本實(shí)用新型涉及電子測試針技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種雙級(jí)壓縮測試針。

背景技術(shù)：

測試針，業(yè)內(nèi)也稱探針，用于PCB板測試時(shí)又分為彈簧針(專用針)和通用針，彈簧針在使用時(shí)，需要根據(jù)所測試的PCB板的布線情況制作測試模具，且一般情況下，一個(gè)模具只能測試一種PCB板；通用針在使用時(shí)，只需有足夠的點(diǎn)數(shù)即可，故現(xiàn)在很多廠家都在使用通用針；彈簧針根據(jù)使用情況又分為PCB板探針、ICT探針、BGA探針，PCB板探針主要用于PCB板測試，ICT探針主要用于插件后的在線測試，BGA探針主要用于BGA封裝測試及芯片測試。

目前的測試針，大多數(shù)由針軸、套管和彈簧構(gòu)成，這樣的測試針的力度單一，受力壓縮空間有限。

因此，尋找一種可以雙級(jí)受力的測試針成為本技術(shù)領(lǐng)域人員所研究的重要課題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種雙級(jí)壓縮測試針，用于解決現(xiàn)有技術(shù)的測試針力度單一，其受力壓縮空間有限的問題。

本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種雙級(jí)壓縮測試針，包括：套管、第一彈簧、第二彈簧、針軸套管、針軸和尾塞；

所述套管包括底部開口端和第一測試開口端；

所述針軸套管包括第二測試開口端和第一尾端部；

所述第一尾端部套裝于所述套管內(nèi)，所述第二測試開口端伸出所述第一測試開口端；

所述第一彈簧設(shè)置于所述套管內(nèi)，與所述第一尾端部進(jìn)行連接；

所述尾塞卡緊在所述底部開口端；

所述針軸包括測試頭部和第二尾端部；

所述第二尾端部套裝于所述針軸套管內(nèi)，所述測試頭部伸出所述第二測試開口端；

所述第二彈簧設(shè)置于所述針軸套管內(nèi)，與所述第二尾端部進(jìn)行連接。

可選地，還包括卡環(huán)；

所述卡環(huán)設(shè)置于所述第二測試開口端的內(nèi)壁，用于卡緊所述第二尾端部。

可選地，所述第二彈簧的尺寸與所述第一彈簧的尺寸不同。

可選地，所述第二測試開口端的半徑比所述第一測試開口端的半徑小。

可選地，所述第一彈簧和所述第二彈簧均為琴鋼線彈簧。

可選地，所述套管為黃銅套管；

所述針軸套管為黃銅針軸套管。

可選地，所述針軸為黃銅針軸。

從以上技術(shù)方案可以看出，本實(shí)用新型實(shí)施例具有以下優(yōu)點(diǎn)：

本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種雙級(jí)壓縮測試針包括：套管、第一彈簧、第二彈簧、針軸套管、針軸和尾塞；所述套管包括底部開口端和第一測試開口端；所述針軸套管包括第二測試開口端和第一尾端部；所述第一尾端部套裝于所述套管內(nèi)，所述第二測試開口端伸出所述第一測試開口端；所述第一彈簧設(shè)置于所述套管內(nèi)，與所述尾端部進(jìn)行連接；所述尾塞卡緊在所述底部開口端；所述針軸包括測試頭部和第二尾端部；所述第二尾端部套裝于所述針軸套管內(nèi)，所述測試頭部伸出所述第二測試開口端；所述第二彈簧設(shè)置于所述針軸套管內(nèi)，與所述第二尾端部進(jìn)行連接。本實(shí)施例中的測試針可以雙級(jí)受力，先針軸受力再到針軸套管受力，大大增加該測試針的受力空間，使該測試針的受力方式多樣化。

附圖說明

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種雙級(jí)壓縮測試針的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種雙級(jí)壓縮測試針的結(jié)構(gòu)爆炸圖；

圖示說明：尾塞1；套管2；第一彈簧3；針軸套管4；第二彈簧5；針軸6；卡環(huán)7。

具體實(shí)施方式

本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種雙級(jí)測試針，用于解決現(xiàn)有技術(shù)的測試針力度單一，其受力壓縮空間有限的問題。

請(qǐng)參閱圖1和圖2，本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種雙級(jí)測試針的一個(gè)實(shí)施例包括：套管2、第一彈簧3、第二彈簧5、針軸套管4、針軸6和尾塞1；

套管2包括底部開口端和第一測試開口端；

針軸套管4包括第二測試開口端和第一尾端部；

第一尾端部套裝于套管2內(nèi)，第二測試開口端伸出第一測試開口端；

第一彈簧3設(shè)置于套管2內(nèi)，與第一尾端部進(jìn)行連接；

尾塞1卡緊在底部開口端；

針軸6包括測試頭部和第二尾端部；

第二尾端部套裝于針軸套管4內(nèi)，測試頭部伸出第二測試開口端；

第二彈簧5設(shè)置于針軸套管4內(nèi)，與第二尾端部進(jìn)行連接；

本實(shí)施例中的測試針可以雙級(jí)受力，先針軸受力再到針軸套管受力，大大增加該測試針的受力空間，使該測試針的受力方式多樣化。

進(jìn)一步地，還包括卡環(huán)7；

卡環(huán)7設(shè)置于第二測試開口端的內(nèi)壁，用于卡緊第二尾端部；

本實(shí)施例中，利用設(shè)置卡環(huán)代替原來的收口工藝，節(jié)約成本。

進(jìn)一步地，第二彈簧5的尺寸與第一彈簧3的尺寸不同。

進(jìn)一步地，第二測試開口端的半徑比第一測試開口端的半徑小。

進(jìn)一步地，第一彈簧3和第二彈簧5均為琴鋼線彈簧。

進(jìn)一步地，套管2為黃銅套管；

針軸套管4為黃銅針軸套管。

進(jìn)一步地，針軸6為黃銅針軸。

上述是對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種雙級(jí)壓縮測試針的具體結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)的描述，下面將以一個(gè)應(yīng)用方法對(duì)本測試針進(jìn)行進(jìn)一步地描述，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種雙級(jí)壓縮測試針的一個(gè)應(yīng)用例包括：

該雙級(jí)壓縮測試針包括：套管、第一彈簧、第二彈簧、針軸套管、針軸和尾塞；套管包括底部開口端和第一測試開口端；針軸套管包括第二測試開口端和第一尾端部；第一尾端部套裝于套管內(nèi)，第二測試開口端伸出第一測試開口端；第一彈簧設(shè)置于套管內(nèi)，與第一尾端部進(jìn)行連接；尾塞卡緊在底部開口端；針軸包括測試頭部和第二尾端部；第二尾端部套裝于針軸套管內(nèi)，測試頭部伸出第二測試開口端；第二彈簧設(shè)置于針軸套管內(nèi)，與第二尾端部進(jìn)行連接。

電流或者電壓信號(hào)通過測試針的傳輸來測試線路板的開路或者短路，其中雙級(jí)壓縮測試針的應(yīng)用方法：

參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或者電壓輸入被測器件，然后測量該器件對(duì)于輸入信號(hào)的影響。

信號(hào)的傳輸路徑：從測試儀通過電纜束至測試針管，然后通過測試針針軸至待測的焊點(diǎn)，到達(dá)被測器件，并最后沿原路返回至測試儀器。

測試針分析：測試針針軸尾端部壓縮彈簧，測試時(shí)第一彈簧受到針軸套管的整體壓力，第二彈簧受到針軸的整體壓力，電流開始通過針軸之后到達(dá)針軸套管再到套管，從而實(shí)現(xiàn)測試針雙級(jí)受力。

本測試針可雙級(jí)受力，先針軸受力再到針軸套管受力，大大增加該測試針的受力空間，使該測試針的受力方式多樣化。

以上對(duì)本實(shí)用新型所提供的一種雙級(jí)壓縮測試針進(jìn)行了詳細(xì)介紹，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的思想，在具體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。