本發(fā)明涉及阻抗測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種阻抗測(cè)試方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

pcb(printedcircuitboard)，中文名稱為印制電路板，又稱印刷線路板，是重要的電子部件，是電子元器件的支撐體，是電子元器件電氣連接的載體。由于它是采用電子印刷術(shù)制作的，故被稱為“印刷”電路板。。

為了檢測(cè)pcb加工質(zhì)量的好壞，需要對(duì)pcb進(jìn)行阻抗測(cè)試，獲取阻抗測(cè)試過(guò)程中的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，通過(guò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)及波形的分析，判定pcb加工質(zhì)量的好壞?，F(xiàn)有的獲取各個(gè)pcb測(cè)試數(shù)據(jù)及波形的方式，一般采用人工采集的方式，由于需要測(cè)試的pcb的數(shù)量較多，每一個(gè)pcb上又設(shè)置有多條不同層的走線，造成測(cè)試數(shù)據(jù)及波形的提取工作量很大，降低了對(duì)pcb阻抗測(cè)試的效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種阻抗測(cè)試方法，能夠快速的提取阻抗測(cè)試過(guò)程中，各個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，提升了pcb的阻抗測(cè)試效率。

本發(fā)明還提供一種阻抗測(cè)試系統(tǒng)，用以保證上述方法在實(shí)際中的實(shí)現(xiàn)及應(yīng)用。

一種阻抗測(cè)試方法，包括：

為需要進(jìn)行測(cè)試的每一個(gè)印制電路板pcb分配與其對(duì)應(yīng)的編號(hào)；

依據(jù)每一個(gè)所述pcb的編號(hào)，設(shè)定該pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；

按預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，獲取每一個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，并依據(jù)所述獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試。

上述的方法，優(yōu)選的，還包括：

按預(yù)設(shè)定的存儲(chǔ)格式，將每一個(gè)pcb對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，存儲(chǔ)到與該pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的文件夾中。

上述的方法，優(yōu)選的，所述依據(jù)每一個(gè)所述pcb的編號(hào)，設(shè)定該pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系包括：

為所述測(cè)試設(shè)備分配多個(gè)測(cè)試指令，所述多個(gè)測(cè)試指令的數(shù)量與需要測(cè)試的pcb的總量相同；

建立每一個(gè)測(cè)試指令與每一個(gè)pcb編號(hào)的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。

上述的方法，優(yōu)選的，所述按預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，獲取每一個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形包括：

依據(jù)所述預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，從所述多個(gè)pcb的初始編號(hào)開(kāi)始，按各個(gè)pcb的編號(hào)順序依次進(jìn)行測(cè)試；

對(duì)于任意一個(gè)pcb，當(dāng)所述測(cè)試設(shè)備，對(duì)所述pcb中的各個(gè)走線，按每一個(gè)走線的編碼順序全部測(cè)試完成后，對(duì)當(dāng)前完成測(cè)試的所述pcb的下一編號(hào)的pcb進(jìn)行測(cè)試，直至完成對(duì)所有pcb的測(cè)試。

上述的方法，優(yōu)選的，所述依據(jù)獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試包括：

按預(yù)設(shè)的生成方法，生成與所述pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)路徑；

將獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，從所述數(shù)據(jù)路徑中導(dǎo)出，生成相應(yīng)格式的數(shù)據(jù)表格；

對(duì)所述數(shù)據(jù)表格進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試。

一種阻抗測(cè)試系統(tǒng)，包括：

分配單元，用于為需要進(jìn)行測(cè)試的每一個(gè)印制電路板pcb分配與其對(duì)應(yīng)的編號(hào)；

設(shè)定單元，用于依據(jù)每一個(gè)所述pcb的編號(hào)，設(shè)定該pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；

測(cè)試單元，用于按預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，獲取每一個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，并依據(jù)所述獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試。

上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，還包括：

存儲(chǔ)單元，用于按預(yù)設(shè)定的存儲(chǔ)格式，將每一個(gè)pcb對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，存儲(chǔ)到與該pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的文件夾中。

上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述設(shè)定單元包括：

分配子單元，用于為所述測(cè)試設(shè)備分配多個(gè)測(cè)試指令，所述多個(gè)測(cè)試指令的數(shù)量與需要測(cè)試的pcb的總量相同；

建立子單元，用于建立每一個(gè)測(cè)試指令與每一個(gè)pcb編號(hào)的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。

上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述測(cè)試單元包括：

控制子單元，用于依據(jù)所述預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，從所述多個(gè)pcb的初始編號(hào)開(kāi)始，按各個(gè)pcb的編號(hào)順序依次進(jìn)行測(cè)試。

上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述測(cè)試單元包括：

生成子單元，用于按預(yù)設(shè)的生成方法，生成與所述pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)路徑。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明包括以下優(yōu)點(diǎn)：

本發(fā)明提供了一種阻抗測(cè)試方法，包括：為需要進(jìn)行測(cè)試的每一個(gè)印

制電路板pcb分配與其對(duì)應(yīng)的編號(hào)；依據(jù)每一個(gè)所述pcb的編號(hào)，設(shè)定該pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；按預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，獲取每一個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，并依據(jù)所述獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試。本發(fā)明提供的阻抗測(cè)試方法，為每一個(gè)pcb設(shè)定對(duì)應(yīng)的編號(hào)，然后依據(jù)每一個(gè)pcb的編號(hào)，建立每一pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，使得測(cè)試設(shè)備按這種對(duì)應(yīng)關(guān)系，逐一的對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，并在測(cè)試完成后獲取測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù)及波形，本發(fā)明中通過(guò)指令觸發(fā)測(cè)試設(shè)備自動(dòng)獲取各個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形的過(guò)程，實(shí)現(xiàn)了阻抗測(cè)試的自動(dòng)化，節(jié)約了數(shù)據(jù)讀取的時(shí)間，提升了阻抗測(cè)試的效率。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明提供的一種阻抗測(cè)試方法的方法流程圖；

圖2為本發(fā)明提供的一種阻抗測(cè)試方法的又一方法流程圖；

圖3為本發(fā)明提供的一種阻抗測(cè)試方法的又一方法流程圖；

圖4為本發(fā)明提供的一種阻抗測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明提供的一種阻抗測(cè)試系統(tǒng)的又一結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明可用于眾多通用或?qū)Ｓ玫挠?jì)算裝置環(huán)境或配置中。例如：個(gè)人計(jì)算機(jī)、服務(wù)器計(jì)算機(jī)、手持設(shè)備或便攜式設(shè)備、平板型設(shè)備、多處理器裝置、包括以上任何裝置或設(shè)備的分布式計(jì)算環(huán)境等等。

本發(fā)明提供了一種阻抗測(cè)試方法，該方法的執(zhí)行主體可以是一種處理器，所述方法的具體流程圖如圖1所示，包括步驟：

s101：為需要進(jìn)行測(cè)試的每一個(gè)印制電路板pcb分配與其對(duì)應(yīng)的編號(hào)；

本發(fā)明提供的阻抗測(cè)試方法中，為需要進(jìn)行測(cè)試的每一個(gè)pcb分配相應(yīng)的編號(hào)，所述編號(hào)順次相鄰分配。

s102：依據(jù)每一個(gè)所述pcb的編號(hào)，設(shè)定該pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；

本發(fā)明實(shí)施例中，根據(jù)為每一個(gè)pcb分配的編號(hào)，建立每一個(gè)pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，使測(cè)試設(shè)備能夠根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，順次的識(shí)別每一個(gè)pcb。

s103：按預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，獲取每一個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，并依據(jù)所述獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例中，為所述測(cè)試設(shè)備設(shè)定了相對(duì)應(yīng)的啟動(dòng)指令，可以依據(jù)所述啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備啟動(dòng)，并使所述測(cè)試設(shè)備依據(jù)其與每一個(gè)pcb的對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，每測(cè)試完一個(gè)pcb，獲取對(duì)該pcb測(cè)試過(guò)程的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，最終依據(jù)獲取的各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，完成對(duì)每一個(gè)pcb的阻抗測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例提供的阻抗測(cè)試方法，為每一個(gè)pcb設(shè)定對(duì)應(yīng)的編號(hào)，然后依據(jù)每一個(gè)pcb的編號(hào)，建立每一pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，使得測(cè)試設(shè)備按這種對(duì)應(yīng)關(guān)系，逐一的對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，并在測(cè)試完成后獲取測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù)及波形，本發(fā)明中通過(guò)指令觸發(fā)測(cè)試設(shè)備自動(dòng)獲取各個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形的過(guò)程，實(shí)現(xiàn)了阻抗測(cè)試的自動(dòng)化，節(jié)約了數(shù)據(jù)讀取的時(shí)間，提升了阻抗測(cè)試的效率。

本發(fā)明實(shí)施例提供的阻抗測(cè)試方法中，將阻抗測(cè)試和數(shù)據(jù)分析通過(guò)編程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化可以將一些重復(fù)操作設(shè)計(jì)為一鍵操作。自動(dòng)化設(shè)計(jì)目的是要簡(jiǎn)化測(cè)試流程，將儀器操作、抓取波形，提取數(shù)據(jù)設(shè)計(jì)為一鍵操作，最后再將測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)導(dǎo)入到excel表格，工程師只需將探頭點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)，一鍵實(shí)現(xiàn)存取波形和保存數(shù)據(jù)，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)導(dǎo)入excel表格進(jìn)行后續(xù)分析，從而大大減輕工程師的工作量，而且不容易出錯(cuò)。該設(shè)計(jì)方案通過(guò)labview編程來(lái)實(shí)現(xiàn)。

在圖1的基礎(chǔ)上，本發(fā)明實(shí)施例還提供了所述阻抗測(cè)試方法的又一詳細(xì)流程圖，其中步驟s101～s103與圖1所述相同，不再贅述，還包括：

s104：按預(yù)設(shè)定的存儲(chǔ)格式，將每一個(gè)pcb對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，存儲(chǔ)到與該pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的文件夾中。

本發(fā)明實(shí)施例中，對(duì)于獲取的每一個(gè)pcb在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，將其自動(dòng)存儲(chǔ)到與該pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的文件夾中。

本發(fā)明實(shí)施例提供的阻抗測(cè)試方法中，為所述測(cè)試設(shè)備分配多個(gè)測(cè)試指令，所述多個(gè)測(cè)試指令的數(shù)量與需要測(cè)試的pcb的總量相同；

建立每一個(gè)測(cè)試指令與每一個(gè)pcb編號(hào)的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。

本發(fā)明實(shí)施例中，所述按預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，獲取每一個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形包括：

依據(jù)所述預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，從所述多個(gè)pcb的初始編號(hào)開(kāi)始，按各個(gè)pcb的編號(hào)順序依次進(jìn)行測(cè)試；

對(duì)于任意一個(gè)pcb，當(dāng)所述測(cè)試設(shè)備，對(duì)所述pcb中的各個(gè)走線，按每一個(gè)走線的編碼順序全部測(cè)試完成后，對(duì)當(dāng)前完成測(cè)試的所述pcb的下一編號(hào)的pcb進(jìn)行測(cè)試，直至完成對(duì)所有pcb的測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例中，不僅僅對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行編號(hào)，同時(shí)還對(duì)每一個(gè)pcb上不同層的走線，設(shè)定了順序的編碼，測(cè)試設(shè)備對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中，逐一的對(duì)每一個(gè)pcb上的每一個(gè)走線按順序進(jìn)行測(cè)試，當(dāng)前進(jìn)行測(cè)試的pcb上的所有走線全部測(cè)試完成后，進(jìn)入下一個(gè)編號(hào)的pcb的測(cè)試，本發(fā)明中所涉及的編號(hào)，編碼都是順序設(shè)定。

參考圖3，所述依據(jù)獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試包括步驟：

s201：按預(yù)設(shè)的生成方法，生成與所述pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)路徑；

s202：將獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，從所述數(shù)據(jù)路徑中導(dǎo)出，生成相應(yīng)格式的數(shù)據(jù)表格；

s203：對(duì)所述數(shù)據(jù)表格進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例提供的方法中，為獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，設(shè)定對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)路徑，客戶端可以通過(guò)所述數(shù)據(jù)路徑讀取已經(jīng)存儲(chǔ)好的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行阻抗測(cè)試。

本發(fā)明提供的阻抗測(cè)試方法的具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程中，可以在顯示界面上設(shè)定程序面板，分test和cfg兩個(gè)頁(yè)面：

test頁(yè)可以調(diào)節(jié)框體透明度，pcbcnt代表要測(cè)試的pcb總數(shù)，pcbnum代表當(dāng)前測(cè)試的pcb編號(hào)(目前只支持?jǐn)?shù)字編號(hào))，testpoint代表trace編號(hào)，tpcount代表trace總數(shù)，鍵盤(pán)z鍵控制儀器run/stop,空格鍵控制儀器保存當(dāng)前波形并和數(shù)據(jù)，波形保存為圖片，數(shù)據(jù)寫(xiě)入文本文檔保存。

cfg頁(yè)設(shè)置儀器visa地址和波形數(shù)據(jù)的保存路徑。

測(cè)試舉例，假設(shè)總共20塊pcb板需要測(cè)試，pcbcnt寫(xiě)為20，每塊板上有10條trace，tpcount寫(xiě)為10，pcb板編號(hào)1～20，trace編號(hào)1～10，從第一塊板第一條trace開(kāi)始按順序測(cè)試，pcbnum寫(xiě)為1，testpoint寫(xiě)為1，點(diǎn)測(cè)等待波形穩(wěn)定，按鍵盤(pán)z鍵stop觸發(fā)，按空格鍵保存當(dāng)前波形圖片，波形圖片自動(dòng)以pcb編號(hào)見(jiàn)命名文件夾和trace編號(hào)命名波形和數(shù)據(jù)文件，testpoint編號(hào)自動(dòng)加1，代表接下來(lái)測(cè)試第二條trace，以此類推。當(dāng)測(cè)試完10條trace后，testpoint自動(dòng)置1，pcbnum自動(dòng)加1，代表測(cè)試下一塊pcb的第一條trace。測(cè)試時(shí)只需事先定義好測(cè)試順序即可。

與圖1所示的阻抗測(cè)試方法，相對(duì)應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種阻抗測(cè)試系統(tǒng)，其結(jié)構(gòu)示意圖如圖4所示，包括：

分配單元301，用于為需要進(jìn)行測(cè)試的每一個(gè)印制電路板pcb分配與其對(duì)應(yīng)的編號(hào)；

設(shè)定單元302，用于依據(jù)每一個(gè)所述pcb的編號(hào)，設(shè)定該pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；

測(cè)試單元303，用于按預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系，依次對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，獲取每一個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，并依據(jù)所述獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，實(shí)現(xiàn)對(duì)所述pcb的阻抗測(cè)試。

本發(fā)明提供的阻抗測(cè)試系統(tǒng)，為每一個(gè)pcb設(shè)定對(duì)應(yīng)的編號(hào)，然后依據(jù)每一個(gè)pcb的編號(hào)，建立每一pcb與測(cè)試設(shè)備之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，使得測(cè)試設(shè)備按這種對(duì)應(yīng)關(guān)系，逐一的對(duì)每一個(gè)pcb進(jìn)行測(cè)試，并在測(cè)試完成后獲取測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù)及波形，本發(fā)明中通過(guò)指令觸發(fā)測(cè)試設(shè)備自動(dòng)獲取各個(gè)pcb的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形的過(guò)程，實(shí)現(xiàn)了阻抗測(cè)試的自動(dòng)化，節(jié)約了數(shù)據(jù)讀取的時(shí)間，提升了阻抗測(cè)試的效率。

在圖4的基礎(chǔ)上，本發(fā)明實(shí)施例提供的阻抗測(cè)試系統(tǒng)，如圖5，還包括：

存儲(chǔ)單元304，用于按預(yù)設(shè)定的存儲(chǔ)格式，將每一個(gè)pcb對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)及波形，存儲(chǔ)到與該pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的文件夾中。

所述設(shè)定單元302包括：

分配子單元305，用于為所述測(cè)試設(shè)備分配多個(gè)測(cè)試指令，所述多個(gè)測(cè)試指令的數(shù)量與需要測(cè)試的pcb的總量相同；

建立子單元306，用于建立每一個(gè)測(cè)試指令與每一個(gè)pcb編號(hào)的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。

所述測(cè)試單元303包括：

控制子單元307，用于依據(jù)所述預(yù)設(shè)的啟動(dòng)指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，從所述多個(gè)pcb的初始編號(hào)開(kāi)始，按各個(gè)pcb的編號(hào)順序依次進(jìn)行測(cè)試。

生成子單元308，用于按預(yù)設(shè)的生成方法，生成與所述pcb的編號(hào)相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)路徑。

需要說(shuō)明的是，本說(shuō)明書(shū)中的各個(gè)實(shí)施例均采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似的部分互相參見(jiàn)即可。對(duì)于裝置類實(shí)施例而言，由于其與方法實(shí)施例基本相似，所以描述的比較簡(jiǎn)單，相關(guān)之處參見(jiàn)方法實(shí)施例的部分說(shuō)明即可。

最后，還需要說(shuō)明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語(yǔ)僅僅用來(lái)將一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開(kāi)來(lái)，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語(yǔ)“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒(méi)有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒(méi)有更多限制的情況下，由語(yǔ)句“包括一個(gè)……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。

為了描述的方便，描述以上裝置時(shí)以功能分為各種單元分別描述。當(dāng)然，在實(shí)施本發(fā)明時(shí)可以把各單元的功能在同一個(gè)或多個(gè)軟件和/或硬件中實(shí)現(xiàn)。

通過(guò)以上的實(shí)施方式的描述可知，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本發(fā)明可借助軟件加必需的通用硬件平臺(tái)的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說(shuō)對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來(lái)，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品可以存儲(chǔ)在存儲(chǔ)介質(zhì)中，如rom/ram、磁碟、光盤(pán)等，包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例或者實(shí)施例的某些部分所述的方法。

以上對(duì)本發(fā)明所提供的一種阻抗測(cè)試方法及系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說(shuō)明書(shū)內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。