本實用新型涉及一種IC基準(zhǔn)電壓測試信號處理電路，屬于集成電路測試領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

在集成電路中，芯片內(nèi)部都產(chǎn)生恒定的基準(zhǔn)電壓，為內(nèi)部的數(shù)字電路、模擬電路提供精確穩(wěn)定的參考電壓值，即電壓基準(zhǔn)是模擬電路和數(shù)字電路中不可或缺的一部分。在生產(chǎn)過程中，通常由于基準(zhǔn)電壓的失調(diào)、溫漂、工藝偏差等不確定性因素，芯片的基準(zhǔn)電壓的精度往往較預(yù)設(shè)值有偏差，需通過電壓修調(diào)技術(shù)對基準(zhǔn)電壓進行修調(diào)，例如采用電流熔絲修復(fù)技術(shù)對IC基準(zhǔn)電壓進行修正。

在IC基準(zhǔn)電壓修調(diào)前需精確的測試出IC基準(zhǔn)電壓，目前是通過ATE測試系統(tǒng)直接對IC基準(zhǔn)電壓進行測試。由于所涉及基準(zhǔn)電壓修調(diào)的集成電路品種繁多，ATE測試系統(tǒng)也五花八門，隨著測試系統(tǒng)使用時間的增長，其測試系統(tǒng)的精度也隨之降低，因此不斷發(fā)生誤測或測試結(jié)果差異較大的情況?，F(xiàn)有對IC基準(zhǔn)電壓測試方式完全取決于測試系統(tǒng)的精度，使得IC基準(zhǔn)電壓一致性難以保證且總體成本偏高。由于測試系統(tǒng)和IC具有一定距離，空間噪聲也會對測試結(jié)果產(chǎn)生干擾，造成IC基準(zhǔn)電壓測試值的不穩(wěn)定。

雖然為了盡可能降低測試系統(tǒng)帶來的測試誤差，現(xiàn)有做法在測試前對測試系統(tǒng)用6位半的電壓表進行校驗，每種產(chǎn)品品種固定使用同一個測試系統(tǒng)，但這種做法總是治標(biāo)不治本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

鑒于上述原因，本實用新型提供一種IC基準(zhǔn)電壓測試信號處理電路，通過對測試信號進行處理可獲得精確的基準(zhǔn)電壓測試結(jié)果，也降低了測試系統(tǒng)精度對測試結(jié)果的影響。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型所采用的技術(shù)方案為：

一種IC基準(zhǔn)電壓測試信號處理電路，包括低噪聲放大器A1、A2和A3以及電阻R1至R7，放大器A1的反相輸入端與IC基準(zhǔn)電壓測試端子相連，放大器A1的輸出端分別與電阻R1和R4相連，電阻R1的另一端分別連接放大器A1的同相輸入端和可調(diào)電阻R2；放大器A2的同相輸入端與穩(wěn)壓管的陰極相連，穩(wěn)壓管的陽極接地，放大器A2的輸出端分別與電阻R3和電阻R6相連，可調(diào)電阻R2的另外一端分別連接電阻R3和放大器A2的反相輸入端；放大器A3的反相輸入端分別與電阻R5和電阻R4的另外一端相連，放大器A3的同相輸入端分別與電阻R7和電阻R6的另外一端相連，電阻R7的另外一端接地，電阻R5的另外一端與放大器A3的輸出端相連；放大器A3的輸出端與V/I測試源相連。

所述電阻R1阻值與電阻R3相同，電阻R4阻值與電阻R6相同，電阻R5阻值與電阻R7相同。

所述電阻R1、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7均采用阻值為0.25W的金屬膜電阻。

所述放大器A1、A2和A3分別接15V電源。

本實用新型在IC基準(zhǔn)電壓測試端子與測試系統(tǒng)之間專設(shè)IC基準(zhǔn)電壓測試信號處理電路，通過對IC基準(zhǔn)電壓Vref進行信號處理，消除了測試設(shè)備地線以及測試環(huán)境中的空間噪聲的共模干擾，令被測電壓值更加穩(wěn)定；IC基準(zhǔn)電壓Vref經(jīng)過信號處理后，可呈幾何倍數(shù)的降低測試系統(tǒng)因測試誤差造成的影響，從而獲得更高精度的測試結(jié)果，降低了對測試系統(tǒng)的高要求。

以下通過附圖和具體實施方式對本實用新型做進一步闡述。

附圖說明：

圖1為本實用新型測試信號處理電路圖。

具體實施方式：

如圖1所示，一種IC基準(zhǔn)電壓測試信號處理電路，包括低噪聲放大器A1、A2和A3以及電阻R1至R7，放大器A1的反相輸入端與IC基準(zhǔn)電壓測試端子相連，放大器A1的輸出端分別與電阻R1和R4相連，電阻R1的另一端分別連接放大器A1的同相輸入端和可調(diào)電阻R2；放大器A2的同相輸入端與穩(wěn)壓管的陰極相連，穩(wěn)壓管的陽極接地，放大器A2的輸出端分別與電阻R3和電阻R6相連，可調(diào)電阻R2的另外一端分別連接電阻R3和放大器A2的反相輸入端；放大器A3的反相輸入端分別與電阻R5和電阻R4的另外一端相連，放大器A3的同相輸入端分別與電阻R7和電阻R6的另外一端相連，電阻R7的另外一端接地，電阻R5的另外一端與放大器A3的輸出端相連；放大器A3的輸出端與V/I測試源相連；放大器A1、A2和A3分別外接15V電源。

上述測試信號處理電路中要求電阻R1阻值與電阻R3相同，電阻R4阻值與電阻R6相同，電阻R5阻值與電阻R7相同，其主要是利用差分放大原理，消除測試系統(tǒng)的地線以及測試空間噪聲的共模干擾，使IC基準(zhǔn)電壓測試值更加穩(wěn)定。其中，電阻R1、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7優(yōu)選為阻值0.25W的金屬膜電阻。

上述測試信號處理電路中的放大器A1的反相輸入端與IC基準(zhǔn)電壓測試端子相連，由于放大器A1的反相輸入端為高阻抗，因此對被測IC的基準(zhǔn)電壓影響很小。

圖1中的Vin電壓信號經(jīng)過放大器A1緩沖放大，穩(wěn)壓管電壓Vz經(jīng)過放大器A2緩沖放大，Vin與Vz比較后經(jīng)過放大器A3減法放大后輸出。由于上述電路結(jié)構(gòu)上的對稱，使得輸入放大器A1和A2的共模誤差及各種噪聲被輸出級放大器A3的減法器消除，從而降低了上述信號的干擾，也降低了對測試系統(tǒng)精度的高要求。

根據(jù)上述電路結(jié)構(gòu)原理可知，輸出電壓Vout=K*（Vin-Vz），其中Vz為穩(wěn)壓管電壓，K=（1+2R1/R2）*（R5/R4），K可通過調(diào)節(jié)電阻R2來改變，一般取K=10～1000之間。由上述關(guān)系可知， Vin電壓經(jīng)過測試電路信號處理后，其絕對誤差可呈幾何倍數(shù)的減小，舉例：如測試系統(tǒng)的誤差為5mV，那么采用上述測試電路獲得的IC基準(zhǔn)電壓Vref（=Vin）誤差將在0.5mV～0.005mV之間。由此可見，與現(xiàn)有測試方式相比，采用本實用新型提供的測試信號處理電路可獲得更高精度和準(zhǔn)確度的IC基準(zhǔn)電壓，不再使測試精度受制于測試系統(tǒng)誤差的困擾。

以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員對本實用新型的技術(shù)方案所做的其他修改或者等同替換，只要不脫離本實用新型技術(shù)方案的精神和范圍，均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍中。