本發(fā)明涉及電磁兼容性測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種大電流注入法測試裝置。

背景技術(shù)：

電池管理系統(tǒng)(Battery Management System，BMS)主要包括主機(jī)、CAN盒模塊、絕緣模塊、安全模塊、GPRS模塊以及均衡采集模塊。其中，在主機(jī)和其它各模塊中，電源濾波部分、變壓器、晶振、接插件、機(jī)殼內(nèi)部及外部接地對輻射抗擾度的影響比較大。

現(xiàn)有的用于電磁兼容性(Electro Magnetic Compatibility，EMC)測試的方法為大電流注入(Bulk Current Injection，BCI)法。其中，大電流注入法通常包括替代法、閉環(huán)法、綜合法及TWC法。比較常用的是替代法及TWC法。BCI常用的測試設(shè)備包括：信號(hào)發(fā)生器、功放、功率探頭、耦合鉗、耦合器、夾具、監(jiān)視鉗、衰減器、人工電源網(wǎng)絡(luò)及線束等。

然而，現(xiàn)有的BCI測試方法僅僅是注重每個(gè)模塊部件的測試，且在不同的測試地點(diǎn)，不同的測試環(huán)境及不同的測試條件下會(huì)導(dǎo)致個(gè)別測試數(shù)據(jù)有比較大的明顯的差異，同時(shí)還要經(jīng)過多次反復(fù)測試，浪費(fèi)測試時(shí)間和精力，進(jìn)一步地，還不能確保電池管理系統(tǒng)的EMC測試順利通過。

鑒于此，實(shí)有必要提供一種新的大電流注入法測試裝置以克服上述缺陷。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種能夠減少測試時(shí)間與精力的大電流注入法測試裝置。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種大電流注入法測試裝置，其設(shè)置于屏蔽室中，所述屏蔽室內(nèi)設(shè)置有試驗(yàn)臺(tái)；所述大電流注入法測試裝置包括絕緣板、注入鉗、兩個(gè)人工網(wǎng)絡(luò)、負(fù)載、待測產(chǎn)品、RF信號(hào)發(fā)生器以及電源；所述絕緣板設(shè)置于所述試驗(yàn)臺(tái)上；所述注入鉗設(shè)置于所述絕緣板上；所述注入鉗的一端分別與所述兩個(gè)人工網(wǎng)絡(luò)以及所述負(fù)載相連且另一端與所述待測產(chǎn)品相連；所述注入鉗還與所述RF信號(hào)發(fā)生器相連；所述兩個(gè)人工網(wǎng)絡(luò)還分別與所述電源的正極與負(fù)極相連；當(dāng)需要測試所述待測產(chǎn)品對400MHz以上頻率范圍的抗電磁騷擾能力時(shí)，采用TWC法進(jìn)行測試；當(dāng)需要測試所述待測產(chǎn)品對400MHz以下頻率范圍的抗電磁騷擾能力時(shí)，采用替代法進(jìn)行測試。

本發(fā)明提供的新的大電流注入法測試裝置，通過對所述待測產(chǎn)品的抗電磁騷擾能力進(jìn)行判斷，并依據(jù)不同的頻率范圍采用不同的測試方法，對電池管理系統(tǒng)的每個(gè)模塊根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行分別測試，進(jìn)而使得所述電池管理系統(tǒng)的EMC測試能夠順利通過，從而減少了測試時(shí)間和精力。

【附圖說明】

圖1為本發(fā)明提供的大電流注入法測試裝置的示意圖。

【具體實(shí)施方式】

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益技術(shù)效果更加清晰明白，以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，本說明書中描述的具體實(shí)施方式僅僅是為了解釋本發(fā)明，并不是為了限定本發(fā)明。

請參閱圖1，其為本發(fā)明提供的大電流注入法測試裝置100的示意圖。所述大電流注入法測試裝置100設(shè)置于屏蔽室200中。進(jìn)一步地，所述屏蔽室200內(nèi)設(shè)置有試驗(yàn)臺(tái)210，所述大電流注入法測試裝置100設(shè)置于所述試驗(yàn)臺(tái)210上?？梢岳斫?，在其他實(shí)施方式中，所述屏蔽室200還可以用暗室替代。

所述大電流注入法測試裝置100包括絕緣板10、注入鉗20、兩個(gè)人工網(wǎng)絡(luò)30、負(fù)載40、待測產(chǎn)品(DUT)50、RF信號(hào)發(fā)生器60以及電源70。具體地，所述絕緣板10設(shè)置于所述試驗(yàn)臺(tái)210上。所述注入鉗20設(shè)置于所述絕緣板10上。所述注入鉗20的一端分別與所述兩個(gè)人工網(wǎng)絡(luò)30以及所述負(fù)載40相連；所述注入鉗20的另一端與所述待測產(chǎn)品50相連；進(jìn)一步地，所述注入鉗20還與所述RF信號(hào)發(fā)生器60相連。所述兩個(gè)人工網(wǎng)絡(luò)30還分別與所述電源70的正極與負(fù)極相連。在本實(shí)施方式中，所述絕緣板10、所述注入鉗20、所述兩個(gè)人工網(wǎng)絡(luò)30、所述負(fù)載40及所述待測產(chǎn)品50均設(shè)置于所述試驗(yàn)臺(tái)210上。

進(jìn)一步地，所述待測產(chǎn)品50與所述試驗(yàn)臺(tái)210下邊沿的距離為190mm～210mm且與所述屏蔽室200上邊沿的側(cè)吸波材料的距離大于1000mm。

進(jìn)一步地，所述負(fù)載40的線束的長度小于2000mm。在本實(shí)施方式中，所述負(fù)載40的線束的長度為1425mm～1575mm。

進(jìn)一步地，所述注入鉗20與所述待測產(chǎn)品50的距離為450mm。

上述大電流注入法測試裝置100通過調(diào)整所述待測產(chǎn)品50與所述試驗(yàn)臺(tái)210下邊沿的距離、所述負(fù)載40的線束的長度以及所述注入鉗20與所述待測產(chǎn)品50的距離，使得所述大電流注入法測試裝置100能夠?qū)﹄姵毓芾硐到y(tǒng)的每個(gè)模塊進(jìn)行測試且無需多次測試即可確保所述電池管理系統(tǒng)的EMC順利通過測試。

進(jìn)一步地，大電流注入法的測試時(shí)間大于0.5小時(shí)，在本實(shí)施方式中，所述大電流注入法的測試時(shí)間的為1小時(shí)。

當(dāng)需要測試所述待測產(chǎn)品50對400MHz以上頻率范圍的抗電磁騷擾能力時(shí)，特別是頻率高達(dá)1GHz以上的范圍，例如，用到3G、GSM、UMTS、ISM等信號(hào)的產(chǎn)品和部件，使用TWC法進(jìn)行測試。在本實(shí)施方式中，所述TWC方法的典型應(yīng)用范圍是：400MHz～3GHz，由于TWC呈電容特性，使其在高頻部分擁有良好的響應(yīng)，TWC注入法是模擬較高頻率射頻信號(hào)耦合到所述待測產(chǎn)品50的線束上。進(jìn)一步地，由于頻率為3GHz的波長為10cm，在實(shí)際測試中，所述TWC測試方法適用于長度小于10cm或者已有完全屏蔽外殼的所述待測產(chǎn)品50。

當(dāng)需要測試所述待測產(chǎn)品50對400MHz以下頻率范圍的抗電磁騷擾能力時(shí)，采用替代法進(jìn)行測試。

本發(fā)明所提供的大電流注入法測試裝置100，通過對所述待測產(chǎn)品50的抗電磁騷擾能力進(jìn)行判斷，并依據(jù)不同的頻率范圍采用不同的測試方法，對電池管理系統(tǒng)的每個(gè)模塊根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行分別測試，進(jìn)而使得所述電池管理系統(tǒng)的EMC測試能夠順利通過，從而減少了測試時(shí)間和精力。

本發(fā)明并不僅僅限于說明書和實(shí)施方式中所描述，因此對于熟悉領(lǐng)域的人員而言可容易地實(shí)現(xiàn)另外的優(yōu)點(diǎn)和修改，故在不背離權(quán)利要求及等同范圍所限定的一般概念的精神和范圍的情況下，本發(fā)明并不限于特定的細(xì)節(jié)、代表性的設(shè)備和這里示出與描述的圖示示例。