技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種用于測(cè)量目標(biāo)對(duì)象的尺寸的方法。所述方法包括：獲取表示物理空間的深度數(shù)據(jù)，所述深度數(shù)據(jù)包括所述目標(biāo)對(duì)象的數(shù)據(jù)；將所述深度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成點(diǎn)云；從所述點(diǎn)云提取至少一個(gè)平面；識(shí)別地平面；從所述點(diǎn)云排除所述地平面；從剩余的點(diǎn)云提取至少一個(gè)點(diǎn)集群；識(shí)別所述目標(biāo)對(duì)象的點(diǎn)集群；基于所述目標(biāo)對(duì)象的所述點(diǎn)集群來(lái)估計(jì)所述目標(biāo)對(duì)象的體積。

技術(shù)研發(fā)人員：亞歷山大·施泰因菲爾德;理查德·萊登;喬治·劉;烏德列赫·加瓦萊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西克股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.12
技術(shù)公布日：2017.10.24