本發(fā)明涉及一種接閃器測試系統(tǒng)，具體涉及接閃器模擬真實環(huán)境的測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
防雷裝置由接閃器、引下線和接地裝置組成。接閃器位于防雷裝置的頂部，其作用是利用其高出被保護(hù)物的突出部位把雷電引向自身，承接直擊雷放電。接閃器由下列各形式之一或任意組合而成：獨立避雷針；直接裝設(shè)在建筑物上的避雷針、避雷帶或避雷網(wǎng)；屋頂上的永久性金屬物及金屬屋面；混凝土構(gòu)件內(nèi)鋼筋。除利用混凝土構(gòu)件內(nèi)鋼筋外，接閃器應(yīng)鍍鋅，焊接處應(yīng)涂防腐漆。在腐蝕性較強的場所，還應(yīng)適當(dāng)加大其截面或采取其他防腐措施。
現(xiàn)有的接閃器測試系統(tǒng)一般采用比較有規(guī)律的雷擊對接閃器進(jìn)行測試，而實際生活中，接閃器需要面對的情況則復(fù)雜的多。
技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有的接閃器測試系統(tǒng)一般采用比較有規(guī)律的雷擊對接閃器進(jìn)行測試，而實際生活中，接閃器需要面對的情況則復(fù)雜的多，目的在于提供接閃器模擬真實環(huán)境的測試系統(tǒng)，解決模擬自然放電對接閃器進(jìn)行測試的問題。
本發(fā)明通過下述技術(shù)方案實現(xiàn)：
接閃器模擬真實環(huán)境的測試系統(tǒng)，包括放電模塊和噴水模塊，還包括處理器，處理器通過計時開關(guān)連接在放電模塊和噴水模塊上，所述處理器上還連接有隨機參數(shù)模塊、信號輸入模塊和數(shù)據(jù)庫；
處理器：接收信號輸入模塊發(fā)送的測試參數(shù)，將測試參數(shù)發(fā)送到隨機參數(shù)模塊；接收隨機參數(shù)模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)，根據(jù)測試數(shù)據(jù)發(fā)送控制信號到計時開關(guān)，同時將測試數(shù)據(jù)存入數(shù)據(jù)庫；
計時開關(guān)：接收處理器發(fā)送的控制信號，根據(jù)控制信號進(jìn)行動作；
隨機參數(shù)模塊：接收處理器發(fā)送的測試參數(shù)，根據(jù)測試參數(shù)的范圍生成一組測試數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器；
信號輸入模塊：接收外界的信號，將外界信號作為測試參數(shù)發(fā)送到處理器；
數(shù)據(jù)庫：為處理器提供數(shù)據(jù)支持。系統(tǒng)工作時，首先由操作人員輸入待測接閃桿的測試數(shù)據(jù)范圍到處理器中，處理器將整個范圍發(fā)送到隨機參數(shù)模塊生成一組隨機參數(shù)返回處理器，處理器根據(jù)這組隨機參數(shù)控制放電模塊和噴水模塊工作。
所述處理器上還連接有測試終止模塊。測試終止模塊中預(yù)設(shè)有與國家標(biāo)準(zhǔn)匹配的測設(shè)條件，當(dāng)系統(tǒng)測試滿足測試條件時終止測試。
所述測試終止模塊直接與數(shù)據(jù)庫連接。數(shù)據(jù)庫對每一次的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行儲存，測試終止模塊直接與數(shù)據(jù)庫連接，直接提取數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷，可靠性更高。
所述處理器上還連接有通信模塊。通信模塊可以輔助處理器與外界建立連接，處理器可以隨時通過通信模塊向外部發(fā)送信息。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下的優(yōu)點和有益效果：
1、本發(fā)明接閃器模擬真實環(huán)境的測試系統(tǒng)，隨機性較強，能較好的模擬真實的放電環(huán)境；
2、本發(fā)明接閃器模擬真實環(huán)境的測試系統(tǒng)，具有獨立的測試終止模塊，能保證測試滿足國家標(biāo)準(zhǔn)。
附圖說明
此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明實施例的進(jìn)一步理解，構(gòu)成
本技術(shù)：
的一部分，并不構(gòu)成對本發(fā)明實施例的限定。在附圖中：
圖1為本發(fā)明系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，下面結(jié)合實施例和附圖，對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明，本發(fā)明的示意性實施方式及其說明僅用于解釋本發(fā)明，并不作為對本發(fā)明的限定。
實施例
如圖1所示，本發(fā)明接閃器模擬真實環(huán)境的測試系統(tǒng)，包括放電模塊和噴水模塊，還包括imx.8處理器，處理器通過ttl555計時開關(guān)連接在放電模塊和噴水模塊上，所述處理器上還連接有stm32隨機參數(shù)模塊、按鍵信號輸入模塊和數(shù)據(jù)庫；所述處理器上還連接有stm32測試終止模塊。測試終止模塊中預(yù)設(shè)有與國家標(biāo)準(zhǔn)匹配的測設(shè)條件，當(dāng)系統(tǒng)測試滿足測試條件時終止測試。所述測試終止模塊直接與數(shù)據(jù)庫連接。數(shù)據(jù)庫對每一次的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行儲存，測試終止模塊直接與數(shù)據(jù)庫連接，直接提取數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷，可靠性更高。所述處理器上還連接有ralink3070通信模塊。通信模塊可以輔助處理器與外界建立連接，處理器可以隨時通過通信模塊向外部發(fā)送信息。
處理器：接收信號輸入模塊發(fā)送的測試參數(shù)，將測試參數(shù)發(fā)送到隨機參數(shù)模塊；接收隨機參數(shù)模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)，根據(jù)測試數(shù)據(jù)發(fā)送控制信號到計時開關(guān)，同時將測試數(shù)據(jù)存入數(shù)據(jù)庫；
計時開關(guān)：接收處理器發(fā)送的控制信號，根據(jù)控制信號進(jìn)行動作；
隨機參數(shù)模塊：接收處理器發(fā)送的測試參數(shù)，根據(jù)測試參數(shù)的范圍生成一組測試數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器；
信號輸入模塊：接收外界的信號，將外界信號作為測試參數(shù)發(fā)送到處理器；
數(shù)據(jù)庫：為處理器提供數(shù)據(jù)支持。
以上所述的具體實施方式，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施方式而已，并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。