本實(shí)用新型涉及電動(dòng)汽車領(lǐng)域，特別是一種電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

電動(dòng)汽車VCU是電動(dòng)汽車最重要的電子部件，為了能快速檢測(cè)產(chǎn)品是否合格，有必要設(shè)計(jì)一種電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)來滿足工廠需求，電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)虛擬技術(shù)，產(chǎn)生電動(dòng)汽車VCU正常工作所需的各種條件，是電動(dòng)汽車VCU處于工作狀態(tài)，并自動(dòng)測(cè)試，評(píng)價(jià)其各項(xiàng)指標(biāo)。

因此，需要一種電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是提出電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)。

本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的：

本實(shí)用新型提供的電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)，包括與VCU相連接的用于產(chǎn)生VCU工作所需要的條件的測(cè)試設(shè)備工裝和用于處理分析VCU的工作狀態(tài)的上位機(jī)；所述上位PC機(jī)與測(cè)試設(shè)備工裝連接；所述測(cè)試設(shè)備工裝和VCU連接。

進(jìn)一步，所述測(cè)試設(shè)備工裝包括測(cè)試通道、用于采集測(cè)試通道的測(cè)試信號(hào)的信號(hào)采集裝置、信號(hào)傳輸裝置和信號(hào)處理器；

所述信號(hào)采集裝置與測(cè)試通道連接，并將測(cè)試信號(hào)通過串口傳輸給信號(hào)處理器；所述信號(hào)傳輸裝置將經(jīng)過信號(hào)處理器處理后的數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔粰C(jī)中。

進(jìn)一步，所述測(cè)試通道包括模擬輸入通道和數(shù)字輸入通道；

所述模擬輸入通道通過上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備工裝輸出模擬信號(hào)；所述模擬信號(hào)傳輸?shù)絍CU單個(gè)模擬輸入端口，將下位機(jī)測(cè)試對(duì)應(yīng)端口的電壓并回傳上位機(jī)；

所述數(shù)字輸入通道通過上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備工裝向VCU的單個(gè)端口輸入高低電平值及頻率值，所述上位機(jī)將下發(fā)指令傳輸?shù)絍CU；所述VCU接收到指令后將采集到的數(shù)據(jù)上傳給上位機(jī)。

由于采用了上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型具有如下的優(yōu)點(diǎn)：

本實(shí)用新型提供的電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)能快速檢測(cè)電動(dòng)汽車VCU是否合格，通過不同的測(cè)試通道對(duì)電動(dòng)汽車VCU進(jìn)行快速檢測(cè)。

本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)、目標(biāo)和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進(jìn)行闡述，并且在某種程度上，基于對(duì)下文的考察研究對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將是顯而易見的，或者可以從本實(shí)用新型的實(shí)踐中得到教導(dǎo)。本實(shí)用新型的目標(biāo)和其他優(yōu)點(diǎn)可以通過下面的說明書來實(shí)現(xiàn)和獲得。

附圖說明

本實(shí)用新型的附圖說明如下。

圖1為本實(shí)用新型的電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖。

圖2為本實(shí)用新型的電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試方法流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。

實(shí)施例1

如圖1所示，本實(shí)施例提供的一種電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試系統(tǒng)，包括與VCU相連接的測(cè)試設(shè)備工裝和上位機(jī)；

所述測(cè)試設(shè)備工裝用于產(chǎn)生VCU工作所需要的條件；所述上位PC機(jī)與測(cè)試設(shè)備工裝和VCU連接；用于處理分析VCU的工作狀態(tài)。

述測(cè)試設(shè)備工裝包括測(cè)試通道、信號(hào)采集裝置、信號(hào)傳輸裝置、信號(hào)處理器；

所述信號(hào)采集裝置與測(cè)試通道連接用于采集測(cè)試通道的測(cè)試信號(hào)，并將測(cè)試信號(hào)通過串口回傳給上位機(jī)；

所述測(cè)試信號(hào)傳輸?shù)教幚砥髦?；所述信?hào)傳輸裝置將經(jīng)過處理器處理后的數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔粰C(jī)中。

所述測(cè)試通道包括模擬輸入通道和數(shù)字輸入通道；

所述模擬輸入通道，用于通過上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備工裝輸出模擬信號(hào)到VCU單個(gè)模擬輸入端口，下位機(jī)測(cè)試對(duì)應(yīng)端口的電壓并回傳上位機(jī)；

所述數(shù)字輸入通道：用于通過上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備工裝向VCU的單個(gè)端口輸入高低電平值及頻率值，上位機(jī)下發(fā)指令，VCU接收到指令后采集所有數(shù)字輸入通道的電平和頻率信息，上傳給上位機(jī)，上位機(jī)根據(jù)上傳信息判斷測(cè)試是否通過。

實(shí)施例2

本實(shí)施例提供的一種電動(dòng)汽車VCU綜合智能測(cè)試方法，測(cè)試裝置包括測(cè)試設(shè)備工裝和上位機(jī)(PC機(jī))兩個(gè)部分，所述測(cè)試設(shè)備工裝與VCU相連，并產(chǎn)生VCU工作所需要的各種技術(shù)條件，使VCU處于工作狀態(tài)；上位機(jī)用于控制整個(gè)系統(tǒng)工作。

所述VCU包括下線測(cè)試方法，具體過程如下：

上位機(jī)向下位機(jī)發(fā)送串口指令，下位機(jī)收到指令后，根據(jù)指令輸出相應(yīng)的模擬信號(hào)，數(shù)字信號(hào)，電阻信號(hào)，負(fù)載信號(hào)等到VCU中相關(guān)測(cè)試通道。

下位機(jī)對(duì)相關(guān)測(cè)試通道的電壓等信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，并將數(shù)值通過串口回傳給上位機(jī)。

上位機(jī)通過測(cè)試設(shè)備向VCU發(fā)送CAN指令，VCU接收到指令后，根據(jù)協(xié)議規(guī)定的具體含義，執(zhí)行具體的測(cè)試任務(wù)，VCU把采集的信息根據(jù)約定的數(shù)據(jù)通信協(xié)議發(fā)給上位機(jī)。

上位機(jī)對(duì)下位機(jī)回傳的數(shù)值與VCU返回的采集信息進(jìn)行比較判斷得出測(cè)試結(jié)果。

其中，包括模擬輸入通道測(cè)試，是指VCU正常工作后，由上位機(jī)驅(qū)動(dòng)下位機(jī)輸出0V或5V模擬信號(hào)到VCU單個(gè)模擬輸入端口，下位機(jī)測(cè)試對(duì)應(yīng)端口的電壓并回傳上位機(jī)，上位機(jī)下發(fā)CAN指令，VCU接收到指令后采集主CPU控制的所有模擬輸入通道的信號(hào)，然后通過CAN-A通道把采集的數(shù)據(jù)上傳給上位機(jī)。上位機(jī)對(duì)比接收到的兩組數(shù)值判斷測(cè)試結(jié)果。

測(cè)試流程如圖2所示，具體過程如下：

上位機(jī)測(cè)試電壓點(diǎn)：先關(guān)閉鑰匙開關(guān)上位機(jī)測(cè)試VCU內(nèi)部的各個(gè)電壓點(diǎn)，然后再打開鑰匙開關(guān)，上位機(jī)測(cè)試VCU內(nèi)部的各個(gè)電壓點(diǎn)，上位機(jī)判斷測(cè)試的電壓是否合格。

VCU監(jiān)控電壓測(cè)試：上位機(jī)下發(fā)命令，VCU接收到指令后自己測(cè)試VCU內(nèi)部的各個(gè)電壓點(diǎn)，通過CAN-A通道上傳給上位機(jī)，上位機(jī)判斷測(cè)試是否通過。

工作功耗測(cè)試：上位機(jī)測(cè)試輸入電源電壓和電流，計(jì)算工作功耗。

EEPROM寫入讀取測(cè)試：上位機(jī)下發(fā)指令，VCU接收到指令后內(nèi)部的EEPROM寫入和讀取數(shù)據(jù)，VCU反饋寫入和讀取的狀態(tài)，并向上位機(jī)返回寫入和讀取的數(shù)據(jù)，上位機(jī)根據(jù)上傳信息判斷測(cè)試是否通過。

模擬輸入通道測(cè)試：上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備向VCU的單個(gè)端口輸入模擬電壓或電阻信號(hào)，上位機(jī)下發(fā)指令，VCU接收到指令后采集所有模擬輸入通道的電壓信息，上傳給上位機(jī)，上位機(jī)根據(jù)上傳信息判斷測(cè)試是否通過。

數(shù)字輸入通道測(cè)試：上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備向VCU的單個(gè)端口輸入高低電平值及頻率值，上位機(jī)下發(fā)指令，VCU接收到指令后采集所有數(shù)字輸入通道的電平和頻率信息，上傳給上位機(jī)，上位機(jī)根據(jù)上傳信息判斷測(cè)試是否通過。

低邊驅(qū)動(dòng)和高邊驅(qū)動(dòng)測(cè)試：上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備給VCU單個(gè)低邊驅(qū)動(dòng)或高邊驅(qū)動(dòng)端口接通或關(guān)閉負(fù)載，上位機(jī)下發(fā)指令，VCU接收到指令后采集所有低邊和高邊驅(qū)動(dòng)通道的電平值，上傳給上位機(jī)，上位機(jī)測(cè)試負(fù)載的電壓，上位機(jī)根據(jù)上傳信息判斷測(cè)試是否通過。

H橋驅(qū)動(dòng)測(cè)試：上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備給VCU中的H橋驅(qū)動(dòng)端口接通或關(guān)閉負(fù)載，上位機(jī)下發(fā)指令，VCU接收到指令后根據(jù)指令打開或關(guān)閉H橋驅(qū)動(dòng)正向通道，打開或關(guān)閉H橋驅(qū)動(dòng)反向通道，VCU采集H橋電源電壓及OUTB的電平值，上傳給上位機(jī)，上位機(jī)測(cè)試負(fù)載的電壓，上位機(jī)根據(jù)上傳信息判斷測(cè)試是否通過。

鑰匙開關(guān)下電：上位機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備關(guān)閉鑰匙開關(guān)，延時(shí)300mS后上位機(jī)測(cè)試VCU中的各個(gè)電壓點(diǎn)電壓，上位機(jī)判斷測(cè)試是否通過。

外部硬線控制上下電測(cè)試：上位機(jī)下發(fā)指令，上位機(jī)通過測(cè)試設(shè)備打開和關(guān)閉外部硬線控制信號(hào)，延時(shí)300mS后上位機(jī)測(cè)試VCU中的各個(gè)電壓點(diǎn)電壓，上位機(jī)判斷測(cè)試是否通過。

CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通信測(cè)試：上位機(jī)通過CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向VCU發(fā)送指定數(shù)據(jù)，VCU通過CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向上位機(jī)返回指定數(shù)據(jù)，上位機(jī)判斷測(cè)試是否通過。

副CPU功能測(cè)試：包括模擬輸入通道與低邊驅(qū)動(dòng)測(cè)試，與上相同。

強(qiáng)制下電測(cè)試：上位機(jī)通過CAN‐S通道下發(fā)指令，副CPU關(guān)閉電源下電管腳，延時(shí)300mS后上位機(jī)測(cè)試VCU中的各個(gè)電壓點(diǎn)電壓，上位機(jī)判斷測(cè)試是否通過。

強(qiáng)制上電測(cè)試：上位機(jī)通過CAN‐S通道下發(fā)指令，副CPU打開電源上電管腳，延時(shí)300mS后上位機(jī)測(cè)試VCU中的各個(gè)電壓點(diǎn)電壓，上位機(jī)判斷測(cè)試是否通過。

最后說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍當(dāng)中。