本實(shí)用新型涉及電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種基于多組模擬量同時(shí)輸出的電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著國(guó)民經(jīng)濟(jì)的迅速發(fā)展，電力系統(tǒng)中的沖擊性、波動(dòng)性負(fù)荷日益增多，如電弧爐、大型軋鋼機(jī)、電力機(jī)車等，它們?cè)谶\(yùn)行中不僅產(chǎn)生大量的高次諧波，而且導(dǎo)致電壓波動(dòng)、閃變、三相不平衡、暫升、暫降、甚至中斷。此外，隨著電力電子技術(shù)廣泛應(yīng)用，電力系統(tǒng)中非線性負(fù)載日益增多，如靜止變流器，工業(yè)交直流變換裝置等。非線性負(fù)載會(huì)引起電網(wǎng)電流、電壓波形發(fā)生畸變，造成電網(wǎng)的諧波污染嚴(yán)重。這些電能質(zhì)量問(wèn)題對(duì)電網(wǎng)的不利影響不僅會(huì)導(dǎo)致供用電設(shè)備本身的安全性降低，而且會(huì)嚴(yán)重干擾電網(wǎng)的經(jīng)濟(jì)運(yùn)行。電壓質(zhì)量是考核電力系統(tǒng)供電水平的重要指標(biāo)。電壓監(jiān)測(cè)儀是利用無(wú)線通信網(wǎng)絡(luò)對(duì)電壓質(zhì)量進(jìn)行監(jiān)視及采集數(shù)據(jù)，并且對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分類、統(tǒng)計(jì)、存儲(chǔ)、數(shù)據(jù)查詢等。為了確保電壓監(jiān)測(cè)儀的各項(xiàng)性能，對(duì)電壓監(jiān)測(cè)儀進(jìn)行測(cè)試十分必要。目前電壓監(jiān)測(cè)儀都是兩個(gè)回路同時(shí)進(jìn)行采集，而目前的電壓監(jiān)測(cè)儀檢定裝置都是單路進(jìn)行輸出，對(duì)電壓監(jiān)測(cè)儀只能是每路單獨(dú)分別測(cè)試，測(cè)試效率低下。另外目前的電壓監(jiān)測(cè)儀檢定裝置本身不能完成電壓監(jiān)測(cè)儀的影響量試驗(yàn)，需外加其他測(cè)試設(shè)備。所以有必要研制多路同時(shí)輸出的電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試系統(tǒng)，提高測(cè)試效率，滿足對(duì)電壓監(jiān)測(cè)儀全功能測(cè)試的要求。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于提供一種基于多組模擬量同時(shí)輸出的電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試系統(tǒng)，以解決上述技術(shù)問(wèn)題，為實(shí)現(xiàn)上述目的本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案：

一種基于多組模擬量同時(shí)輸出的電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試系統(tǒng)，包括高精度電壓放大器、數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊及微處理器，所述微處理器與數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊連接，且數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊內(nèi)設(shè)數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP和現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA，所述數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊與電壓放大器連接，且電壓放大器設(shè)置三個(gè)，所述數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP負(fù)責(zé)與PC上位機(jī)進(jìn)行通信，下傳數(shù)據(jù)和控制命令，所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA負(fù)責(zé)與此相關(guān)的各種接口邏輯。

在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上，所述數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP采用美國(guó)德州儀器TI公司生產(chǎn)的 TMS320C62xx型數(shù)字信號(hào)處理芯片。

在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上，所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA采用Xilinx公司的SpartanI型號(hào)的可編程門(mén)陣列。

在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上，所述微處理器采用80C51型單片機(jī)。

本實(shí)用新型解決以下技術(shù)問(wèn)題：

1、多通道電壓輸出，可以同時(shí)對(duì)電壓監(jiān)測(cè)儀的的兩個(gè)回路同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。

2、電壓監(jiān)測(cè)儀指標(biāo)的完整及高質(zhì)量測(cè)試。

3、對(duì)電壓監(jiān)測(cè)儀進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)試和檢定，提供一套測(cè)試數(shù)據(jù)。

4、能夠全自動(dòng)的完成電壓監(jiān)測(cè)儀電源影響量試驗(yàn)。

具有以下特點(diǎn)：多通道電壓輸出、電壓監(jiān)測(cè)儀指標(biāo)的完整及高質(zhì)量測(cè)試、對(duì)電壓監(jiān)測(cè)儀進(jìn)行測(cè)試和檢定，提供一套測(cè)試數(shù)據(jù)，能夠完成。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中：1-高精度電壓放大器；2-數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊；3-微處理器；4-數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP；5-現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)闡述。

一種基于多組模擬量同時(shí)輸出的電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試系統(tǒng)，包括高精度電壓放大器1、數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊2及微處理器3，所述微處理器3與數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊2連接，且數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊2內(nèi)設(shè)數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP4和現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA5，所述數(shù)據(jù)處理/以太網(wǎng)通訊模塊2與電壓放大器1連接，且電壓放大器1設(shè)置三個(gè)，所述數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP4負(fù)責(zé)與PC上位機(jī)進(jìn)行通信以及下傳數(shù)據(jù)和控制命令，所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA5負(fù)責(zé)與此相關(guān)的各種接口邏輯。

所述數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP4采用美國(guó)德州儀器TI公司生產(chǎn)的 TMS320C62xx型數(shù)字信號(hào)處理芯片，所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA5采用Xilinx公司的SpartanI型號(hào)的可編程門(mén)陣列，所述微處理器3采用80C51型單片機(jī)。

本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)PC下傳電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試數(shù)據(jù)，數(shù)字信號(hào)處理芯片DSP對(duì)電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理之后下發(fā)數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)和邏輯打入數(shù)據(jù)處理單元。然后數(shù)據(jù)處理單元等待微處理器的命令，命令下發(fā)后，高速數(shù)據(jù)處理單元迅速動(dòng)作，以250kbps的速度高速、高質(zhì)量的處理電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試數(shù)據(jù)，經(jīng)過(guò)電壓放大器轉(zhuǎn)換，最終輸出到被測(cè)電壓監(jiān)測(cè)儀中。通過(guò)本優(yōu)選實(shí)施方式，該裝置可實(shí)現(xiàn)：多通道電壓輸出，能夠完整地、高質(zhì)量地輸出電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試數(shù)據(jù)，滿足各類電壓監(jiān)測(cè)儀測(cè)試的要求。

以上所述為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，根據(jù)本實(shí)用新型的教導(dǎo)，在不脫離本實(shí)用新型的原理與精神的情況下，對(duì)實(shí)施方式所進(jìn)行的改變、修改、替換和變型仍落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。