本發(fā)明涉及一種強制老化的方法，屬于led燈具的老化測試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
老化測試項目是指模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實使用條件中涉及到的各種因素對產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強實驗的過程，通過用測試其功能的方式來考驗產(chǎn)品的穩(wěn)定性，因系統(tǒng)長時間的處于工作狀態(tài)，在其工作時對各器件進(jìn)行負(fù)荷運轉(zhuǎn)，這樣其性能就能得到保證。老化還有一種情況就是讓設(shè)備處在超常規(guī)的特殊的環(huán)境中運作，或者讓此設(shè)備超指標(biāo)的運行，只要在這些條件下能保證設(shè)備的性能穩(wěn)定，那么在正常環(huán)境下工作就正常了。
在這之前，產(chǎn)品一出世，對電子產(chǎn)品進(jìn)行老化測試也是必不可少的，但是不一定對每一個產(chǎn)品都做了老化，所以強制老化也是必要的一步。
電子產(chǎn)品，不管是原件、部件、整機、設(shè)備都要進(jìn)行先老化后測試。如對led燈的老化方案，現(xiàn)有技術(shù)大多只是對led燈燈具本身進(jìn)行老化測試，但缺少芯片、電源的老化方案，電子產(chǎn)品通過生產(chǎn)制造后，形成了完整的產(chǎn)品，已經(jīng)可以發(fā)揮使用價值了，但使用以后會發(fā)現(xiàn)會有這樣或那樣的毛病，又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大多數(shù)就發(fā)生在剛開始的幾小時和幾十個小時之內(nèi)，后來規(guī)定電子產(chǎn)品需要老化和測試，仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀況，這個過程由產(chǎn)品的制造者來完成，通過測試把有問題的產(chǎn)品留在工廠，沒有問題的產(chǎn)品給用戶，以保證賣給用戶的產(chǎn)品是可靠的趨于穩(wěn)定的。
技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種強制老化的方法，能保證我們產(chǎn)品的可靠性以及穩(wěn)定性，可以克服現(xiàn)有技術(shù)的不足。
本發(fā)明的技術(shù)方案是：一種強制老化的方法，它包括設(shè)備燈，設(shè)備燈與測試系統(tǒng)相連接，其特征在于：所述的測試系統(tǒng)包括老化模式與用戶模式，該方法是設(shè)備燈第一次開機時強制進(jìn)入老化模式,只能老化完成才能退出，否則無法正常進(jìn)入用戶模式，則設(shè)備燈無法使用，所述的老化模式包括電源老化模塊、設(shè)備燈強制老化模塊和芯片強制老化模塊；
電源老化模塊是讓電源長時間在惡劣環(huán)境下處于工作狀態(tài)，包括在高溫、高惡劣條件下的測試環(huán)境對高性能電子產(chǎn)品進(jìn)行長時間燒機，看其是否損壞；
設(shè)備燈強制老化模塊是根據(jù)燈開關(guān)時閃現(xiàn)的特性來進(jìn)行老化，通過對一個以上的設(shè)備燈同時進(jìn)行每一秒閃一次的老化測試，在老化測試中若出現(xiàn)差錯則設(shè)備燈熄滅，若通過老化設(shè)置，設(shè)備燈長亮；
芯片強制老化模塊針對芯片的特性，讓其不斷處于忙碌的狀態(tài)，看其能否正常進(jìn)行工作。
上述的通過和不通過老化測試的產(chǎn)品分別做老化合格和老化不合格標(biāo)記。
上述的芯片強制老化模塊中的忙碌的狀態(tài)包括讓芯片持續(xù)播放視頻或持續(xù)視頻解碼。
現(xiàn)有技術(shù)比較，本發(fā)明強制老化的方法，所述的測試系統(tǒng)包括老化模式與用戶模式，該方法是設(shè)備燈第一次開機時強制進(jìn)入老化模式,只能老化完成才能退出，否則無法正常進(jìn)入用戶模式，則設(shè)備燈無法使用，所述的老化模式包括電源老化模塊、設(shè)備燈強制老化模塊和芯片強制老化模塊；從三個燈具的主要內(nèi)容對產(chǎn)品進(jìn)行老化測試，以此來保證我們產(chǎn)品的可靠性以及穩(wěn)定性；
電源老化模塊是讓電源長時間在惡劣環(huán)境下處于工作狀態(tài)，包括在高溫、高惡劣條件下的測試環(huán)境對高性能電子產(chǎn)品進(jìn)行長時間燒機，看其是否損壞；
設(shè)備燈強制老化模塊是根據(jù)燈開關(guān)時閃現(xiàn)的特性來進(jìn)行老化，通過對一個以上的設(shè)備燈同時進(jìn)行每一秒閃一次的老化測試，在老化測試中若出現(xiàn)差錯則設(shè)備燈熄滅，若通過老化設(shè)置，設(shè)備燈長亮；同時，這有利于在老化過程中對大量產(chǎn)品的實時觀測，不用走近到每臺設(shè)備前查看是否已完成老化，有效減輕測試員的負(fù)擔(dān)；
上述的通過和不通過老化測試的產(chǎn)品分別做老化合格和老化不合格標(biāo)記，這樣標(biāo)記后的產(chǎn)品，今后不再進(jìn)入老化模式，直接進(jìn)入用戶模式，同時，這也有利于嚴(yán)格生產(chǎn)，確保產(chǎn)品質(zhì)量；
芯片強制老化模塊中的忙碌的狀態(tài)包括讓芯片持續(xù)播放視頻或持續(xù)視頻解碼，這樣的老化方案，讓設(shè)備處在超常規(guī)的特殊的環(huán)境中運作，或者讓此設(shè)備超指標(biāo)的運行，只要在這些條件下能保證設(shè)備的性能穩(wěn)定，那么在正常環(huán)境下工作就正常了，這樣能有效的對產(chǎn)品性能進(jìn)行測試；
產(chǎn)品設(shè)測試包括使用老化過后的產(chǎn)品進(jìn)行性能測定，測試其經(jīng)過老化后是否能使用，從而能對其性能的把握；
對老化和測試后的產(chǎn)品，需要退出老化模式并給系統(tǒng)做一個標(biāo)記，這樣標(biāo)記后的產(chǎn)品，今后不再進(jìn)入老化模式，直接進(jìn)入用戶模式。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的連接結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
實施例1.如圖1所示，一種強制老化的方法，它包括設(shè)備燈，設(shè)備燈與測試系統(tǒng)相連接，所述的測試系統(tǒng)包括老化模式與用戶模式，該方法是設(shè)備燈第一次開機時強制進(jìn)入老化模式,只能老化完成才能退出，否則無法正常進(jìn)入用戶模式，則設(shè)備燈無法使用，所述的老化模式包括電源老化模塊、設(shè)備燈強制老化模塊和芯片強制老化模塊；電源老化模塊是讓電源長時間在惡劣環(huán)境下處于工作狀態(tài)，包括在高溫、高惡劣條件下的測試環(huán)境對高性能電子產(chǎn)品進(jìn)行長時間燒機，看其是否損壞；設(shè)備燈強制老化模塊是根據(jù)燈開關(guān)時閃現(xiàn)的特性來進(jìn)行老化，通過對一個以上的設(shè)備燈同時進(jìn)行每一秒閃一次的老化測試，在老化測試中若出現(xiàn)差錯則設(shè)備燈熄滅，若通過老化設(shè)置，設(shè)備燈長亮；芯片強制老化模塊針對芯片的特性，讓其不斷處于忙碌的狀態(tài)，看其能否正常進(jìn)行工作，所述的忙碌的狀態(tài)包括讓芯片持續(xù)播放視頻或持續(xù)視頻解碼，對通過和不通過老化測試的產(chǎn)品分別做老化合格和老化不合格標(biāo)記。