本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體測試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種DIP測試多工位防呆裝置。

背景技術(shù)：

半導(dǎo)體可靠性測試是半導(dǎo)體制造中一道重要工序，其目的是檢測制造的半導(dǎo)體器件電性是否合格，從而剔除掉不合格的產(chǎn)品。進(jìn)行半導(dǎo)體可靠性測試時，先將待測樣品(通常是經(jīng)過簡單封裝的芯片)插到DUT(device under test，DUT)板上，再將DUT板接到測試機(jī)臺上，通過測試機(jī)臺的測試獲得相應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，由此可見，DUT板質(zhì)量的好壞直接影響到半導(dǎo)體可靠性測試的測試結(jié)果。

TI測試主機(jī)為VLCT，分選機(jī)為中藝重力式分選機(jī)，聯(lián)機(jī)通訊為RS232模式，由于通訊模式為RS232模式，為單一一根三芯聯(lián)機(jī)線(內(nèi)含+24V/0V/信號)，不存在工位之間交叉接錯問題發(fā)生，但多工位DUT板與測試分選機(jī)連接時存在工位相互交叉接錯的可能?，F(xiàn)有技術(shù)中通常是在不同的DUT板及對應(yīng)的機(jī)臺連接位置分別采用標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)記，從而便于維修聯(lián)機(jī)識別與檢查人員的日常檢查，但其仍不可避免地會出現(xiàn)不同工位交叉接錯的可能，尤其當(dāng)經(jīng)維修或清洗后，DUT板上的標(biāo)簽可能會損壞或模糊不清。

如，中國專利申請?zhí)?01510246093.0公開了一種芯片測試分選方法，該申請案包括步驟，S1：提供測試儀以及多工位分選機(jī)；S2：通過電纜將測試儀與分選機(jī)的通信接口連接，將測試儀的測試端口與分選機(jī)的工位連接；S3：保留分選機(jī)的尚未通過測試的一個工位并關(guān)閉分選機(jī)的其他工位；S4：測試當(dāng)前保留的工位的電纜連接關(guān)系是否正確，若連接關(guān)系正確則當(dāng)前保留的工位通過測試，再次進(jìn)行S3步驟，直至所有工位都通過測試；若測試出連接關(guān)系不正確則調(diào)整當(dāng)前保留的工位的電纜連接關(guān)系，然后繼續(xù)重復(fù)S4步驟；S5：開啟分選機(jī)的所有工位，進(jìn)行芯片的批量測試分選。該申請案在一定程度上能夠有效地避免因多工位分選機(jī)電纜連接錯誤而導(dǎo)致的誤分類問題，但其操作復(fù)雜，效率相對較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

1.實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題

本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中通常采用標(biāo)簽標(biāo)記的方式對不同DUT板的連接工位進(jìn)行識別與區(qū)別，從而導(dǎo)致無法避免會出不同工位交叉接錯現(xiàn)象的不足，提供了一種DIP測試多工位防呆裝置。通過使用本實(shí)用新型的DIP測試多工位防呆裝置能夠有效避免不同工位DUT板交叉接錯現(xiàn)象的發(fā)生，從而保證芯片性能的正常測試。

2.技術(shù)方案

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案為：

本實(shí)用新型的一種DIP測試多工位防呆裝置，包括測試臺臺面，所述測試臺臺面上DUT板連接工位的前端設(shè)有定位防呆限位裝置，該定位防呆限位裝置包括固定于測試臺臺面上的定位支架及分別與不同工位DUT板對應(yīng)相連的定位板，其中，所述的定位板上均加工有定位卡槽，且不同定位板上定位卡槽的位置互不相同，所述定位支架上設(shè)有與各定位板上定位卡槽分別對應(yīng)的定位銷，通過定位卡槽與定位銷的配合實(shí)現(xiàn)不同工位DUT板的接錯防呆功能。

更進(jìn)一步的，所述定位支架的兩端通過支腳固定于測試臺臺面上。

更進(jìn)一步的，所述的支腳為由水平安裝部與豎直支撐部組成的L形結(jié)構(gòu)，其中，水平安裝部與測試臺臺面固定相連，豎直支撐部與定位支架固定相連。

更進(jìn)一步的，所述L形支腳的豎直支撐部上加工有螺紋孔，定位支架的兩端加工有與螺紋孔相對應(yīng)的第一固定孔，通過螺紋孔及第一固定孔內(nèi)的螺栓對定位支架與支腳進(jìn)行固定。

更進(jìn)一步的，所述的第一固定孔為腰型孔。

更進(jìn)一步的，所述的定位卡槽加工為U形開槽。

更進(jìn)一步的，所述的定位支架上設(shè)有定位銷孔，所述的定位銷固定于定位銷孔內(nèi)。

更進(jìn)一步的，所述的DUT板通過螺釘固定于定位板的上方。

3.有益效果

采用本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下有益效果：本實(shí)用新型的一種DIP測試多工位防呆裝置，其測試臺臺面上DUT板連接工位的前端設(shè)有定位防呆限位裝置，該定位防呆限位裝置包括固定于測試臺臺面上的定位支架及分別與不同工位DUT板對應(yīng)相連的定位板，通過定位支架上定位銷與不同定位板上定位卡槽的配合可以有效防止不同工位DUT板線路的接錯，具有良好的接錯防呆功效，從而大大提高了測試效率。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的一種DIP測試多工位防呆裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型的定位板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實(shí)用新型的定位支架的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本實(shí)用新型的支腳的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為圖4中支腳的俯視示意圖。

示意圖中的標(biāo)號說明：

1、測試臺臺面；2、定位支架；201、第一固定孔；202、定位銷孔；203、定位銷；3、支腳；301、水平安裝部；302、豎直支撐部；303、第二固定孔；304、螺紋孔；4、定位板；401、定位卡槽；5、DUT板。

具體實(shí)施方式

為進(jìn)一步了解本實(shí)用新型的內(nèi)容，現(xiàn)結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本實(shí)用新型作詳細(xì)描述。

實(shí)施例1

如圖1所示，本實(shí)施例的一種DIP測試多工位防呆裝置，包括測試臺臺面1，所述測試臺臺面1上DUT板連接工位的前端設(shè)有定位防呆限位裝置，該定位防呆限位裝置包括固定于測試臺臺面1上的定位支架2及分別與不同工位DUT板5對應(yīng)相連的定位板4。其中，如圖1-圖3所示，所述的定位板4上均加工有定位卡槽401，且不同定位板4上定位卡槽401的位置互不相同，不同DUT板5即通過螺釘固定于不同定位板4的上方。所述定位支架2上設(shè)有與各定位板4上定位卡槽401分別對應(yīng)的定位銷203，定位銷203固定于定位支架2上的定位銷孔202內(nèi)，通過定位卡槽401與定位銷203的配合可以有效防止不同工位DUT板5線路的接錯，具有良好的接錯防呆功效，從而大大提高了測試可靠性。

實(shí)施例2

如圖1所示，本實(shí)施例的一種DIP測試多工位防呆裝置，包括測試臺臺面1，所述測試臺臺面1上DUT板連接工位的前端設(shè)有定位防呆限位裝置，該定位防呆限位裝置包括固定于測試臺臺面1上的定位支架2及分別與不同工位DUT板5對應(yīng)相連的定位板4。其中，如圖1-圖3所示，所述的定位板4上均加工有定位卡槽401，且不同定位板4上定位卡槽401的位置互不相同，不同DUT板5即通過螺釘固定于不同定位板4的上方。所述定位支架2上設(shè)有與各定位板4上定位卡槽401分別對應(yīng)的定位銷203，定位銷203固定于定位支架2上的定位銷孔202內(nèi)。本實(shí)施例中定位卡槽401加工為U形開槽。

本實(shí)施例中，定位支架2的兩端通過支腳3固定于測試臺臺面1上，如圖4、圖5所示，所述的支腳3為由水平安裝部301與豎直支撐部302組成的L形結(jié)構(gòu)，其中，水平安裝部301與測試臺臺面1固定相連，豎直支撐部302與定位支架2固定相連。具體的，所述水平安裝部301上加工有第二固定孔303，該第二固定孔303為腰形孔結(jié)構(gòu)，通過第二固定孔303內(nèi)的螺栓將支腳3固定于測試臺臺面1上。所述L形支腳3的豎直支撐部302上加工有螺紋孔304，定位支架2的兩端加工有與螺紋孔304相對應(yīng)的第一固定孔201，第一固定孔201也加工為腰型孔結(jié)構(gòu)，通過螺紋孔304及第一固定孔201內(nèi)的螺栓對定位支架2與支腳3進(jìn)行固定。

以上示意性的對本實(shí)用新型及其實(shí)施方式進(jìn)行了描述，該描述沒有限制性，附圖中所示的也只是本實(shí)用新型的實(shí)施方式之一，實(shí)際的結(jié)構(gòu)并不局限于此。所以，如果本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員受其啟示，在不脫離本實(shí)用新型創(chuàng)造宗旨的情況下，不經(jīng)創(chuàng)造性的設(shè)計(jì)出與該技術(shù)方案相似的結(jié)構(gòu)方式及實(shí)施例，均應(yīng)屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。