技術特征：

技術總結
本發(fā)明公開了一種用于礦物鑒定的偏光顯微鏡的偏光儀，包括基座底板、基座支架下偏光組件和上偏光組件，所述基座支架豎直設置在所述基座底板的一側，所述偏光顯微鏡通過固定裝置安裝在所述基座底板上，所述下偏光組件安裝在所述基座支架的中下部，所述上偏光組件安裝在所述基座支架的上部。本發(fā)明偏光顯微鏡的自動偏光儀通過上偏光組件和下偏光組件的配合實現(xiàn)正交偏振光鏡檢和單偏振光鏡檢的自動化操作，同時能夠進行精確度量，增加鏡檢準確度。

技術研發(fā)人員：羅峰;肖淵甫;祁凌;易小宇
受保護的技術使用者：成都理工大學
技術研發(fā)日：2017.05.31
技術公布日：2017.07.28