本實用新型屬于薄膜表面缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體的為一種薄膜成像冷光檢測燈箱。

背景技術(shù)：

傳統(tǒng)鋰電池薄膜表面質(zhì)量檢測一般通過人工在線目測和離線成品抽檢的方式來實現(xiàn)的，雖然人工在線目測和離線成品抽檢的檢測方式在一定程度上能夠滿足薄膜的檢測要求，但是其僅適合生產(chǎn)規(guī)模小的場合。人工檢測以主觀印象作為檢測標(biāo)準(zhǔn)，很難保證檢測標(biāo)準(zhǔn)的一致性，加之受檢測速度和抽檢頻率的限制，以及受到人眼視覺靈敏度和分辨率的限制，人工檢測的產(chǎn)品質(zhì)量難以得到保證，且對檢測人員的身體和心理都具有極大的損害。

公開號為CN 203838069U的中國專利公開了一種薄膜成像檢測裝置，包括遮光箱體，所述遮光箱體的下方設(shè)有檢測燈箱，遮光箱體的頂部設(shè)有用于對放置在所述檢測燈箱上的薄膜樣品成像的成像裝置；所述檢測燈箱包括箱體，所述箱體內(nèi)設(shè)有燈光發(fā)光裝置，所述燈光發(fā)光裝置包括燈座組件和發(fā)光組件；所述燈座組件包括燈座，所述燈座內(nèi)設(shè)有用于安裝所述發(fā)光組件的安裝腔，所述安裝腔從內(nèi)至外依次設(shè)有第一安裝平臺、第二安裝平臺和第三安裝平臺；所述發(fā)光組件包括固定安裝在所述第一安裝平臺上的PCB板、固定安裝在所述第二安裝平臺上的光源板和固定安裝在所述第三安裝平臺上的散光罩，所述光源板上陣列設(shè)有發(fā)光二極管，且所述光源板與所述散光罩之間設(shè)有罩在所述發(fā)光二極管上的透鏡組件；所述箱體上設(shè)有位于所述燈光發(fā)光裝置上方并用于放置薄膜樣品的透光平板。

該薄膜成像檢測裝置成像裝置雖然在一定程度上能夠滿足薄膜成像檢測的使用要求，但是由于采用發(fā)光二極管作為發(fā)光元件，在發(fā)光檢測過程中，燈光帶有大量的熱量，這些熱量作用在薄膜上，會導(dǎo)致薄膜在一定程度上受熱變形，進而導(dǎo)致檢測結(jié)果不準(zhǔn)確。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本實用新型的目的在于提供一種薄膜成像冷光檢測燈箱，不僅滿足薄膜成像檢測的要求，而且能夠避免發(fā)熱引起薄膜變形。

為達到上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案：

一種薄膜成像冷光檢測燈箱，包括箱體，所述箱體上蓋裝設(shè)有光板座，所述光板座上設(shè)有光板槽，所述光板槽內(nèi)設(shè)有冷光板，且所述冷光板的頂面與所述光板座的頂面平齊；所述箱體與所述光板座之間形成用于吸附薄膜的負壓腔，位于所述冷光板范圍外的所述光板座上陣列設(shè)有負壓吸引小孔。

進一步，所述冷光板包括基體，所述基體上設(shè)有導(dǎo)電層，所述導(dǎo)電層上設(shè)有發(fā)光層，所述發(fā)光層上設(shè)有透明絕緣層，所述透明絕緣層上設(shè)有ITO透明導(dǎo)電層，所述ITO透明導(dǎo)電層上設(shè)有保護層。

進一步，所述發(fā)光層采用電致發(fā)光粉制成。

進一步，所述導(dǎo)電層和ITO透明導(dǎo)電層上分別設(shè)有引出線，所述引出線通過驅(qū)動器與電源相連。

進一步，所述負壓腔上設(shè)有用于與負壓機相連的連接口。

進一步，所述負壓腔內(nèi)設(shè)有負壓吸引葉輪和用于驅(qū)動所述負壓吸引葉輪轉(zhuǎn)動的負壓吸引電機，所述箱體上設(shè)有負壓出風(fēng)口。

本實用新型的有益效果在于：

本實用新型的薄膜成像冷光檢測燈箱，通過設(shè)置光板座和冷光板，使用時，將待檢測的薄膜樣品放置在冷光板上，并利用負壓腔的負壓將薄膜吸附在冷光板上，利用冷光板亮度均勻的特性，能夠滿足將光均勻分布在待檢測薄膜樣品上的技術(shù)目的，利用待檢測薄膜的透光性，可直接對薄膜樣品成像，然后結(jié)合圖像處理裝置等可直接對薄膜樣品的缺陷進行檢測；同時冷光板具有發(fā)熱極少，能夠有效避免光熱對薄膜的變相影響。

附圖說明

為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果更加清楚，本實用新型提供如下附圖進行說明：

圖1為本實用新型薄膜成像冷光檢測燈箱實施例1的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為冷光板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實用新型薄膜成像冷光檢測燈箱實施例2的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步說明，以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以更好的理解本實用新型并能予以實施，但所舉實施例不作為對本實用新型的限定。

實施例1

如圖1所示，為本實用新型薄膜成像冷光檢測燈箱實施例1的結(jié)構(gòu)示意圖。本實施例的薄膜成像冷光檢測燈箱，包括箱體1，箱體1上蓋裝設(shè)有光板座2，光板座2上設(shè)有光板槽，光板槽內(nèi)設(shè)有冷光板3，且冷光板3的頂面與光板座2的頂面平齊。箱體1與光板座2之間形成用于吸附薄膜的負壓腔4，位于冷光板3范圍外的光板座2上陣列設(shè)有負壓吸引小孔5。本實施例的負壓腔4上設(shè)有用于與負壓機6相連的連接口7。

進一步，本實施例的冷光板3包括基體8，基體8上設(shè)有導(dǎo)電層9，導(dǎo)電層9上設(shè)有發(fā)光層10，發(fā)光層10上設(shè)有透明絕緣層11，透明絕緣層11上設(shè)有ITO透明導(dǎo)電層12，ITO透明導(dǎo)電層12上設(shè)有保護層13。本實施例的發(fā)光層10采用電致發(fā)光粉制成。本實施例的導(dǎo)電層9和ITO透明導(dǎo)電層12上分別設(shè)有引出線14，引出線14通過驅(qū)動器15與電源相連。

本實施例的薄膜成像冷光檢測燈箱，通過設(shè)置光板座和冷光板，使用時，將待檢測的薄膜樣品放置在冷光板上，并利用負壓腔的負壓將薄膜吸附在冷光板上，利用冷光板亮度均勻的特性，能夠滿足將光均勻分布在待檢測薄膜樣品上的技術(shù)目的，利用待檢測薄膜的透光性，可直接對薄膜樣品成像，然后結(jié)合圖像處理裝置等可直接對薄膜樣品的缺陷進行檢測；同時冷光板具有發(fā)熱極少，能夠有效避免光熱對薄膜的變相影響。

實施例2

如圖3所示，為本實用新型薄膜成像冷光檢測燈箱實施例1的結(jié)構(gòu)示意圖。本實施例的薄膜成像冷光檢測燈箱，包括箱體1，箱體1上蓋裝設(shè)有光板座2，光板座2上設(shè)有光板槽，光板槽內(nèi)設(shè)有冷光板3，且冷光板3的頂面與光板座2的頂面平齊。箱體1與光板座2之間形成用于吸附薄膜的負壓腔4，位于冷光板3范圍外的光板座2上陣列設(shè)有負壓吸引小孔5。負壓腔4內(nèi)設(shè)有負壓吸引葉輪16和用于驅(qū)動負壓吸引葉輪16轉(zhuǎn)動的負壓吸引電機17，箱體1上設(shè)有負壓出風(fēng)口18。

本實施例的其他結(jié)構(gòu)與實施例1相同，不再一一累述。

本實施例的薄膜成像冷光檢測燈箱，通過設(shè)置光板座和冷光板，使用時，將待檢測的薄膜樣品放置在冷光板上，并利用負壓腔的負壓將薄膜吸附在冷光板上，利用冷光板亮度均勻的特性，能夠滿足將光均勻分布在待檢測薄膜樣品上的技術(shù)目的，利用待檢測薄膜的透光性，可直接對薄膜樣品成像，然后結(jié)合圖像處理裝置等可直接對薄膜樣品的缺陷進行檢測；同時冷光板具有發(fā)熱極少，能夠有效避免光熱對薄膜的變相影響。

以上所述實施例僅是為充分說明本實用新型而所舉的較佳的實施例，本實用新型的保護范圍不限于此。本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實用新型基礎(chǔ)上所作的等同替代或變換，均在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。本實用新型的保護范圍以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。