本實(shí)用新型涉及PCB板的制備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及PCB可靠性測(cè)試板。

背景技術(shù)：

近年來(lái)，隨著各種便攜式消費(fèi)電子產(chǎn)品的功能不斷增加，而體積要求越來(lái)越小，必然要求承載電子元器件的PCB板也快速向輕，薄，短，小化發(fā)展。其中，高密度互聯(lián)線(xiàn)路板(High Density Interconnection，HDI)的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，手機(jī)板、平板電腦、半導(dǎo)體封裝基板、汽車(chē)衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)等領(lǐng)域都需要高密度互聯(lián)線(xiàn)路板來(lái)支持，因此對(duì)高密度互聯(lián)線(xiàn)路板的需求量越來(lái)越大，對(duì)板面銅的均勻度的要求也越來(lái)越高。

高密度互聯(lián)線(xiàn)路板的銅線(xiàn)的參數(shù)是評(píng)估高密度互聯(lián)線(xiàn)路板合格率的標(biāo)準(zhǔn)之一，由于銅線(xiàn)的任何缺陷均會(huì)演化為線(xiàn)路不良，甚至?xí)?dǎo)致成品率降低，成本上升，生產(chǎn)效率的降低及產(chǎn)品生產(chǎn)周期延長(zhǎng)等一系列弊端，而傳統(tǒng)對(duì)高密度互聯(lián)線(xiàn)路板的銅線(xiàn)參數(shù)的合格率進(jìn)行測(cè)試的模板結(jié)構(gòu)復(fù)雜，成本高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，有必要針對(duì)上述問(wèn)題，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且成本低的PCB測(cè)試板。

一種PCB可靠性測(cè)試板，包括PCB板以及設(shè)置在所述PCB板上的測(cè)試區(qū)域，所述測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)有多個(gè)測(cè)試圖形單元，

所述測(cè)試圖形單元包括第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)和第四測(cè)試線(xiàn)，所述第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)、第四測(cè)試線(xiàn)的延伸方向互不相同，且彼此互不重疊，且所述第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)、第四測(cè)試線(xiàn)的線(xiàn)寬均相等。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一測(cè)試線(xiàn)沿水平方向設(shè)置；所述第二測(cè)試線(xiàn)沿豎直方向設(shè)置；所述第三測(cè)試線(xiàn)沿45°角方向設(shè)置；所述第四測(cè)試線(xiàn)沿135°角方向設(shè)置。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)、第四測(cè)試線(xiàn)的線(xiàn)寬范圍在33微米～37微米。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)、第四測(cè)試線(xiàn)依次設(shè)置，且相鄰兩條測(cè)試線(xiàn)之間的最短間距均相等。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述最短間距的寬度范圍為34微米～38微米。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)、第四測(cè)試線(xiàn)的線(xiàn)長(zhǎng)范圍為0.5毫米～0.7毫米。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)所述測(cè)試圖形單元以陣列的方式規(guī)則的分布在所述測(cè)試區(qū)域內(nèi)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)試圖形單元的數(shù)量為4個(gè)。

上述PCB測(cè)試板上設(shè)有多個(gè)測(cè)試圖形單元，每個(gè)測(cè)試圖形單元包括第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)和第四測(cè)試線(xiàn)。由于第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)、第四測(cè)試線(xiàn)的延伸方向互不相同，且彼此互不重疊，且第一測(cè)試線(xiàn)、第二測(cè)試線(xiàn)、第三測(cè)試線(xiàn)、第四測(cè)試線(xiàn)的線(xiàn)寬均相等，設(shè)定了的線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)、通過(guò)測(cè)試不同延伸方向的測(cè)試線(xiàn)的線(xiàn)寬，即可判斷使用同一工藝流程制備的PCB板是否合格，其測(cè)試結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低，也便于操作。

附圖說(shuō)明

圖1為PCB可靠性測(cè)試板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為測(cè)試圖形單元的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了便于理解本實(shí)用新型，下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例。但是，本實(shí)用新型可以以許多不同的形式來(lái)實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例的目的是使對(duì)本實(shí)用新型的公開(kāi)內(nèi)容的理解更加透徹全面。

除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語(yǔ)與屬于本實(shí)用新型的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本實(shí)用新型的說(shuō)明書(shū)中所使用的術(shù)語(yǔ)只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在限制本實(shí)用新型。本文所使用的術(shù)語(yǔ)“和/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。

如圖1所示的為PCB可靠性測(cè)試板結(jié)構(gòu)示意圖，包括PCB板10以及設(shè)置在PCB板10上的測(cè)試區(qū)域，測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)有多個(gè)測(cè)試圖形單元100。如圖2所示的為測(cè)試圖形單元的結(jié)構(gòu)示意圖，測(cè)試圖形單元10包括第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130和第四測(cè)試線(xiàn)140。第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的延伸方向互不相同，且彼此互不重疊，且第一測(cè)試線(xiàn)10、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的線(xiàn)寬均相等。

在本實(shí)施例中，第一測(cè)試線(xiàn)110沿水平(0°)方向設(shè)置；第二測(cè)試線(xiàn)120沿豎直(90°)方向設(shè)置；第三測(cè)試線(xiàn)130沿45°角方向設(shè)置；第四測(cè)試線(xiàn)140沿135°角方向設(shè)置。其中，規(guī)定測(cè)試線(xiàn)角度方向：以水平方向?yàn)?°角，且按順時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)為正方向。

通過(guò)設(shè)定不同延伸方向的四條測(cè)試線(xiàn)，可以涵蓋PCB板上任意方向的銅線(xiàn)，也就是測(cè)試這四條測(cè)試線(xiàn)就相當(dāng)于可以對(duì)PCB板上的任意銅線(xiàn)進(jìn)行測(cè)試。同時(shí)，第一測(cè)試線(xiàn)10、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的線(xiàn)寬均相等，及設(shè)定了統(tǒng)一的線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)，使其測(cè)試的精確度更高。若測(cè)試圖形單元10通過(guò)測(cè)試，其測(cè)試結(jié)果合格，則可以判斷通過(guò)同一工藝流程制備出的PCB板上所有的銅線(xiàn)參數(shù)也合格，其測(cè)試結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、便于操作。

其中，第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的線(xiàn)寬W均相等，其線(xiàn)寬范圍在33微米～37微米之間。在實(shí)際制備的過(guò)程中，測(cè)試線(xiàn)具有一定的高度。測(cè)試線(xiàn)由于工藝參數(shù)的影響，會(huì)有一定的塌縮現(xiàn)象，其測(cè)試線(xiàn)的橫截面為梯形結(jié)構(gòu)，上窄下寬，若實(shí)際測(cè)得的上線(xiàn)寬、下線(xiàn)寬與預(yù)設(shè)線(xiàn)寬W的公差范圍在20％以?xún)?nèi)，則認(rèn)定，該測(cè)試線(xiàn)合格。在本實(shí)施例中，設(shè)定的線(xiàn)寬W為35微米，若在測(cè)試的過(guò)程中，測(cè)得四條測(cè)試線(xiàn)的上、下線(xiàn)寬在28～42微米之間，即可判斷該P(yáng)CB板合格，滿(mǎn)足客戶(hù)的需求。第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的線(xiàn)寬W為微米量級(jí)，可以滿(mǎn)足高密度互聯(lián)線(xiàn)路板中銅線(xiàn)線(xiàn)寬的要求，該測(cè)試圖形單元適用于高密度互聯(lián)線(xiàn)路板。

在本實(shí)施例中，第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140依次設(shè)置，且相鄰兩條測(cè)試線(xiàn)之間的最短間距(D1、D2、D3)均相等。其中，相鄰兩條測(cè)試線(xiàn)的最短間距(D1、D2、D3)寬度范圍為34微米～38微米。在其他實(shí)施例中，間距寬度可以根據(jù)線(xiàn)寬W的寬度來(lái)設(shè)定，只要滿(mǎn)足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的最小間距即可。

第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的線(xiàn)長(zhǎng)范圍為0.5毫米～0.7毫米。在本實(shí)施例中，第一測(cè)試線(xiàn)110的線(xiàn)長(zhǎng)L1為0.6毫米，第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的線(xiàn)長(zhǎng)與第一測(cè)試線(xiàn)110的線(xiàn)長(zhǎng)L1均相等為0.6毫米。在其他實(shí)施例中，第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140的線(xiàn)長(zhǎng)也可以不同，其具體線(xiàn)長(zhǎng)的選取，可以根據(jù)實(shí)際PCB板的需求來(lái)設(shè)定。

測(cè)試區(qū)域內(nèi)，可以設(shè)置多個(gè)測(cè)試圖形單元，其各個(gè)測(cè)試圖形單元以陣列的方式規(guī)則的分布。在本實(shí)施例中，測(cè)試圖形單元的數(shù)量為4個(gè)(100、200、300、400)，參考圖1，以?xún)尚袃闪械姆绞皆O(shè)置在測(cè)試區(qū)域內(nèi)。其中，測(cè)試區(qū)域分布在PCB板的中心以及四個(gè)角落處。在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中，每個(gè)測(cè)試區(qū)域選取12條測(cè)試線(xiàn)進(jìn)行測(cè)試，第一測(cè)試線(xiàn)110、第二測(cè)試線(xiàn)120、第三測(cè)試線(xiàn)130、第四測(cè)試線(xiàn)140個(gè)選取三條進(jìn)行測(cè)試，若所選取的測(cè)試線(xiàn)的下線(xiàn)寬與預(yù)設(shè)線(xiàn)寬W(35微米)的公差范圍在20％以?xún)?nèi)，則認(rèn)定該P(yáng)CB板合格，否則，視為殘次品。在其他實(shí)施例中，測(cè)試圖形單元的數(shù)量還可以為6個(gè)、8個(gè)，其在測(cè)試區(qū)域內(nèi)的布局也可以單行單列設(shè)置，具體的設(shè)置方式可以根據(jù)實(shí)際PCB板的布局來(lái)設(shè)定，并不限于此。

以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說(shuō)明書(shū)記載的范圍。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)實(shí)用新型專(zhuān)利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專(zhuān)利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。