1.一種相位檢測(cè)裝置，用于對(duì)待測(cè)目標(biāo)進(jìn)行距離測(cè)量，其特征在于，該裝置包括：
信號(hào)發(fā)生電路，用于產(chǎn)生同步的發(fā)射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)；
與信號(hào)發(fā)生電路連接的信號(hào)發(fā)射元件，根據(jù)發(fā)射編碼信號(hào)生成經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)；
信號(hào)接收元件，用于接收所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào)，并將所述反射信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理形成反射編碼信號(hào)；
與信號(hào)發(fā)生電路與信號(hào)接收元件均連接的邏輯運(yùn)算電路，用于將反射編碼信號(hào)和參考編碼信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算得到相位延遲；以及
主控電路，用于根據(jù)所述相位延遲確定待測(cè)目標(biāo)的距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其特征在于，所述信號(hào)發(fā)生電路為DDS芯片、CPLD芯片或FPGA芯片。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其特征在于，所述信號(hào)發(fā)射元件為激光器、超聲波發(fā)射器或微波發(fā)射器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其特征在于，所述主控電路為CPLD芯片、FPGA芯片、DSP芯片、ASIC芯片或單片機(jī)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其特征在于，信號(hào)接收元件包括：
接收單元，用于接收所述經(jīng)過(guò)編碼的發(fā)射信號(hào)從所述待測(cè)目標(biāo)反射的反射信號(hào)；
轉(zhuǎn)換單元，用于將反射信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；和
整形單元，用于將所得電信號(hào)轉(zhuǎn)換為反射編碼信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其特征在于，所述發(fā)射編碼信號(hào)和所述參考編碼信號(hào)具有頻率差。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)裝置，其特征在于，所述發(fā)射編碼信號(hào)和所述參考編碼信號(hào)均為步進(jìn)碼信號(hào)、BCD碼信號(hào)、格雷碼信號(hào)或循環(huán)碼信號(hào)。