技術(shù)特征：

1.一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，包括X射線機(jī)、灌漿套筒試件、數(shù)字影像板、操作平臺(tái)和計(jì)算機(jī)，所述灌漿套筒試件和所述數(shù)字影像板固定在所述操作平臺(tái)上，所述操作平臺(tái)上設(shè)有載物臺(tái)，所述載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，所述灌漿套筒試件固定在所述載物臺(tái)上，所述數(shù)字影像板和所述計(jì)算機(jī)連接，所述X射線機(jī)發(fā)出的X射線照射在所述灌漿套筒試件后在所述數(shù)字影像板上投影成像。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述灌漿套筒試件沿豎直方向固定在所述載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)可在水平方向和豎直方向進(jìn)行移動(dòng)并可繞所述灌漿套筒試件軸線進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述數(shù)字影像板緊貼所述灌漿套筒試件，所述數(shù)字影像板與所述X射線機(jī)的發(fā)射源和所述灌漿套筒試件的中心連線垂直。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述灌漿套筒試件上還設(shè)有用于測(cè)定所述X射線在所述數(shù)字影音板上投影成像靈敏度的像質(zhì)計(jì)。

5.一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、測(cè)量灌漿套筒試件的套筒的外徑D以及所述套筒內(nèi)的鋼筋的直徑Φ；

S2、將所述灌漿套筒試件固定在載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)設(shè)在操作平臺(tái)上，所述載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，所述灌漿套筒試件的一側(cè)設(shè)置X射線機(jī)，所述灌漿套筒試件的另一側(cè)設(shè)置數(shù)字影像板，所述數(shù)字影像板連接計(jì)算機(jī)；

S3、將所述載物臺(tái)調(diào)整至第一位置，測(cè)定所述X射線機(jī)的射線源與套筒試件軸線的距離H，打開所述X射線機(jī)，所述X射線機(jī)發(fā)射的X射線穿過所述灌漿套筒試件后由所述數(shù)字影像板接收，所述數(shù)字影像板接收所述X射線進(jìn)行處理后得到第一張投影圖像文件；

S4、將所述載物臺(tái)調(diào)整至第二位置從而使所述灌漿套筒試件繞軸線旋轉(zhuǎn)一定角度，得到第二張投影圖像文件；

S5、對(duì)所獲得的第一張投影圖像文件和第二張投影圖像文件進(jìn)行參數(shù)分析，進(jìn)而計(jì)算出所述灌漿套筒試件的缺陷的寬度、長(zhǎng)度和面積信息。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述灌漿套筒試件沿豎直方向固定在所述載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)可進(jìn)行水平方向和豎直方向的移動(dòng)，并可繞所述灌漿套筒試件軸線進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述數(shù)字影像板緊貼所述灌漿套筒試件，所述數(shù)字影像板與所述X射線機(jī)的發(fā)射源和所述灌漿套筒試件的中心連線垂直。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟S4中灌漿套筒試件繞軸線的旋轉(zhuǎn)角度為90°。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟S5中參數(shù)分析的方法為：l＝min(l₁,l₂)，A＝s×l,其中s為缺陷實(shí)際寬度，H為X射線機(jī)的射線源與套筒試件軸線的距離，R為灌漿套筒試件的半徑，a₁為第一位置投影成像缺陷顯示寬度，a₂為第二位置投影成像缺陷顯示寬度，l為缺陷實(shí)際長(zhǎng)度，l₁為第一位置投影成像缺陷顯示長(zhǎng)度，l₂為第二位置投影成像缺陷顯示長(zhǎng)度，A為缺陷當(dāng)量面積。

10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述灌漿套筒試件上還設(shè)有用于測(cè)定所述X射線在所述數(shù)字影音板上投影成像靈敏度的像質(zhì)計(jì)。