本實用新型涉及LED老化測試設備,特別是一種基于PCB板焊接的LED老化測試機。
背景技術:
LED器件在老化前,需要將LED器件電極位置焊接引出線,通過引出線與電源連接,然后點亮器件進行老化。在老化過程中,需要把器件取出并放到不同測試機中測試,測試不同老化階段的光色參數(shù),評估其衰減情況。在取出器件到放到測試機過程中,人工需要對器件進行拆線或接線,效率低,而且LED器件比較小,若器件沒有做相應記錄或標志,容易出現(xiàn)器件之間搞混,造成測試數(shù)據(jù)不準確。
技術實現(xiàn)要素:
為了克服現(xiàn)有技術的不足,本實用新型提供一種基于PCB板焊接的LED老化測試機。
本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是:
一種基于PCB板焊接的LED老化測試機,包括機架,所述機架上通過固定架連接有積分球和顯微鏡,所述機架上還設置有XY移動機構,所述XY移動機構上設置有夾具,所述夾具包括有夾具底板和合頁式的夾具蓋板,所述夾具底板上設置有用于放置待測試PCB板的工位,所述夾具底板和夾具蓋板的內(nèi)側(cè)分別設置有相互對應的接電板,所述接電板上設置有探針。
作為一個優(yōu)選項,所述探針包括有位于夾具底板上的下側(cè)金手指探針、位于夾具蓋板上的上側(cè)金手指探針、外接探針。
作為一個優(yōu)選項,所述夾具蓋板上開有透光孔。
作為一個優(yōu)選項,所述固定架上還設置有光強探頭。
作為一個優(yōu)選項,所述夾具底板上的接電板連接有切換電路。
作為一個優(yōu)選項,所述夾具底板的工位上設置有定位柱。
本實用新型的有益效果是:該測試對通過XY移動機構作為活動機構,再配合夾具設計,在測試時,通過探針與金手指接觸通電,然后再通過XY移動機構整體傳送分別測試的方式,這樣能減少不同階段測試時的拆線和接線的工作。
附圖說明
下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
圖1是本實用新型的主視圖;
圖2是本實用新型的立體圖;
圖3是本實用新型中夾具部分的立體圖;
圖4是本實用新型中夾具部分的側(cè)視圖;
圖5是本實用新型所處理的PCB板結構示意圖。
具體實施方式
為了使本申請的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白,以下結合附圖及實施例,對本實用新型進行進一步詳細說明。為透徹的理解本發(fā)明,在接下來的描述中會涉及一些特定細節(jié)。而在沒有這些特定細節(jié)時,本發(fā)明則可能仍可實現(xiàn),即所屬領域內(nèi)的技術人員使用此處的這些描述和陳述向所屬領域內(nèi)的其他技術人員有效的介紹他們的工作本質(zhì)。此外需要說明的是,下面描述中使用的詞語“前側(cè)”、“后側(cè)”、“左側(cè)”、“右側(cè)”、“上側(cè)”、“下側(cè)”等指的是附圖中的方向,詞語“內(nèi)”和“外”分別指的是朝向或遠離特定部件幾何中心的方向,相關技術人員在對上述方向作簡單、不需要創(chuàng)造性的調(diào)整不應理解為本申請保護范圍以外的技術。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本申請,并不用于限定實際保護范圍。而為避免混淆本發(fā)明的目的,由于熟知的制造方法、控制程序、部件尺寸、材料成分、電路布局等的技術已經(jīng)很容易理解,因此它們并未被詳細描述。
參照圖1、圖2,一種基于PCB板焊接的LED老化測試機,包括機架1,所述機架1上通過固定架2連接有積分球21和顯微鏡22,所述機架1上還設置有XY移動機構3,所述XY移動機構3上設置有夾具4,所述夾具4包括有夾具底板41和合頁式的夾具蓋板42,所述夾具底板41上設置有用于放置待測試PCB板5的工位,所述夾具底板41和夾具蓋板42的內(nèi)側(cè)分別設置有相互對應的接電板6,所述接電板6上設置有探針7。
參照圖5,由于LED器件焊接在PCB板5上,按照一定規(guī)律布局,PCB板5上的金手指51位置可與相關電源或測試儀連接。PCB板5上可貼上相應的信息碼,在整個老化過程中,包括在這過程中需要的測試環(huán)節(jié),LED器件都一直焊在PCB板5上,無需改變。而該測試機,通過探針7與金手指51接觸通電,然后再通過XY移動機構3整體傳送分別測試的方式,這樣能減少不同階段測試時的拆線和接線的工作。
另外的實施例,參照圖1、圖2,一種基于PCB板焊接的LED老化測試機,其中此處所稱的“實施例”是指可包含于本申請至少一個實現(xiàn)方式中的特定特征、結構或特性。在本說明書中不同地方出現(xiàn)的“實施例中”并非均指同一個實施例,也不是單獨的或選擇性的與其他實施例互相排斥的實施例。實施例包括機架1,所述機架1上通過固定架2連接有積分球21和顯微鏡22,所述機架1上還設置有XY移動機構3,所述XY移動機構3上設置有夾具4,所述夾具4包括有夾具底板41和合頁式的夾具蓋板42,所述夾具底板41上設置有用于放置待測試PCB板5的工位,所述夾具底板41和夾具蓋板42的內(nèi)側(cè)分別設置有相互對應的接電板6,所述接電板6上設置有探針7,所述探針7包括有位于夾具底板41上的下側(cè)金手指探針71、位于夾具蓋板42上的上側(cè)金手指探針72、外接探針73。
即夾具底板41設有的接電板6為下電極板,夾具蓋板42設有的接電板6為上電極板,上電極板焊有整排相互不連通的外接探針73和整排相互不連通的上側(cè)金手指探針72,下電極板焊有整排相互不連通的下側(cè)金手指探針71。同一列的外接探針7和上側(cè)金手指探針72是連通的,整排上側(cè)金手指探針72分別與下電極板的金手指連接,整排外接探針7分別與PCB板5正面的金手指連接,整排下側(cè)金手指探針71分別與PCB板5反面的金手指連接。另外,所述夾具底板41上的接電板6連接有切換電路8,切換電路8與電源連接。這樣就能控制PCB板上的不同LED進行單獨點亮。
另外的實施例,參照圖1、圖2,一種基于PCB板焊接的LED老化測試機,包括機架1,所述機架1上通過固定架2連接有測試光色的積分球21和顯微鏡22,所述固定架2上還設置有測試光強的光強探頭23。
所述機架1上還設置有XY移動機構3,所述XY移動機構3上設置有夾具4,其中XY移動機構3包括有X軸移動模組31和Y軸移動模組32,其中所述Y軸移動模組32設置在X軸移動模組31上,組成直角坐標系的移動機構,整個XY移動機構安裝在機架1的大板上。Y軸移動模組32上設有兩組夾具4,不同組夾具4對應不同金手指排列的PCB板5,這樣能快速轉(zhuǎn)換測試不同規(guī)格的PCB板5上的器件。
所述夾具4包括有夾具底板41和合頁式的夾具蓋板42,所述夾具底板41上設置有用于放置待測試PCB板5的工位,所述夾具底板41的工位上設置有定位柱44,便于PCB板5對位放好,避免錯位導致測不準。所述夾具蓋板42上開有透光孔43,PCB板5上器件發(fā)光面通過透光孔43露出,便于測試。所述夾具底板41和夾具蓋板42的內(nèi)側(cè)分別設置有相互對應的接電板6,所述接電板6上設置有探針7。
積分球21和光強探頭23設在夾具4的上方,夾具4內(nèi)的PCB板5的某一顆器件能通過光強探頭23的移動,移動到積分球21開口的下方,將器件點亮,并通過積分球21進行光色測試。然后又移動到光強探頭23下方,將器件點亮,并通過光強探頭23進行光強測試。這樣就能把PCB板上所有的器件逐一進行測試,大大提高了測試效率,而且不同LED器件在PCB板5上的位置是相對固定,不會出現(xiàn)器件之間搞混的情況,通過PCB板5上信息碼能快速追溯之前的測試數(shù)據(jù)。
根據(jù)上述原理,本實用新型還可以對上述實施方式進行適當?shù)淖兏托薷?。因此,本實用新型并不局限于上面揭示和描述的具體實施方式,對本實用新型的一些修改和變更也應當落入本實用新型的權利要求的保護范圍內(nèi)。