感應(yīng)器通過分別與中央處理器通訊相連；

光感應(yīng)器下方設(shè)置有基臺，基臺上兩個光感應(yīng)器的下方分別擱置有導(dǎo)體基材和帶鍍層的導(dǎo)體。

所述反射面與水平方向成45°角。

本實(shí)用新型的有益效果是：該測厚儀采用光學(xué)的辦法，能夠準(zhǔn)確的測量鍍層厚度，并且結(jié)構(gòu)簡單，故障率低，使用成本低。

附圖說明

下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明

圖1為本實(shí)用新型所述測厚儀的結(jié)構(gòu)原理示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖說明和具體實(shí)施方式對本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述：

實(shí)施例1

如圖1所示，一種電鍍導(dǎo)體鍍層測厚儀，包括激光發(fā)生器1，激光發(fā)生器1的對面間隔一定距離設(shè)置有反射器2，反射器2上具有一個反射面，反射面與水平方向成45°角，反射面的下方設(shè)置有兩個光感應(yīng)器3，兩個光感應(yīng)器3之間留有空隙，兩個光感應(yīng)器3分別與中央處理器8相連；光感應(yīng)器3下方設(shè)置有基臺9，基臺9上兩個光感應(yīng)器3的下方分別擱置有導(dǎo)體基材7和帶鍍層的導(dǎo)體6。

測量時，激光發(fā)生器1發(fā)射兩道激光4，激光4經(jīng)過反射面反射后從光感應(yīng)器3之間的空隙穿出射向基臺9，調(diào)整激光發(fā)生器1射出激光的出射角度，使兩道激光4經(jīng)過反射后恰好從空隙的邊緣穿過，由于導(dǎo)體是金屬，具有一定的反光能力，激光經(jīng)導(dǎo)體或?qū)w鍍層反射后射到光感應(yīng)器3上，光感應(yīng)器3將感應(yīng)的不同反射位置發(fā)送給中央處理器8，中央處理器8經(jīng)過計(jì)算帶鍍層和不帶鍍層的反射光線的入射位置差距從而得到鍍層的厚度。

本領(lǐng)域技術(shù)人員將會認(rèn)識到，在不偏離本發(fā)明的保護(hù)范圍的前提下，可以對上述實(shí)施方式進(jìn)行各種修改、變化和組合，并且認(rèn)為這種修改、變化和組合是在獨(dú)創(chuàng)性思想的范圍之內(nèi)的。