本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域及信號(hào)測(cè)量領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測(cè)過孔損耗的方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著信號(hào)速率的提高，信號(hào)完整性在信號(hào)有效傳輸中所占的位置越來越重要。影響信號(hào)完整性的信號(hào)的因素很多，需要在每個(gè)因素上盡量做到最優(yōu)，為系統(tǒng)設(shè)計(jì)留出更多的余量；一般在高速信號(hào)鏈路中有幾個(gè)影響信號(hào)傳輸?shù)年P(guān)鍵因素：過孔損耗，過孔殘端長(zhǎng)度，阻抗匹配度，串?dāng)_及材料損耗等，而鏈路傳輸中難以避免的過孔問題，需要給出正確的余量評(píng)估；但過孔尺寸很小，不同于傳輸線，連接器等，想得到過孔的損耗通過測(cè)量方法是比較難的，過孔損耗是設(shè)計(jì)經(jīng)常遇到的問題，芯片間互連，打孔換層連接是難以避免的，過孔一定程度上導(dǎo)致阻抗失配，損耗增加等問題的產(chǎn)生，信號(hào)速率越高表現(xiàn)的越為明顯，尤其對(duì)于未來28G NRZ和56G PAM4信號(hào)。

在PCB板中的過孔設(shè)計(jì)，嚴(yán)格控制傳輸線的過孔損耗，使信號(hào)保持高度的完整性如何精確，一定要精確地計(jì)算出PCB板的過孔損耗，以便在設(shè)計(jì)時(shí)選擇合理的孔徑尺寸；因此，如何能夠精確，且簡(jiǎn)便的計(jì)算出傳輸線在任意頻率下的過孔損耗是目前亟待解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明針對(duì)目前需求以及現(xiàn)有技術(shù)發(fā)展的不足之處，提供一種檢測(cè)過孔損耗的方法及系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)在任意頻率下對(duì)傳輸線的過孔損耗的快速計(jì)算，評(píng)估全通道頻域上的過孔損耗是否滿足標(biāo)準(zhǔn)，極大的提升了過孔損耗檢測(cè)的精確性及評(píng)估效率。

為了便于理解，對(duì)本發(fā)明中出現(xiàn)的部分名詞作以下解釋說明：

過孔：也稱金屬化孔，在雙面板和多層板中，為連通各層之間的印制導(dǎo)線，在各層需要連通的導(dǎo)線的交匯處鉆上一個(gè)公共孔，即為過孔。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下的技術(shù)方案：

本發(fā)明提供了一種檢測(cè)過孔損耗的方法，包括以下步驟：

確定被測(cè)傳輸線的型號(hào)參數(shù)、過孔數(shù)目、長(zhǎng)度數(shù)值及測(cè)試頻率值；

根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述測(cè)試頻率值，獲取所述被測(cè)傳輸線在所述測(cè)試頻率值下的損耗值；

根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述損耗值，計(jì)算得到所述被測(cè)傳輸線在測(cè)試頻率值下的過孔損耗值。

優(yōu)選地，所述的確定被測(cè)傳輸線的型號(hào)參數(shù)、過孔數(shù)目、長(zhǎng)度數(shù)值及測(cè)試頻率值，包括：確定至少三條線寬相同、特性阻抗值相同及測(cè)試頻率值為F的被測(cè)傳輸線，每條被測(cè)傳輸線過孔兩次，任意兩條被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值不同。

優(yōu)選地，所述的確定被測(cè)傳輸線的型號(hào)參數(shù)、過孔數(shù)目、長(zhǎng)度數(shù)值及測(cè)試頻率值，包括：確定三條線寬相同、特性阻抗值相同及測(cè)試頻率值為F的被測(cè)傳輸線，每條被測(cè)傳輸線過孔兩次，任意兩條被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值不同。

優(yōu)選地，所述的根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述測(cè)試頻率值，獲取所述被測(cè)傳輸線在所述測(cè)試頻率值下的損耗值，包括：

在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)1的第一傳輸線的損耗S1；

在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)2的第二傳輸線的損耗S2；

在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)3的第三傳輸線的損耗S3。

優(yōu)選地，所述的測(cè)試頻率值下的損耗值包括每條傳輸線的凈損耗和兩個(gè)過孔損耗。

優(yōu)選地，所述的根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述損耗值，計(jì)算得到所述被測(cè)傳輸線在測(cè)試頻率值下的過孔損耗值，包括：

建立一個(gè)以被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為X軸、測(cè)得的損耗值為Y軸的坐標(biāo)系，將（L1，S1）、（L2，S2）和（L3，S3）三個(gè)點(diǎn)描繪在坐標(biāo)系中；

通過坐標(biāo)系中上述的三個(gè)點(diǎn)擬合出一條直線，并得出其對(duì)應(yīng)的一元線性回歸方程；

令所述直線與Y軸相交，得到一個(gè)相交點(diǎn)（0，S0），即被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為0時(shí)的損耗值為S0；

將S0除以2得到一個(gè)過孔損耗值S0′。

優(yōu)選地，所述的S0等于兩個(gè)過孔損耗值。

本發(fā)明還提供了一種檢測(cè)過孔損耗的系統(tǒng)，包括：

確定模塊，用于確定被測(cè)傳輸線的型號(hào)參數(shù)、過孔數(shù)目、長(zhǎng)度數(shù)值及測(cè)試頻率值；

獲取模塊，用于根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述測(cè)試頻率值，獲取所述被測(cè)傳輸線在所述測(cè)試頻率值下的損耗值；

計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述損耗值，計(jì)算得到所述被測(cè)傳輸線在測(cè)試頻率值下的過孔損耗值。

優(yōu)選地，所述的獲取模塊包括：

第一獲取模塊，用于在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)1的第一傳輸線的損耗S1；

第二獲取模塊，用于在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)2的第二傳輸線的損耗S2；

第三獲取模塊，用于在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)3的第三傳輸線的損耗S3。

優(yōu)選地，所述的計(jì)算模塊包括：

建立模塊，用于建立一個(gè)以被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為X軸、測(cè)得的損耗值為Y軸的坐標(biāo)系，將（L1，S1）、（L2，S2）和（L3，S3）三個(gè)點(diǎn)描繪在坐標(biāo)系中；

擬合模塊，用于通過坐標(biāo)系中上述的三個(gè)點(diǎn)擬合出一條直線，并得出其對(duì)應(yīng)的一元線性回歸方程；

取值模塊，用于令所述直線與Y軸相交，得到一個(gè)相交點(diǎn)（0，S0），即被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為0時(shí)的損耗值為S0；

除法模塊，用于將S0除以2得到一個(gè)過孔損耗值S0′。

本發(fā)明的有益效果如下：

本發(fā)明測(cè)量現(xiàn)有不同長(zhǎng)度數(shù)值的兩端過孔的傳輸線，通過對(duì)傳輸線兩端使用檢測(cè)探針進(jìn)行檢測(cè)，可以得出傳輸線的凈損耗與兩端過孔的損耗；對(duì)于測(cè)得同一頻率下不同長(zhǎng)度數(shù)值得出損耗值，在同一坐標(biāo)系下進(jìn)行擬合，得到一條線性直線，根據(jù)該直線可以得到任意長(zhǎng)度的傳輸線的損耗，進(jìn)而得出過孔損耗；利用此方法可以得出任意頻率下的過孔損耗值，評(píng)估過孔損耗值是否滿足標(biāo)準(zhǔn)，為PCB的過孔設(shè)計(jì)提供有利依據(jù)；同時(shí)為了避免過孔損耗的差異性，可以進(jìn)行大量的檢測(cè)，得出更加精確的擬合直線；此檢測(cè)方法簡(jiǎn)便易操作且具有全局代表性。

附圖說明

圖1 為本發(fā)明一種檢測(cè)過孔損耗的方法的流程示意圖之一。

圖2 為本發(fā)明一種檢測(cè)過孔損耗的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖之一。

圖3 為本發(fā)明一種檢測(cè)過孔損耗的方法的流程示意圖之二。

圖4為本發(fā)明一種檢測(cè)過孔損耗的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖之二。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述：

實(shí)施例一：如圖1所示，本發(fā)明的一種檢測(cè)過孔損耗的方法，包括以下步驟：

步驟S101：確定被測(cè)傳輸線的型號(hào)參數(shù)、過孔數(shù)目、長(zhǎng)度數(shù)值及測(cè)試頻率值；

步驟S102：根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述測(cè)試頻率值，獲取所述被測(cè)傳輸線在所述測(cè)試頻率值下的損耗值；

步驟S103：根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述損耗值，計(jì)算得到所述被測(cè)傳輸線在測(cè)試頻率值下的過孔損耗值。

實(shí)施例二：如圖2所示，本發(fā)明的一種檢測(cè)過孔損耗的系統(tǒng)，包括：

確定模塊201、獲取模塊202和計(jì)算模塊203；確定模塊201依次連接獲取模塊202和計(jì)算模塊203。

確定模塊201，用于確定被測(cè)傳輸線的型號(hào)參數(shù)、過孔數(shù)目、長(zhǎng)度數(shù)值及測(cè)試頻率值；獲取模塊202，用于根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述測(cè)試頻率值，獲取所述被測(cè)傳輸線在所述測(cè)試頻率值下的損耗值；計(jì)算模塊203，用于根據(jù)所述長(zhǎng)度數(shù)值及所述損耗值，計(jì)算得到所述被測(cè)傳輸線在測(cè)試頻率值下的過孔損耗值。

實(shí)施例三：如圖3所示，本發(fā)明的另一種檢測(cè)過孔損耗的方法，包括：

步驟S301：確定三條線寬相同、特性阻抗值相同及測(cè)試頻率值為F的被測(cè)傳輸線，每條被測(cè)傳輸線過孔兩次，任意兩條被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值不同；

步驟S302：在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)1的第一傳輸線的損耗S1，S1等于第一傳輸線的凈損耗和兩個(gè)過孔損耗；

步驟S303：在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)2的第二傳輸線的損耗S2，S2等于第二傳輸線的凈損耗和兩個(gè)過孔損耗；

步驟S304：在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)3的第三傳輸線的損耗S3，S3等于第三傳輸線的凈損耗和兩個(gè)過孔損耗；

步驟S305：建立一個(gè)以被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為X軸、測(cè)得的損耗值為Y軸的坐標(biāo)系，將（L1，S1）、（L2，S2）和（L3，S3）三個(gè)點(diǎn)描繪在坐標(biāo)系中；

步驟S306：通過坐標(biāo)系中的點(diǎn)擬合出一條直線，并得出其對(duì)應(yīng)的一元線性回歸方程；

步驟S307：令所述直線與Y軸相交，得到一個(gè)相交點(diǎn)（0，S0），即被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為0時(shí)的損耗值為S0，S0等于兩個(gè)過孔損耗值；

步驟S308：將S0除以2得到一個(gè)過孔損耗值S0′。

作為一種可實(shí)施的方式，本實(shí)施例的步驟S301中，被測(cè)傳輸線的線寬為5mil，特性阻抗值為50歐姆。

作為一種可實(shí)施的方式，本實(shí)施例的步驟S302中，測(cè)試頻率值F=1GHz，第一傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值L1=4inch。

作為一種可實(shí)施的方式，本實(shí)施例的步驟S303中，測(cè)試頻率值F=1GHz，第二傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值L2=8inch。

作為一種可實(shí)施的方式，本實(shí)施例的步驟S304中，測(cè)試頻率值F=1GHz，第三傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值L3=12inch。

作為一種可實(shí)施的方式，本實(shí)施例的步驟S306中，一元線性回歸方程為Y=-0.0033X-0.0679。

作為一種可實(shí)施的方式，本實(shí)施例的步驟S307中，被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為0時(shí)的損耗值為S0，S0=-0.13dB。

作為一種可實(shí)施的方式，本實(shí)施例的步驟S308中，一個(gè)過孔損耗值S0′，S0′=-0.065 dB。

實(shí)施例四：如圖4所示，本發(fā)明的另一種檢測(cè)過孔損耗的系統(tǒng)，包括：

確定模塊401，獲取模塊中的第一獲取模塊402、第二獲取模塊403及第三獲取模塊404，計(jì)算模塊中的建立模塊405、擬合模塊406、取值模塊407及除法模塊408；確定模塊401依次連接獲取模塊中的第一獲取模塊402、獲取模塊中的第二獲取模塊403、獲取模塊中的第三獲取模塊404、計(jì)算模塊中的建立模塊405、計(jì)算模塊中的擬合模塊406、計(jì)算模塊中的取值模塊407和計(jì)算模塊中的除法模塊408。

確定模塊401，用于確定三條線寬相同、特性阻抗值相同及測(cè)試頻率值為F的被測(cè)傳輸線，每條被測(cè)傳輸線過孔兩次，任意兩條被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值不同；獲取模塊中的第一獲取模塊402，用于在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)1的第一傳輸線的損耗S1；第二獲取模塊403，用于在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)2的第二傳輸線的損耗S2；第三獲取模塊404，用于在任一測(cè)試頻率值F下，通過檢測(cè)獲取長(zhǎng)度數(shù)值為L(zhǎng)3的第三傳輸線的損耗S3；計(jì)算模塊中的建立模塊405，用于建立一個(gè)以被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為X軸、測(cè)得的損耗值為Y軸的坐標(biāo)系，將（L1，S1）、（L2，S2）和（L3，S3）三個(gè)點(diǎn)描繪在坐標(biāo)系中；擬合模塊406，用于通過坐標(biāo)系中上述的三個(gè)點(diǎn)擬合出一條直線，并得出其對(duì)應(yīng)的一元線性回歸方程；取值模塊407，用于令所述直線與Y軸相交，得到一個(gè)相交點(diǎn)（0，S0），即被測(cè)傳輸線的長(zhǎng)度數(shù)值為0時(shí)的損耗值為S0，S0等于兩個(gè)過孔損耗值；除法模塊408，用于將S0除以2得到一個(gè)過孔損耗值S0′。

以上所示僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。