本實(shí)用新型涉及電阻測(cè)試儀領(lǐng)域,尤其涉及一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置。
背景技術(shù):
回路電阻測(cè)試儀和直阻儀是電力設(shè)備設(shè)施檢測(cè)的常用設(shè)備。回路電阻測(cè)試儀是用于測(cè)量開關(guān)、斷路器、變壓器等設(shè)備的接觸電阻、回路電阻的專用測(cè)試設(shè)備,其測(cè)試電流為100A或更大的直流電流,也被稱為“接觸電阻測(cè)試儀”。直阻儀是用于測(cè)量變壓器、互感器、電機(jī)繞組等感性被測(cè)對(duì)象的直流電阻的專用測(cè)試設(shè)備,也被稱為“直流電阻快速測(cè)試儀”。接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀是用于測(cè)量交流電網(wǎng)供電的電器設(shè)備(如家用電器、電動(dòng)電熱器具、醫(yī)用電氣設(shè)備及測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備等)的可觸及金屬殼體與該設(shè)備引出的安全接地端(線)之間導(dǎo)通電阻的儀器?;芈冯娮铚y(cè)試儀、直阻儀和接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀都是測(cè)量低阻值電阻的儀器,它們?cè)陔娮与姎獗U现衅鹬浅V匾淖饔?,因此需定期進(jìn)行檢定和校準(zhǔn)。
現(xiàn)有的校準(zhǔn)裝置是采用模擬調(diào)節(jié)電阻的大小供電阻測(cè)試儀測(cè)量校準(zhǔn)。
然而,現(xiàn)有技術(shù)有一定缺陷,就是采用模擬調(diào)節(jié)電阻的精度比較低,而且只能校準(zhǔn)某一類低阻值測(cè)試儀,測(cè)量功能單一。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置,通過寬頻直流比較儀將電阻測(cè)試儀輸出的大電流轉(zhuǎn)換成小電流,然后通過精密電阻將小電流轉(zhuǎn)換成小電壓,再經(jīng)過電壓采樣及增益模塊放大成比例電壓信號(hào)輸入到分壓模塊,由控制器控制其分壓比從而實(shí)現(xiàn)電阻阻值的數(shù)字調(diào)節(jié),最后經(jīng)過緩沖電路輸出給被測(cè)儀器的電壓采樣端,形成測(cè)試回路,將電阻測(cè)試儀測(cè)出的電阻大小與控制器運(yùn)算出的電阻相比較并對(duì)電阻測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn),解決了現(xiàn)有技術(shù)中采用模擬調(diào)節(jié)電阻的精度比較低,而且只能校準(zhǔn)某一類低阻值測(cè)試儀,測(cè)量功能單一的技術(shù)問題。
本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置,包括:A/D采樣模塊、控制模塊、依次電性連接的寬頻直流比較儀、精密電阻、電壓采樣及增益模塊、分壓模塊;
所述分壓模塊、所述A/D采樣模塊分別與控制器通信連接;
所述A/D采樣模塊與所述電壓采樣及增益模塊通信連接。
從以上技術(shù)方案可以看出,本實(shí)用新型實(shí)施例具有以下優(yōu)點(diǎn):
1、通過寬頻直流比較儀將電阻測(cè)試儀輸出的大電流轉(zhuǎn)換成小電流,然后通過精密電阻將小電流轉(zhuǎn)換成小電壓,再經(jīng)過電壓采樣及增益模塊放大成比例電壓信號(hào)輸入到分壓模塊,由控制器控制其分壓比從而實(shí)現(xiàn)電阻阻值的數(shù)字調(diào)節(jié),最后經(jīng)過緩沖電路輸出給被測(cè)儀器的電壓采樣端,形成測(cè)試回路,將電阻測(cè)試儀測(cè)出的電阻大小與控制器運(yùn)算出的電阻相比較并對(duì)電阻測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn),解決了現(xiàn)有技術(shù)中采用模擬調(diào)節(jié)電阻的精度比較低,而且只能校準(zhǔn)某一類低阻值測(cè)試儀,測(cè)量功能單一的技術(shù)問題。
2、本實(shí)用新型實(shí)施例通過控制器控制其分壓比從而實(shí)現(xiàn)電阻阻值的數(shù)字調(diào)節(jié),不僅進(jìn)度高,而且測(cè)量范圍廣。
3、寬頻直流比較儀的設(shè)置將電阻測(cè)試儀的大電流轉(zhuǎn)換成小電流,相比于只采集電壓信號(hào)而電流依然很大的電壓型有源模擬電阻器,大大降低了電路功耗,而且避免了無(wú)源標(biāo)準(zhǔn)電阻器在大電流測(cè)試時(shí)溫漂影響。
4、本實(shí)用新型實(shí)施例提供的電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置體積小、重量輕,便于攜帶,且連線簡(jiǎn)單、操作便捷,可同時(shí)適用于現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)。
5、本實(shí)用新型實(shí)施例提供的電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置功能完備,可實(shí)現(xiàn)回路電阻測(cè)試儀、直阻儀和接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀等低阻值測(cè)試儀的校準(zhǔn)。
附圖說明
為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置,通過寬頻直流比較儀將電阻測(cè)試儀輸出的大電流轉(zhuǎn)換成小電流,然后通過精密電阻將小電流轉(zhuǎn)換成小電壓,再經(jīng)過電壓采樣及增益模塊放大成比例電壓信號(hào)輸入到分壓模塊,由控制器控制其分壓比從而實(shí)現(xiàn)電阻阻值的數(shù)字調(diào)節(jié),最后經(jīng)過緩沖電路輸出給被測(cè)儀器的電壓采樣端,形成測(cè)試回路,將電阻測(cè)試儀測(cè)出的電阻大小與控制器運(yùn)算出的電阻相比較并對(duì)電阻測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn),解決了現(xiàn)有技術(shù)中采用模擬調(diào)節(jié)電阻的精度比較低,而且只能校準(zhǔn)某一類低阻值測(cè)試儀,測(cè)量功能單一的技術(shù)問題。
請(qǐng)參閱圖1,本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的一個(gè)實(shí)施例包括:A/D采樣模塊4、控制模塊6、依次電性連接的寬頻直流比較儀1、精密電阻2、電壓采樣及增益模塊3、分壓模塊5;
分壓模塊5、A/D采樣模塊4分別與控制模塊6通信連接;
A/D采樣模塊4與電壓采樣及增益模塊3通信連接。
上面是對(duì)一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)和連接方式進(jìn)行的詳細(xì)說明,為便于理解,下面將以一具體應(yīng)用場(chǎng)景對(duì)一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的應(yīng)用進(jìn)行說明,應(yīng)用例包括:
將電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的寬頻直流比較儀1與電阻測(cè)試儀的電流輸出端連接,將電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的分壓模塊5與電阻測(cè)試儀的電壓輸入端連接,然后寬頻直流比較儀1將電阻測(cè)試儀輸出大電流I1轉(zhuǎn)換成小電流I2,寬頻直流比較儀1變比k為然后小電流I2經(jīng)過精密電阻2電路后得到電壓U2,R為精密電阻2的阻值,電壓U2經(jīng)過電壓采樣及增益模塊3后得到電壓U3,其中k1為經(jīng)過電壓采樣及增益模塊3后電壓信號(hào)的放大比例系數(shù),然后A/D采樣模塊4獲取電壓U3,然后通過控制模塊6運(yùn)算與電壓U3對(duì)應(yīng)的示值電流并做相應(yīng)的分析,電壓U3經(jīng)過分壓模塊5時(shí),分壓模塊5按照控制模塊6設(shè)定的分壓系數(shù)k2進(jìn)行分壓并輸出電壓值U1,則電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置相當(dāng)于的標(biāo)準(zhǔn)電阻,然后將R1與電阻測(cè)試儀測(cè)量的電阻相比較,對(duì)電阻測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn)。
以上對(duì)本實(shí)用新型所提供的一種電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置進(jìn)行了詳細(xì)介紹,對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員,依據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的思想,在具體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處,綜上所述,本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。