本發(fā)明有關(guān)于壓力測量方法以及壓力測量裝置，特別有關(guān)于可校正因掃瞄頻率而產(chǎn)生的壓力測量誤差的壓力測量方法以及壓力測量裝置。
背景技術(shù)：
：：為了感測使用者按壓的動作，電子裝置通常會包含一壓力測量裝置，置于電子裝置的控制界面下(例如觸控?zé)赡换蛴|控板)，以藉由壓力測量裝置來判斷使用者是否有按壓的動作。電子裝置除了根據(jù)單純的按壓動作來執(zhí)行功能外，更可以將此類按壓動作運(yùn)用到其他控制方法上。舉例來說，近代電子裝置通?？梢允謩輥砜刂破鋭幼鳎酝氖謩萃窒抻谄矫娴氖謩?，例如以手指滑動的動作來縮放圖片或是解鎖電子裝置。然而，隨著電子裝置的功能越來越強(qiáng)大，平面的手勢已無法滿足使用者的需求，因此會加入按壓的動作來形成立體的手勢。然而，電子裝置對壓力測量裝置的掃瞄頻率需要因應(yīng)不同雜訊環(huán)境來調(diào)整，藉此達(dá)到較佳的訊噪比(singla-noiseratio)，其會影響壓力測量裝置所產(chǎn)生的壓力感測值而使壓力感測值產(chǎn)生誤差，使得壓力測量結(jié)果變得不精確。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：因此，本發(fā)明之一目的在于提供一種電容式的壓力測量裝置。本發(fā)明另一目的為提供一種可校正壓力測量誤差的壓力測量方法。本發(fā)明另一目的為提供一種可校正壓力測量誤差的壓力測量裝置。本發(fā)明一實(shí)施例公開了一種壓力測量方法，使用在一壓力測量裝置上。其特征在于壓力測量方法包含：于一測試模式下測量壓力測量裝置對應(yīng)一第一壓力的一第一壓力感測值；于測試模式下測量壓力測量裝置對應(yīng)一第二壓力的一第二壓力感測值；根據(jù)第一壓力、第二壓力、第一壓力感測值以及第二壓力感測值建立一第一對應(yīng)函數(shù)；于一普通模式下，使壓力測量裝置感測一第三壓力感測值；以及以第一對應(yīng)函數(shù)根據(jù)第三壓力感測值產(chǎn)生一第三壓力；其中壓力測量裝置操作于一第一掃瞄頻率。本發(fā)明又一實(shí)施例公開了一種壓力測量裝置，其特征在于，包含：一壓力感測模塊，操作于一第一掃瞄頻率；以及一校正模塊，儲存一第一對應(yīng)函數(shù)；其中壓力感測模塊于一普通模式下感測一第三壓力感測值，且校正模塊以第一對應(yīng)函數(shù)根據(jù)第三壓力感測值產(chǎn)生一第三壓力；其中第一對應(yīng)函數(shù)以下列步驟產(chǎn)生：壓力感測模塊于一測試模式下產(chǎn)生對應(yīng)一第一壓力的一第一壓力感測值；壓力感測模塊于測試模式下產(chǎn)生對應(yīng)一第二壓力的一第二壓力感測值；校正模塊根據(jù)第一壓力、第二壓力、第一壓力感測值以及第二壓力感測值建立一第一對應(yīng)函數(shù)。本發(fā)明又一實(shí)施例公開了一種壓力測量方法，使用在一壓力測量裝置上。其特征在于壓力測量方法包含：于一測試模式下測量壓力測量裝置運(yùn)作于一第一掃瞄頻率時的一第一實(shí)際壓力感測值，且測量壓力測量裝置運(yùn)作于第一掃瞄頻率且壓力為零的壓力感測值以計(jì)算出一第一校正值；于一普通模式下，若壓力測量裝置運(yùn)作于第一掃瞄頻率，則以第一校正值校正一第一實(shí)際壓力感測值來產(chǎn)生一第一校正壓力感測值；以及根據(jù)第一校正壓力感測值產(chǎn)生一第一校正壓力。本發(fā)明又一實(shí)施例公開了一種壓力測量裝置，其特征在于，包含：一壓力感測模塊，操作于一第一掃瞄頻率，于一測試模式下產(chǎn)生一第一實(shí)際壓力感測值，測量壓力為零的壓力感測值以計(jì)算出一第一校正值；一校正值產(chǎn)生模塊，運(yùn)作于第一掃瞄頻率，用以測量壓力為零時的壓力感測值以計(jì)算出一第一校正值：以及一校正模塊，于一普通模式下，若壓力測量裝置運(yùn)作于第一掃瞄頻率，則以第一校正值校正一第一實(shí)際壓力感測值來產(chǎn)生一第一校正壓力感測值，并根據(jù)第一校正壓力感測值產(chǎn)生一第一校正壓力。本發(fā)明又一實(shí)施例公開了一種壓力測量方法，使用在一壓力測量裝置上。其特征在于壓力測量方法包含：壓力測量裝置操作于一第一掃瞄頻率時，于一測試模式下測量壓力測量裝置對應(yīng)一第一壓力的一第一壓力感測值以及對應(yīng)一第二壓力的一第二壓力感測值；根據(jù)第一壓力、第二壓力、第一壓力感測值以及第二壓力感測值建立一第一對應(yīng)函數(shù)；于壓力測量裝置操作于第二掃瞄頻率時，于測試模式下測量壓力測量裝置對應(yīng)一第四壓力的一第四壓力感測值以及對應(yīng)一第五壓力的一第五壓力感測值；根據(jù)第四壓力感測值以及第五壓力感測值建立一第二對應(yīng)函數(shù)；以及于一普通模式下，壓力測量裝置操作于一第三掃瞄頻率，若第三掃瞄頻率與第一掃瞄頻率的差異小于第三掃瞄頻率與第二掃瞄頻率的差異，壓力測量裝置根據(jù)第一對應(yīng)函數(shù)來產(chǎn)生對應(yīng)壓力感測值，若第三掃瞄頻率與第二掃瞄頻率的差異小于第三掃瞄頻率與第一掃瞄頻率的差異，壓力測量裝置根據(jù)第二對應(yīng)函數(shù)來產(chǎn)生對應(yīng)壓力感測值。本發(fā)明又一實(shí)施例公開了一種壓力測量裝置，其特征在于，包含：一壓力感測模塊，于一測試模式下分別操作于一第一掃瞄頻率以及一第二掃瞄頻率，并于一普通模式下操作于一第三掃瞄頻率；以及一校正模塊，儲存一第一對應(yīng)函數(shù)以及一第二對應(yīng)函數(shù)；于普通模式下，若第三掃瞄頻率與第一掃瞄頻率的差異小于第三掃瞄頻率與第二掃瞄頻率的差異，壓力測量裝置會根據(jù)第一對應(yīng)函數(shù)來產(chǎn)生對應(yīng)壓力感測值，若第三掃瞄頻率與第二掃瞄頻率的差異小于第三掃瞄頻率與第一掃瞄頻率的差異，壓力測量裝置會根據(jù)第二對應(yīng)函數(shù)來產(chǎn)生對應(yīng)壓力感測值。根據(jù)前述實(shí)施例，可以適當(dāng)?shù)膶毫Ω袦y值進(jìn)行校正，以避免習(xí)知技術(shù)中壓力感測值會受到掃瞄頻率影響的問題。附圖說明圖1繪示了壓力測量裝置因?yàn)閽呙轭l率的不同而造成壓力感測誤差的示意圖。圖2繪示了根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，產(chǎn)生多個壓力與感測值關(guān)系的對應(yīng)函數(shù)來計(jì)算壓力的示意圖。圖3繪示了根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的壓力測量方法的流程圖。圖4繪示了根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的壓力測量裝置的方塊圖。圖5繪示了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的壓力測量裝置的方塊圖。圖6繪示了本發(fā)明一實(shí)施例，如何計(jì)算出校正值的示意圖。圖7繪示了根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的壓力測量方法的流程圖。附圖標(biāo)號說明：ap校正壓力ap1第一校正壓力ap2第二校正壓力f1、f2、f3頻率/電容關(guān)系線la、lb、lc、l1、l2壓力/感測值關(guān)系線p壓力cr實(shí)際壓力感測值p1第一壓力c1第一壓力感測值p2第二壓力c2第二壓力感測值p3第三壓力c3第三壓力感測值p4第四壓力c4第四壓力感測值p5第五壓力c5第五壓力感測值cr1第一實(shí)際壓力感測值cr2第二實(shí)際壓力感測值301-307步驟400、500壓力測量裝置401、501壓力感測模塊403、503、505校正模塊本發(fā)明目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。具體實(shí)施方式以下將以不同實(shí)施例來說明本發(fā)明的內(nèi)容。請留意，以下所述的裝置、模塊或單元等元件可由硬件所構(gòu)成(例如電路)，或是由硬件與軟件來構(gòu)成(例如將程序?qū)懭胩幚韱卧?。此外，不同的元件可整合為單一元件，單一元件亦可分隔為不同的元件。此類變化均應(yīng)在本發(fā)明的范圍內(nèi)。此外，以下實(shí)施例雖然以電容式壓力測量裝置來說明，但亦可運(yùn)用在其他形式的壓力測量裝置。而且，以下所揭露的壓力測量裝置以及壓力測量方法不限于使用在前述的電子裝置之控制界面上。本案是關(guān)于一種電容式壓力測量裝置，其包含至少一電容元件。這些電容元件會對應(yīng)所施加在其表面不同壓力而產(chǎn)生不同的等效電容值。舉例來說，當(dāng)壓力值為0時(即沒有使用者進(jìn)行按壓動作)，其電容值為5pf，而壓力值為100g/cm2時(即使用者有按壓動作)，其電容值為10pf。理想上，當(dāng)壓力值一樣時，電容式壓力測量裝置之電容元件的等效電容值應(yīng)維持一固定值。然而，實(shí)際上此等效電容值可能會因各種因素而被干擾，因此即使壓力值一樣，等效電容值亦會有所不同。舉例來說，電容式壓力測量裝置會根據(jù)一掃瞄訊號的頻率來進(jìn)行對電容值的取樣。然而，電容式壓力測量裝置之電容元件對于不同頻率的訊號會有不同的響應(yīng)，因此掃瞄訊號的頻率會影響到電容元件的等效電容值。而且，該掃描訊號的頻率(于以下實(shí)施例中，簡稱為掃描頻率)需要因應(yīng)不同雜訊環(huán)境來調(diào)整，藉此達(dá)到較佳的訊噪比(singla-noiseratio)。因此，等效電容值之測量容易受到掃描頻率變化的干擾，進(jìn)而影響到壓力的判斷。圖1繪示了電容式的壓力測量裝置因?yàn)閽呙轭l率的不同而造成壓力感測誤差的示意圖。如圖1所示，頻率/電容關(guān)系線f1、f2、f3為不同壓力值時，等效電容值和掃瞄頻率的關(guān)系。理想上等效電容值在不同壓力值下應(yīng)為不同的固定值，因此頻率/電容關(guān)系線f1、f2、f3應(yīng)為水平的直線。然而，實(shí)際上電容式壓力測量裝置的掃瞄頻率會影響到等效電容值，因此即使壓力值相同，等效電容值也會因?yàn)閴毫y量裝置的掃瞄頻率而有所不同。如此可能造成壓力測量裝置對按壓動作的誤判。圖2繪示了根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，產(chǎn)生多個壓力與感測值關(guān)系的對應(yīng)函數(shù)來計(jì)算壓力的示意圖。其中，圖2中的壓力/感測值關(guān)系線la、lb和lc分別代表了不同掃瞄頻率下壓力和壓力感測值的關(guān)系。如圖2所示，本發(fā)明提供的壓力測量方法會先于一測試模式中，在一第一掃描頻率下測量壓力測量裝置對應(yīng)一第一壓力p1的一第一壓力感測值c1，并于此第一掃描頻率下測量壓力測量裝置對應(yīng)一第二壓力p2的一第二壓力感測值c2。若壓力測量裝置為電容式的壓力測量裝置時，第一壓力感測值c1以及第二壓力感測值c2均為等效電容值。舉例來說，對于壓力/感測值關(guān)系線la來說，第一壓力p1為100g/cm2時，第一壓力感測值c1為14pf，而當(dāng)?shù)诙毫2為150g/cm2時，第二壓力感測值c2為21pf。因此，藉由第一壓力感測值c1、第二壓力感測值c2、第一壓力p1以及第二壓力p2，可以得到第一掃描頻率下的壓力/感測值關(guān)系線la(即壓力測量裝置運(yùn)作于第一掃瞄頻率時)中等效電容值和壓力的關(guān)系式，亦及得到壓力測量裝置運(yùn)作于1000khz時的掃瞄頻率時的第一對應(yīng)函數(shù)。于一實(shí)施例中，第一對應(yīng)函數(shù)為c＝ap+b，其中a為c1-c2除以p1-p2的斜率，而b為壓力為0時的等效電容值。得到第一對應(yīng)函數(shù)后，會將其紀(jì)錄在壓力測量裝置內(nèi)，或是紀(jì)錄在壓力測量裝置外的儲存裝置。后續(xù)當(dāng)壓力測量裝置運(yùn)作于第一掃瞄頻率時，會以此第一對應(yīng)函數(shù)來根據(jù)所感測壓力感測值計(jì)算出對應(yīng)的壓力。亦即，普通模式下，壓力測量裝置會感測一第三壓力感測值，并以第一對應(yīng)函數(shù)根據(jù)第三壓力感測值產(chǎn)生一第三壓力。以圖2為例，若壓力測量裝置運(yùn)作于第一掃描頻率，則其會使用第一對應(yīng)函數(shù)來計(jì)算壓力，此時若量測到的壓力感測值為第三壓力感測值c3，則可根據(jù)第一對應(yīng)函數(shù)來計(jì)算出此時的壓力應(yīng)為p3。于一實(shí)施例中，測試模式是指廠商制造完壓力測量裝置，對壓力測量裝置進(jìn)行調(diào)整，尚未給使用者使用的狀態(tài)，而普通模式是指壓力測量裝置已安裝于電子裝置上，使用者已可使用的狀態(tài)。雖然在上述實(shí)施例中是由p1/p2二筆取樣數(shù)據(jù)來計(jì)算出該第一對應(yīng)函數(shù)，但亦可增加取樣的數(shù)據(jù)筆數(shù)，隨著取樣的筆數(shù)增加可讓其對應(yīng)函數(shù)更貼近實(shí)際的壓力/感測值關(guān)系。進(jìn)一步而言，對應(yīng)函數(shù)亦可藉由查找表的方式建立(lookuptable)，例如在一特定掃描頻率下，在每相鄰一固定壓力處取得對應(yīng)的感測值，并儲存該些感測值為一查找表，當(dāng)在普通模式時偵測到一感測電容值，則可以用內(nèi)插方式計(jì)算出對應(yīng)的壓力數(shù)值，例如當(dāng)偵測到的壓力cm落于c1與c2之間，則計(jì)算cm與c1以及c2之間的比值(cm-c1)/(c1-c2)來計(jì)算對應(yīng)壓力pm，其中pm的計(jì)算方式為pm＝p1+(p2-p1)*(cm-c1)/(c1-c2)。任何可用于透過取樣事先建立壓力/感測值對應(yīng)函數(shù)的方式都可以應(yīng)用于本案技術(shù)之中。由于壓力測量裝置會具有多個掃瞄頻率，因此于一實(shí)施例中會針對不同的掃瞄頻率計(jì)算相對應(yīng)的對應(yīng)函數(shù)。于一實(shí)施例中，本發(fā)明提供的壓力測量方法會于測試模式中，在一第二掃描頻率下另測量壓力測量裝置對應(yīng)一第四壓力p4的一第四壓力感測值c4，并于此測試模式下測量壓力測量裝置對應(yīng)一第五壓力p5的一第五壓力感測值c5。藉由第四壓力感測值c4、第五壓力感測值c5、第四壓力p4以及第五壓力p5，可以得到壓力/感測值關(guān)系線lb中等效電容值和壓力的關(guān)系式，亦及得到一第二對應(yīng)函數(shù)。亦即得到了壓力測量裝置運(yùn)作于例如600khz時的掃瞄頻率時(即壓力測量裝置運(yùn)作于第二掃瞄頻率時)的第二對應(yīng)函數(shù)。以圖2為例，若壓力測量裝置運(yùn)作于第二掃描頻率，則其會使用第二對應(yīng)函數(shù)來計(jì)算壓力，此時若量測到的壓力感測值為第六壓力感測值c6，則可根據(jù)第二對應(yīng)函數(shù)來計(jì)算出此時的壓力應(yīng)為p6。如前所述，本發(fā)明所提供的可運(yùn)用在其他形式的壓力測量裝置，因此本發(fā)明所提供的壓力測量方法可簡述如圖3所示的步驟：步驟301于一測試模式下測量壓力測量裝置于一掃瞄頻率時對應(yīng)不同壓力的壓力感測值。例如圖2所述在第一掃描頻率時對應(yīng)第一壓力p1的第一壓力感測值c1、對應(yīng)第二壓力p2的第二壓力感測值c2。步驟303根據(jù)步驟301中不同的壓力感測值以及不同的壓力建立一第一對應(yīng)函數(shù)。如前所述，可于測試模式下在不同掃描頻率時測量壓力測量裝置對應(yīng)不同壓力的壓力感測值。因此可如圖2所述在第二掃描頻率時對應(yīng)第四壓力p4的第一壓力感測值c4、對應(yīng)第五壓力p5的第五壓力感測值c5，并據(jù)以建立一第二對應(yīng)函數(shù)。步驟305于一普通模式下，使壓力測量裝置感測一第三壓力感測值。步驟307以第一對應(yīng)函數(shù)根據(jù)第三壓力感測值計(jì)算第三壓力(例如圖2中的c3、p3)。此第三壓力是根據(jù)對應(yīng)函數(shù)計(jì)算而得，故可稱為一對應(yīng)壓力。其他詳細(xì)步驟已揭露于前述實(shí)施例中，故在此不再贅述。在一實(shí)施例中，可將該查找表儲存于該壓力測量裝置中，當(dāng)用戶操作搭載該壓力測量裝置之一電子裝置時，于一普通模式下即可根據(jù)目前所運(yùn)行掃描頻率，將所偵測到壓力感測值透過該查找表取得對應(yīng)的壓力。其中，由于所儲存的壓力/感測值曲線的組合可能有限，例如僅儲存分別對應(yīng)5個掃描頻率的5個曲線，因此于一實(shí)施例中，當(dāng)壓力測量裝置執(zhí)行在一個非屬于儲存的掃描頻率的特別掃描頻率時，可判斷特別掃描頻率與哪一個儲存的掃描頻率最為相近，并選擇最為相近的掃描頻率所對應(yīng)曲線來進(jìn)行校正。以圖2所示的實(shí)施例為例，在計(jì)算出第一對應(yīng)函數(shù)(壓力/感測值關(guān)系線la)以及第二對應(yīng)函數(shù)(壓力/感測值關(guān)系線lb)后，會將其儲存于壓力測量裝置中。而在普通模式下，壓力測量裝置運(yùn)作于一第三掃描頻率，壓力測量裝置會根據(jù)第三掃瞄頻率較接近第一掃瞄頻率或第二掃瞄頻率來決定使用那一個對應(yīng)函數(shù)。舉例來說，若第三掃瞄頻率為900khz，則其較接近第一掃瞄頻率1000khz，故會使用第一對應(yīng)函數(shù)來產(chǎn)生對應(yīng)壓力。反之，若第三掃瞄頻率為700khz，則其較接近第二掃瞄頻率600khz，則會使用第二對應(yīng)函數(shù)來產(chǎn)生對應(yīng)壓力。圖4繪示了根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的壓力測量裝置的方塊圖。如圖4所示，壓力測量裝置400包含一壓力感測模塊401以及一校正模塊403。校正模塊403包含一第一對應(yīng)函數(shù)cf1，其中第一對應(yīng)函數(shù)cf1對應(yīng)一第一掃描頻率。此第一對應(yīng)函數(shù)cf1可由圖3中的步驟301以及303而產(chǎn)生。亦即，壓力感測模塊401于一測試模式下產(chǎn)生對應(yīng)不同壓力的壓力感測值，例如圖2所述第一壓力感測值c1、第二壓力感測值c2。校正模塊403根據(jù)步驟301中不同的壓力感測值以及不同的壓力建立第一對應(yīng)函數(shù)cf1。然后，于一普通模式下，壓力感測模塊401感測一第三壓力感測值c3。校正模塊403會以第一對應(yīng)函數(shù)cf1根據(jù)第三壓力感測值c3產(chǎn)生一對應(yīng)壓力cp(例如圖2中的第三壓力p3)。如前所述，校正模塊403可包含對應(yīng)多個掃描頻率的多個對應(yīng)函數(shù)，其中每一個對應(yīng)函數(shù)對應(yīng)一個掃描頻率。因此，當(dāng)該壓力感測模塊401感測到該第三壓力感測值c3時，即可根據(jù)該壓力感測模塊401感測到該第三壓力感測值c3時的掃描頻率選擇該對應(yīng)的對應(yīng)函數(shù)cf1，并進(jìn)而產(chǎn)生該第三壓力p3。其他詳細(xì)動作已揭露于前述實(shí)施例中，故在此不再贅述。根據(jù)前述實(shí)施例，可以適當(dāng)?shù)膶毫Ω袦y值進(jìn)行校正，以避免習(xí)知技術(shù)中壓力感測值會受到掃瞄頻率影響的問題。另外，在該壓力感測器中其他會受到掃描頻率影響而改變其參數(shù)值之訊號皆可藉由本案技術(shù)事先建立之對應(yīng)函數(shù)進(jìn)行補(bǔ)償。以上實(shí)施例均是以計(jì)算出的對應(yīng)函數(shù)來將壓力感測模塊產(chǎn)生的壓力感測值直接轉(zhuǎn)換成新的對應(yīng)壓力感測值。然而，亦可以其他方式來校正壓力感測值。圖5繪示了根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的壓力測量裝置500的方塊圖。如圖5所示，壓力測量裝置500包含壓力感測模塊501、校正值產(chǎn)生模塊503以及校正模塊505。請留意各模塊或單元可整合或再區(qū)分為更多模塊。壓力感測模塊501會根據(jù)壓力p產(chǎn)生實(shí)際壓力感測值cr。于一實(shí)施例中實(shí)際壓力感測值cr為未經(jīng)過校正的實(shí)際壓力感測值。校正值產(chǎn)生模塊503用以產(chǎn)生不同掃瞄頻率下的校正值d。其中，校正值d代表壓力為零的狀況下，所產(chǎn)生的壓力感測值。因此，校正值d可視為不同掃瞄頻率下，壓力感測值因掃瞄頻率所產(chǎn)生的誤差之補(bǔ)償值。校正模塊505會根據(jù)掃瞄頻率選擇校正值d，并在接收到實(shí)際壓力感測值cr后，根據(jù)實(shí)際壓力感測值cr和校正值d來產(chǎn)生校正壓力感測值cc。于一實(shí)施例中，是以下述公式(1)來計(jì)算出校正壓力感測值cc。cc(x,y)＝cr(x,y)-d(x,0)公式(1)其中x表示掃瞄頻率，y表示壓力感測模塊501所感測到的壓力。亦即實(shí)際壓力感測值cr由掃瞄頻率與壓力感測模塊501所感測到的壓力來決定。而校正值d由掃瞄頻率來決定。而在那一掃瞄頻率該使用那一個校正值d，可經(jīng)由多次實(shí)驗(yàn)并將結(jié)果儲存成一查找表。如此計(jì)算模塊505便可根據(jù)掃瞄頻率來取得適當(dāng)?shù)男Ｕ礵。請留意公式(1)中的減號可以加號取代，而要使用那一運(yùn)算符號，取決于校正值d如何定義。而且，公式(1)僅用以舉例，任何可以校正值來校正實(shí)際壓力感測值的公式均應(yīng)在本案所涵蓋的范圍內(nèi)。而在計(jì)算出校正壓力感測值后，校正模塊505可相對應(yīng)的計(jì)算出校正壓力ap。校正值產(chǎn)生模塊模塊503可以多種電路來實(shí)施，舉例來說，其可為一較簡化的壓力傳感器，亦即由電容，電阻構(gòu)成的電路。校正模塊505可為如微處理器般具有邏輯運(yùn)算的電路，或是由至少一個邏輯閘組成的電路。圖6繪示了根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例來計(jì)算出校正值的示意圖。如圖6所示，壓力感測模塊501會以壓力/感測值關(guān)系線l1和l2來根據(jù)壓力產(chǎn)生壓力感測值。請留意此例中壓力/感測值關(guān)系線l1和l2為相同的直線，只是壓力/感測值關(guān)系線l1運(yùn)作于第一掃瞄頻率，而壓力/感測值關(guān)系線l2運(yùn)作于第二掃瞄頻率。且壓力/感測值關(guān)系線l1和l2跟壓力呈線性關(guān)系。但壓力感測模塊501所使用的壓力/感測值關(guān)系線不限定于圖6中所示的直線，且壓力感測模塊501在不同掃瞄頻率時可使用不同的壓力/感測值關(guān)系線。亦即，只要是不同掃瞄頻率下，會用不同校正值來校正壓力感測值并據(jù)以產(chǎn)生校正壓力，均應(yīng)涵蓋于本發(fā)明的范圍。理想上當(dāng)壓力為零時，壓力感測值應(yīng)為零。但如圖6所示，壓力/感測值關(guān)系線l1在壓力為零時，壓力感測值不為零，因此校正值產(chǎn)生模塊503可據(jù)以求出第一校正值d1。而壓力感測模塊501于感測到第一實(shí)際壓力感測值cr1后，若不予以校正，則會計(jì)算出錯誤的第一壓力p1。因此，校正模塊505會將第一實(shí)際壓力感測值cr1減去第一校正值d1而得到第一校正壓力感測值cc1，然后根據(jù)第一校正壓力感測值cc1計(jì)算出第一校正壓力ap1。而在不同掃瞄頻率時，校正值會有所不同，以圖6為例，第二掃瞄頻率下校正值會變?yōu)閐2。而壓力感測模塊501于感測到第二實(shí)際壓力感測值cr2后，若不予以校正，則會計(jì)算出錯誤的第二壓力p2。因此，校正模塊505會將第二實(shí)際壓力感測值cr2減去第二校正值d2而得到第二校正壓力感測值cc2，然后根據(jù)第二校正壓力感測值cc2計(jì)算出第二校正壓力ap2。還請留意，在圖6的實(shí)施例中，是假設(shè)不同掃瞄頻率下會有不同的壓力/感測值關(guān)系線(也就是有不同預(yù)定函數(shù))，然而，在一實(shí)施例中，不同掃瞄頻率下會有相同的壓力/感測值關(guān)系線(也就是有相同預(yù)定函數(shù))，改變的僅是校正值的不同。此類變化亦包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。于一實(shí)施例中，前述圖5至圖6計(jì)算校正值的動作可在一測試模式下執(zhí)行，來求得部份或所有掃瞄頻率的校正值并予以儲存。而根據(jù)掃瞄頻率校正值來校正壓力感測值的動作可在一普通模式下執(zhí)行，但不限定。根據(jù)前述實(shí)施例，可得到如圖7所示的壓力測量方法，其包含下列步驟：步驟701于一測試模式下測量壓力測量裝置運(yùn)作于一第一掃瞄頻率且壓力為零的壓力感測值以計(jì)算出一第一校正值(如圖6所述的d1)。步驟703于一普通模式下，若壓力測量裝置運(yùn)作于第一掃瞄頻率，則以第一校正值校正第一實(shí)際壓力感測值(例如圖6的cr1)來產(chǎn)生一第一校正壓力感測值(例如圖6的cc1)。步驟705根據(jù)第一校正壓力感測值產(chǎn)生一第一校正壓力(例如圖6的ap1)。如前所述，本發(fā)明所提供的壓力測量方法可更測量不同掃瞄頻率下的校正值(例如圖6所述的第二校正值d2)。然后于普通模式下，根據(jù)是運(yùn)作于那一個掃瞄頻率來選擇校正值。圖5至圖7的實(shí)施例可減少所儲存的壓力/感測值關(guān)系線之?dāng)?shù)量，僅需儲存校正值。因此可減少儲存的空間以及計(jì)算步驟。根據(jù)前述實(shí)施例，可對壓力感測值進(jìn)行校正，以改善習(xí)知技術(shù)中壓力感測值會受到掃瞄頻率影響的問題。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。當(dāng)前第1頁12當(dāng)前第1頁12