本發(fā)明涉及電路技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種三相電路檢測(cè)裝置以及方法。

背景技術(shù)：

三相交流電廣泛地應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。三相交流電源，是由三個(gè)頻率相同、振幅相等、相位依次互差120度的交流電勢(shì)組成的電源。由于工作環(huán)境的變化和電路故障等，三相交流電的相位可能發(fā)生改變，例如缺相或逆向，從而對(duì)用電設(shè)備造成損壞。因此，有必要對(duì)三相交流電的相位進(jìn)行檢測(cè)，以確保用電設(shè)備在正常供電狀態(tài)下工作。

現(xiàn)有技術(shù)中，進(jìn)行三相電路檢測(cè)時(shí)需要部署多條走線。如圖1A所示，電源接線板將外部供電柜中的三相電源引入機(jī)組接線處，三相電源包括三條交流電線路L1、L2、L3和一條零線線路N。由于檢測(cè)用的主板需要電源供電，因此，檢測(cè)時(shí)除了接入的三條交流電線路L1、L2、L3和零線N用于檢測(cè)，還需要將三相電源中的零線和一條交流電線路作為供電的零線和火線，例如圖1A中所示，利用L1和N分別作為供電的火線和零線。這種三相電路的檢測(cè)方案，走線過多，浪費(fèi)空間。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的一個(gè)技術(shù)問題是：如何在檢測(cè)三相電路時(shí)減少走線，節(jié)約空間。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供的一種三相電路檢測(cè)裝置，包括：主板，主板上設(shè)置有第一供電端口、第二供電端口、第一檢測(cè)端口、第二檢測(cè)端口和微處理器；第一供電端口連接三相電源的零線；第二供電端口連接三相電源的第一相線路；第一檢測(cè)端口連接三相電源的第二相線路；第二檢測(cè)端口連接三相電源的第三相線路；微處理器，被配置為將第二供電端口接入的第一相線路、第一檢測(cè)端口接入的第二相線路和第二檢測(cè)端口接入的第三相線路作為被檢測(cè)的三相電路的三條線路，并基于第一相線路、第二相線路和第三相線路的相位狀態(tài)判斷三相電路是否異常。

在一個(gè)實(shí)施例中，主板上還設(shè)置有用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電轉(zhuǎn)換的工頻變壓器、弱電相位檢測(cè)器件；工頻變壓器的兩個(gè)輸入端分別連接第一相線路和零線；弱電相位檢測(cè)器件的兩個(gè)輸入端分別連接工頻變壓器的兩個(gè)輸出端，弱電相位檢測(cè)器件的輸出端連接微處理器的第一輸入端。

在一個(gè)實(shí)施例中，主板上還設(shè)置有用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電隔離的第一光耦和用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電隔離的第二光耦；第一光耦的兩個(gè)輸入端分別連接第二相線路和零線，第一光耦的第一輸出端連接微處理器的第二輸入端，第一光耦的第二輸出端接地；第二光耦的兩個(gè)輸入端分別連接第三相線路和零線，第二光耦的第一輸出端連接微處理器的第三輸入端，第二光耦的第二輸出端接地。

在一個(gè)實(shí)施例中，微處理器，被配置為在弱電相位檢測(cè)器件的輸出端輸出的信號(hào)的上升沿領(lǐng)先第一光耦的第一輸出端輸出的信號(hào)的上升沿為信號(hào)周期的1/3，且第一光耦的第一輸出端輸出的信號(hào)的上升沿領(lǐng)先第二光耦的第一輸出端輸出的信號(hào)的上升沿為信號(hào)周期的1/3的情況下，判斷三相電路正常，否則，判斷三相電路中出現(xiàn)電路逆向的情況。

在一個(gè)實(shí)施例中，微處理器，被配置為在第一光耦的第一輸出端沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第二相線路缺相；或者，微處理器，被配置為在第二光耦的第一輸出端沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第三相線路缺相；或者，在主板不工作的情況下，則第一相線路缺相。

在一個(gè)實(shí)施例中，弱電相位檢測(cè)器件為由三極管、二極管和電阻組成的半導(dǎo)體網(wǎng)絡(luò)。

在一個(gè)實(shí)施例中，主板上還設(shè)置有第一二極管和第二二極管；第一二極管跨接在第一光耦的兩個(gè)輸入端之間；第二二極管跨接在第二光耦的兩個(gè)輸入端之間。

根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供的一種三相電路檢測(cè)方法，包括：通過主板上的第一供電端口接入三相電源的零線，通過主板上的第二供電端口接入三相電源的第一相線路，通過主板上的第一檢測(cè)端口接入三相電源的第二相線路，通過主板上的第二檢測(cè)端口接入三相電源的第三相線路；將第二供電端口接入的第一相線路、第一檢測(cè)端口接入的第二相線路和第二檢測(cè)端口接入的第三相線路作為被檢測(cè)的三相電路的三條線路，并基于第一相線路、第二相線路和第三相線路的相位狀態(tài)判斷三相電路是否異常。

在一個(gè)實(shí)施例中，第一相線路、第二相線路和第三相線路的相位狀態(tài)采用以下方法獲?。喝蹼娤辔粰z測(cè)器件基于輸入的第一相線路經(jīng)過工頻變壓器后的弱電信號(hào)輸出第一檢測(cè)信號(hào)；第一光耦基于輸入的第二相線路的信號(hào)和零線的信號(hào)輸出第二檢測(cè)信號(hào)；第二光耦基于輸入的第三相線路的信號(hào)和零線的信號(hào)輸出第三檢測(cè)信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，基于第一相線路、第二相線路和第三相線路的相位狀態(tài)判斷三相電路是否異常包括：如果第一檢測(cè)信號(hào)的上升沿領(lǐng)先第二檢測(cè)信號(hào)的上升沿為信號(hào)的周期的1/3，且第二檢測(cè)信號(hào)的上升沿領(lǐng)先第三檢測(cè)信號(hào)的上升沿為信號(hào)的周期的1/3，則判斷三相電路正常，否則，判斷三相電路中出現(xiàn)電路逆向的情況。

在一個(gè)實(shí)施例中，基于第一相線路、第二相線路和第三相線路的相位狀態(tài)判斷三相電路是否異常包括：如果第一光耦沒有信號(hào)輸出，則判斷第二相線路缺相；或者，如果第二光耦沒有信號(hào)輸出，則判斷第三相線路缺相；或者，如果主板不工作，則判斷第一相線路缺相。

本發(fā)明中主板的供電端口接入三相電源的其中一條交流電線路和零線，主板的檢測(cè)端口接入三相電源的另外兩條交流電線路，檢測(cè)時(shí)將用于為主板供電的交流電線路作為被檢測(cè)的三相電路中的其中一相電路，將用于為主板供電的零線作為被檢測(cè)的三相電路中的零線，即零線和一條交流電線路在用于供電的同時(shí)還用于檢測(cè)，因此，檢測(cè)端口減少了兩條走線，節(jié)約了空間。

通過以下參照附圖對(duì)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征及其優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得清楚。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1A示出現(xiàn)有技術(shù)中的三相電路檢測(cè)裝置的走線示意圖。

圖1B示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的三相電路檢測(cè)裝置的走線示意圖。

圖2A示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的三相電路檢測(cè)裝置的電路示意圖。

圖2B示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的弱電相位檢測(cè)器件的電路示意圖。

圖3示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的三相電路檢測(cè)方法的流程示意圖。

圖4示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的正常狀態(tài)下三相交流電的波形示意圖。

圖5示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的正常狀態(tài)下檢測(cè)信號(hào)的波形示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。以下對(duì)至少一個(gè)示例性實(shí)施例的描述實(shí)際上僅僅是說明性的，決不作為對(duì)本發(fā)明及其應(yīng)用或使用的任何限制?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中三相電路的檢測(cè)方案，走線過多，浪費(fèi)空間的問題，提出本方案。

下面結(jié)合圖1B描述本發(fā)明的三相電路檢測(cè)裝置。

圖1B為本發(fā)明三相電路檢測(cè)裝置一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)圖。如圖1B所示，該裝置10包括：主板100，主板100上設(shè)置有第一供電端口102、第二供電端口104、第一檢測(cè)端口106、第二檢測(cè)端口108和微處理器110。

第一供電端口102連接三相電源的零線N，第二供電端口104連接三相電源的第一相線路L1，第一檢測(cè)端口106連接三相電源的第二相線路L2，第二檢測(cè)端口108連接三相電源的第三相線路L3。

微處理器110，被配置為將第二供電端口104接入的第一相線路L1、第一檢測(cè)端口106接入的第二相線路L2和第二檢測(cè)端口108接入的第三相線路L3作為被檢測(cè)的三相電路的三條線路，并基于第一相線路L1、第二相線路L2和第三相線路L3的相位狀態(tài)判斷三相電路是否異常。

需要說明的是，本發(fā)明中使用的“第一”、“第二”、“第三”等僅為區(qū)分不同的對(duì)象，而不意味著這些對(duì)象之間具有任何特定的順序關(guān)系。

上述實(shí)施例中主板的供電端口接入三相電源的其中一條交流電線路和零線，主板的檢測(cè)端口接入三相電源的另外兩條交流電線路，檢測(cè)時(shí)將用于為主板供電的交流電線路作為被檢測(cè)的三相電路中的其中一相電路，將用于為主板供電的零線作為被檢測(cè)的三相電路中的零線，即零線和一條交流電線路在用于供電的同時(shí)還用于檢測(cè)，因此，檢測(cè)端口減少了兩條走線，節(jié)約了空間。

為實(shí)現(xiàn)三相電路的檢測(cè)，下面結(jié)合圖2描述本發(fā)明的三相電路檢測(cè)裝置的具體結(jié)構(gòu)。

圖2A為本發(fā)明三相電路檢測(cè)裝置另一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)圖。如圖2A所示，主板100上還設(shè)置有用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電轉(zhuǎn)換的工頻變壓器112、弱電相位檢測(cè)器件114。

工頻變壓器112的兩個(gè)輸入端112A，112B分別連接第一相線路L1和零線N。

其中，工頻變壓器112設(shè)置與第一相線路L1的供電線路上，由于第一相線路L1用于供電，因此，需要經(jīng)過工頻變壓器112實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電的轉(zhuǎn)換。

弱電相位檢測(cè)器件114的兩個(gè)輸入端114A，114B分別連接工頻變壓器112的兩個(gè)輸出端112C，112D，弱電相位檢測(cè)器件114的輸出端114C連接微處理器110的第一輸入端110A。

其中，弱電相位檢測(cè)器件114例如為由三極管、電阻和二極管等通過一定的連接方式組成的半導(dǎo)體網(wǎng)絡(luò)，也可以為光耦，但是三極管、電阻或二極相對(duì)于光耦能夠節(jié)約成本。本領(lǐng)域技術(shù)人員基于上述描述應(yīng)該理解弱電相位檢測(cè)器件114為能夠?qū)崿F(xiàn)開關(guān)功能的器件，當(dāng)輸入端滿足一定條件時(shí)導(dǎo)通，不滿足條件時(shí)截止，實(shí)現(xiàn)正弦波與高低電平的轉(zhuǎn)換。

弱電相位檢測(cè)器件114可以通過多種電路連接方式實(shí)現(xiàn)，下面結(jié)合圖2B描述其中一種實(shí)現(xiàn)方式。如圖2B所示，弱電相位檢測(cè)器件114的兩個(gè)輸入端114A，114B分別連接二極管D1和D2，二極管D1和D2的后級(jí)電路中R1和R3用于分壓，通過R2接地，三極管Q的輸出端即為弱電相位檢測(cè)器件114的輸出端114C。通過三級(jí)管Q的導(dǎo)通和關(guān)斷實(shí)現(xiàn)正弦波與高低電平的轉(zhuǎn)換，進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)交流電過零點(diǎn)的采樣。弱電相位檢測(cè)器件114的兩個(gè)輸入端114A，114B還可以連接整流器進(jìn)行整流后在接入后續(xù)的二極管D1和D2。

上述實(shí)施例中通過在第一相線路作為供電線路的路徑上設(shè)置弱電相位檢測(cè)器件，實(shí)現(xiàn)了第一相線路的相位狀態(tài)的獲取，提出一種新的三相電路檢測(cè)的電路結(jié)構(gòu)，能夠利用供電線路的火線和零線作為被檢測(cè)的三相電路的其中兩條，有效的減少了走線，并且能夠降低PCB(Printed Circuit Board，印制電路板)布局的復(fù)雜度，節(jié)省空間。

在一個(gè)實(shí)施例中，主板100上還設(shè)置有用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電隔離的第一光耦116和用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電隔離的第二光耦118。

第一光耦116的兩個(gè)輸入端116A、116B分別連接第二相線路L2和零線N，第一光耦116的第一輸出端116C連接微處理器110的第二輸入端110B。

其中，第一光耦116的第二輸出端116D接地。

第二光耦118的兩個(gè)輸入端118A、118B分別連接第三相線路L3和零線N，第二光耦118的第一輸出端118C連接微處理器110的第三輸入端110C。

其中，第二光耦118的第二輸出端118D接地。

在實(shí)際應(yīng)用過程中第一光耦、第二光耦的選擇應(yīng)考慮弱電相位檢測(cè)器件的工作參數(shù)，使得根據(jù)三者輸出的信號(hào)能夠檢測(cè)出三相電路是否異常。

上述實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了第二相線路和第三相線路的相位狀態(tài)的獲取。

在一個(gè)實(shí)施例中，如圖2所示，主板100上還設(shè)置有第一二極管120和第二二極管122。

第一二極管120跨接在第一光耦116的兩個(gè)輸入端116A、116B之間；第二二極管122跨接在第二光耦118的兩個(gè)輸入端118A、118B之間。

第一二極管120和第二二極管122分別對(duì)第一光耦116和第二光耦118起保護(hù)作用。

進(jìn)一步的，如圖2所示，主板100上還設(shè)置有第一保護(hù)電阻132和第二保護(hù)電阻134，

第一保護(hù)電阻132跨接在第一二極管120的輸入端和輸出端之間；第二保護(hù)電阻134跨接在第二二極管122的輸入端和輸出端之間。

進(jìn)一步的，如圖2所示，主板100上還設(shè)置有第一采樣電阻142、第二采樣電阻144。

第一光耦116的輸入端116A經(jīng)由第一采樣電阻142連接第二相線路L2；第二光耦118的輸入端118A經(jīng)由第二采樣電阻144連接第三相線路L3。

進(jìn)一步的，如圖2所示，主板100上還設(shè)置有第一上拉電阻152、第二上拉電阻154、第三上拉電阻156。

弱電相位檢測(cè)器件114的輸出端114C經(jīng)由第一上拉電阻器152連接到工作電壓；第一光耦116的第一輸出端116C經(jīng)由第二上拉電阻器154連接到工作電壓，第二光耦118的第一輸出端118C經(jīng)由第三上拉電阻器156連接到工作電壓。工作電壓例如為+5V。

在一個(gè)實(shí)施例中，為實(shí)現(xiàn)三相電路的逆向檢測(cè)，微處理器110，被配置為在弱電相位檢測(cè)器件114的輸出端114C輸出的信號(hào)的上升沿領(lǐng)先第一光耦116的第一輸出端116C輸出的信號(hào)的上升沿為信號(hào)周期的1/3，且第一光耦116的第一輸出端116C輸出的信號(hào)的上升沿領(lǐng)先第二光耦118的第一輸出端118C輸出的信號(hào)的上升沿為信號(hào)周期的1/3的情況下，判斷三相電路正常，否則，判斷三相電路中出現(xiàn)電路逆向的情況，即三條線路中某些線路的順序接錯(cuò)。

在一個(gè)實(shí)施例中，為實(shí)現(xiàn)三相電路的缺相檢測(cè)，微處理器110，被配置為在第一光耦116的第一輸出端116C沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第二相線路缺相；或者，微處理器110，被配置為在第二光耦118的第一輸出端118C沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第三相線路缺相，或者，在主板100不工作的情況下，則第一相線路缺相。主板100上可以設(shè)置報(bào)警裝置，微處理器110在判斷三相電路出現(xiàn)異常時(shí)，向報(bào)警裝置發(fā)出信息，報(bào)警裝置發(fā)出報(bào)警，可以針對(duì)三相電路的逆向和缺相情況分別設(shè)置不同的報(bào)警方式。

下面結(jié)合圖2至圖4描述本發(fā)明檢測(cè)三相電路是否異常的工作過程。

圖3為本發(fā)明三相電路檢測(cè)方法一個(gè)實(shí)施例的流程圖。如圖3所示，該實(shí)施例的方法包括：

步驟S302，通過主板100上的第一供電端口102接入三相電源的零線N，通過主板110上的第二供電端口104接入三相電源的第一相線路L1，通過主板100上的第一檢測(cè)端口106接入三相電源的第二相線路L2，通過主板100上的第二檢測(cè)端口108接入三相電源的第三相線路L3。

步驟S304，將第二供電端104口接入的第一相線路L1、第一檢測(cè)端口106接入的第二相線路L2和第二檢測(cè)端口108接入的第三相線路L3作為被檢測(cè)的三相電路的三條線路，并基于第一相線路L1、第二相線路L2和第三相線路L3的相位狀態(tài)判斷三相電路是否異常。

其中，第一相線路L1、第二相線路L2和第三相線路L3的相位狀態(tài)采用以下方法獲?。?/p>

弱電相位檢測(cè)器件114基于輸入的第一相線路L1經(jīng)過工頻變壓器112后的弱電信號(hào)輸出第一檢測(cè)信號(hào)S1；第一光耦116基于輸入的第二相線路L2的信號(hào)和零線N的信號(hào)輸出第二檢測(cè)信號(hào)S2；第二光耦118基于輸入的第三相線路L3的信號(hào)和零線N的信號(hào)輸出第三檢測(cè)信號(hào)S3。

下面結(jié)合圖4和圖5描述本發(fā)明三相電路檢測(cè)的原理。

圖4為正常狀態(tài)下的三相交流電的波形圖。如圖4所示，正常狀態(tài)下第一相線路L1、第二相線路L2和第三相線路L3分別是相位差120度的正弦波。

圖5為正常狀態(tài)下弱電相位檢測(cè)器件114輸出的第一檢測(cè)信號(hào)S1、第一光耦116的第一輸出端116C輸出的第二檢測(cè)信號(hào)S2和第二光耦118的第一輸出端118C輸出的第三檢測(cè)信號(hào)S3的波形圖。圖5所示，正常狀態(tài)下第一檢測(cè)信號(hào)S1、第二檢測(cè)信號(hào)S2和第三檢測(cè)信號(hào)S3為周期相同的信號(hào)，第一檢測(cè)信號(hào)S1的上升沿領(lǐng)先第二檢測(cè)信號(hào)S2為信號(hào)的周期的1/3，且第二檢測(cè)信號(hào)S2的上升沿領(lǐng)先第三檢測(cè)信號(hào)S3為信號(hào)周期的1/3，因此，通過判斷三個(gè)檢測(cè)信號(hào)的過零點(diǎn)的邏輯關(guān)系即可判斷三相電路是否異常。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以想到除了比對(duì)三個(gè)檢測(cè)信號(hào)上升沿的時(shí)刻也可以比較三個(gè)檢測(cè)信號(hào)下降沿的時(shí)刻等等。

三相電路的逆向檢測(cè)過程如下：

具體的，在第一檢測(cè)信號(hào)S1的上升沿領(lǐng)先第二檢測(cè)信號(hào)S2的上升沿為信號(hào)周期的1/3，且第二檢測(cè)信號(hào)S2的上升沿領(lǐng)先第三檢測(cè)信號(hào)S3的上升沿為信號(hào)周期的1/3的情況下，判斷三相電路正常，否則，判斷三相電路中出現(xiàn)電路逆向的情況。進(jìn)一步的，當(dāng)?shù)谝粰z測(cè)信號(hào)S1的上升沿領(lǐng)先第二檢測(cè)信號(hào)S2的上升沿為信號(hào)周期的2/3和/或第二檢測(cè)信號(hào)S2的上升沿領(lǐng)先第三檢測(cè)信號(hào)S3的上升沿為信號(hào)周期的2/3時(shí)，判斷三相電路出現(xiàn)逆向的情況。例如，第一相線路L1、第二相線路L2和第三相線路L3為50Hz交流電，則周期為20ms，1/3的周期約為6.67ms，微處理器110上電后檢測(cè)到第一檢測(cè)信號(hào)S1的上升沿時(shí)間T1，第二檢測(cè)信號(hào)S2的上升沿時(shí)間T2和第三檢測(cè)信號(hào)S3的上升沿時(shí)間T3，如果T2-T1＝6.67ms，且T3-T2＝6.67ms，則三相電路正常，如果T2-T1＝13.33ms，且T3-T2＝13.33ms，則三相電路出現(xiàn)逆向情況。

三相電路的缺相檢測(cè)過程如下：

在第一光耦116的第一輸出端116C沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第二相線路L2缺相；或者，在第二光耦118的輸出端118C沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第三相線路L3缺相；或者，在主板100不工作的情況下，則第一相線路L1缺相。如果第一相線路L1缺相則主板無法獲得供電，則主板不工作。

三相電路的缺相和逆向可以同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)。

上述實(shí)施例的方法，通過在第一相線路作為供電線路的路徑上設(shè)置弱電相位檢測(cè)器件，實(shí)現(xiàn)了第一相線路的相位狀態(tài)的獲取，利用光耦獲取第二相線路和第三相線路的相位狀態(tài)，提出一種新的三相電路檢測(cè)的電路結(jié)構(gòu)，能夠利用供電線路的火線和零線作為被檢測(cè)的三相電路的其中兩條，有效的減少了走線，并且能夠降低PCB布局的復(fù)雜度，節(jié)省空間。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過硬件來完成，也可以通過程序來指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器，磁盤或光盤等。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。