1.一種基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：它包括測試箱（1），所述測試箱（1）上安裝有平臺板（2），所述平臺板（2）上安裝有若干個測試平臺機構(gòu)（3），所述測試平臺機構(gòu)（3）包括產(chǎn)品定位夾具（4）、上壓頭自對準(zhǔn)模塊（5）、B2B模塊（6）、下壓頭調(diào)整機構(gòu)（7）和光學(xué)定位模組（8），所述產(chǎn)品定位夾具（4）安裝在所述平臺板（2），所述上壓頭自對準(zhǔn)模塊（5）安裝在所述平臺板（2）上，所述上壓頭自對準(zhǔn)模塊（5）與B2B模塊（6）相連接，所述下壓頭調(diào)整機構(gòu)（7）安裝在所述平臺板（2）下端面且位于所述產(chǎn)品定位夾具（4）下方，所述下壓頭調(diào)整機構(gòu)（7）和所述光學(xué)定位模組（8）相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述產(chǎn)品定位夾具（4）包括模擬夾具（41），所述模擬夾具（41）上設(shè)有產(chǎn)品放置區(qū)（42）、手指避讓位（43）和兩個導(dǎo)套（44），所述模擬夾具（41）的兩側(cè)的分別安裝有真空發(fā)生器（45），所述產(chǎn)品放置區(qū)（42）上設(shè)置有若干個產(chǎn)品限位鍵（46）和若干個與所述真空發(fā)生器（45）相連通的吸孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述上壓頭自對準(zhǔn)模塊（5）包括安裝在所述平臺板（2）上的水平滑軌（21），所述水平滑軌（21）上安裝有與所述水平滑軌（21）相適配的滑塊和與所述滑塊相連接的驅(qū)動裝置（22），所述滑塊上固定安裝有機械手（23），所述機械手（23）上安裝有所述B2B模塊（6），所述B2B模塊（6）上還安裝有旋轉(zhuǎn)平臺（24）。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述光學(xué)定位模組（8）包括CCD相機（81）、CCD滑臺（82）和光源器（83），所述CCD相機（81）安裝在所述CCD滑臺（82）上，所述光源器（83）安裝在所述CCD相機（81）的一端。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述下壓頭調(diào)整機構(gòu)（7）包括所述CCD滑臺（82）相連接的水平移動裝置（71），所述水平移動裝置（71）上設(shè)置有豎直移動裝置（72），所述豎直移動裝置（72）上設(shè)置有下壓頭模組（73）。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述B2B模塊（6）包括與所述機械手（23）相連接的安裝架（61）和固定板（62），所述安裝架（61）上安裝有滑臺氣缸（63），所述固定板（62）與所述滑臺氣缸（63）相連接，所述固定板（62）下端設(shè)置有上壓板（64），所述固定板（62）與所述上壓板（64）之間的四端設(shè)有導(dǎo)向軸（65），所述上壓板（64）下端設(shè)置有上壓頭、B2B連接器和探針模塊，所述B2B連接器的兩端設(shè)有兩個與兩個所述導(dǎo)套（44）相適配的導(dǎo)柱，所述上壓頭下端設(shè)置有上金手指，所述上壓頭內(nèi)部設(shè)有軟膠。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述下壓頭模組（73）包括下壓板（731）和設(shè)置在所述下壓板（731）上的下壓頭（732），所述下壓頭（732）上設(shè)置有下金手指（733），所述下壓頭（732）內(nèi)設(shè)有軟膠。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述機械手（23）與所述固定板（62）之間設(shè)置有隔板（9）。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于光學(xué)定位的軟排線對位調(diào)整測試平臺，其特征在于：所述測試箱（1）上設(shè)置有保護罩（10），所述測試箱（1）的前端面設(shè)有控制面板（11），所述控制面板（11）上設(shè)有啟動按鈕（12）和急停按鈕，所述測試箱（1）內(nèi)設(shè)置有電氣控制裝置。