本發(fā)明涉及oled顯示器件的檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)及其檢測方法。

背景技術(shù)：

oled柔性顯示器件是新一代顯示技術(shù)中的一大亮點，在智能手機、平板電視、頭戴顯示、增強顯示等方面得到越來越多的應(yīng)用。

oled顯示技術(shù)處于起步階段，由于市面上的oled顯示器具有性能穩(wěn)定性差、工作壽命短及生產(chǎn)成本高均阻礙了oled柔性顯示器件走向?qū)嵱没褪袌龌?，因此，開展oled柔性顯示器件的故障檢測工作，研究其故障機理，對提高oled顯示器件的可靠性、促進柔性顯示技術(shù)的發(fā)展具有十分重大的意義。

傳統(tǒng)的顯示技術(shù)故障分析手段有：ra信賴性試驗、工作壽命測試、水氧透過率測試等，然而，這些測試方式不能有效的區(qū)分使用環(huán)境各因素的影響，因而難以確定故障原因的主次和相互作用，不利于開發(fā)新型襯底封裝材料以及改進生產(chǎn)工藝，進而制約了oled顯示向輕薄化、柔性化的發(fā)展。

為此有必要提供一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)及其檢測方法來克服上述缺陷。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)，能檢測出水汽、氧氣、溫度、交直流對oled等薄膜半導(dǎo)體器件效率的影響結(jié)果，篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)，同時，也可以從氣氛、溫度、濕度、電流等多角度、全方面地進行故障分析，從而實現(xiàn)oled顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業(yè)生產(chǎn)需要。

相應(yīng)地，本發(fā)明還提供了一種oled顯示器件失效檢測探測的檢測方法，能檢測出水汽、氧氣、溫度、交直流對oled等薄膜半導(dǎo)體器件效率的影響結(jié)果，篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)，同時，也可以從氣氛、溫度、濕度、電流等多角度、全方面地進行故障分析，從而實現(xiàn)oled顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業(yè)生產(chǎn)需要。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明所采取的技術(shù)方案為：

一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)，包括：

混氣輸入裝置，用于提供混合氣體；

探測器裝置，與所述混氣輸入裝置連接、用于探測oled顯示器件在不同條件下的工作情況，和/或用于獲取待測物的反射率波譜；

控制器，用于根據(jù)所述探測器裝置傳送的信息、處理分析出所述oled顯示器件的失效規(guī)律，和/或根據(jù)所述探測器裝置傳送的信息、定量分析出所述待測物的保護性能；及

排氣裝置，與所述探測器裝置連接、用于排出氣體。

本發(fā)明的一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)，通過所述混氣輸入裝置控制一定濕度及一定量的氣體輸入，所述探測器裝置在不同的測試條件下探測所述oled顯示器件的失效規(guī)律，同時，所述探測器裝置獲取待測物的反射率波譜，并將探測結(jié)果或反射率波譜傳輸至所述控制器，所述控制器處理所述信息、分析出所述oled顯示器件的失效規(guī)律，或定量分析出所述待測物的保護性能。本發(fā)明能測試出不同測試環(huán)境對所述oled的影響，并根據(jù)測試結(jié)果篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)，從而實現(xiàn)oled顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業(yè)生產(chǎn)需要。

優(yōu)選地，所述探測器裝置包括：與所述混氣輸入裝置和所述控制器連接的氣密箱，設(shè)置在所述氣密箱內(nèi)的器件夾具，設(shè)置在所述氣密箱內(nèi)、且設(shè)置在所述器件夾具上方的數(shù)碼顯微鏡、濕度探頭和光源組件。

優(yōu)選地，所述條件包括：可控水汽、氧氣濃度條件，高低溫條或交直流條件。

優(yōu)選地，所述待測物包括：玻璃、有機薄膜、氧化物薄膜襯底和/或封裝材料。

優(yōu)選地，所述器件夾具上設(shè)置有加熱平臺。

相應(yīng)地，本發(fā)明還提供了一種oled顯示器件失效的檢測方法，包括如下步驟：

控制輸入相對應(yīng)的檢測條件；

探測器裝置探測oled顯示器件在所述檢測條件下的工作情況；

所述探測器裝置獲取待測物的反射率波譜；

控制器根據(jù)所述探測器裝置傳送的工作情況信息、處理分析出所述oled顯示器件的失效規(guī)律；

所述控制器根據(jù)所述探測器傳送的反射率波譜信息、處理分析所述待測物的保護性能。

本發(fā)明的一種oled顯示器件失效的檢測方法，所述探測器裝置探測oled顯示器件在所述檢測條件下的工作情況，并將檢測結(jié)果反饋至所述控制器，所述控制器根據(jù)所述檢測結(jié)果處理分析出所述loed顯示器件的失效規(guī)律，同時，所述探測器裝置獲取待測物的反射率波譜，并將獲取信息傳輸至所述控制器，所述控制器定量分析出所述待測物的保護性能。本發(fā)明實現(xiàn)了試不同測試環(huán)境對所述oled的影響，并根據(jù)測試結(jié)果篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)，從而實現(xiàn)oled顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業(yè)生產(chǎn)需要。

優(yōu)選地，所述檢測條件包括：可控水汽、氧氣濃度條件，高低溫條或交直流條件。

優(yōu)選地，所述待測物包括：玻璃、有機薄膜、氧化物薄膜襯底和/或封裝材料。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)的模塊框圖。

圖2是本發(fā)明一種oled顯示器件失效的檢測方法的流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖，具體闡明本發(fā)明的實施方式，附圖僅供參考和說明使用，不構(gòu)成對本發(fā)明專利保護范圍的限制。

實施例1：

請參考圖1，本發(fā)明的一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)，包括：混氣輸入裝置1、探測器裝置2、控制器3和排氣裝置4，其中，所述探測器裝置2與所述混氣輸入裝置1通過電磁閥連接，所述控制器3與所述探測器裝置2連接，所述排氣裝置4也通過電磁閥與所述探測器裝置2連接。具體地，所述混氣輸入裝置1用于提供混合氣體，所述混氣輸入裝置1包括氣體流量控制器及通過導(dǎo)管與所述氣體流量控制器連接的飽和濕度發(fā)生裝置。所述探測器裝置2用于探測oled顯示器件在不同條件下的工作情況，和/或用于獲取待測物的反射率波譜，所述探測器裝置2包括：與所述混氣輸入裝置1和所述控制器3連接的氣密箱21，設(shè)置在所述氣密箱21內(nèi)的器件夾具22，設(shè)置在所述氣密箱21內(nèi)、且設(shè)置在所述器件夾具22上方的數(shù)碼顯微鏡23、濕度探頭24和光源組件25，所述器件夾具22上設(shè)置有加熱平臺221，進一步地，所述條件包括：可控水汽、氧氣濃度條件，高低溫條或交直流條件，所述待測物包括：玻璃、有機薄膜、氧化物薄膜襯底和/或封裝材料。所述控制器3用于根據(jù)所述探測器裝置2傳送的信息、處理分析出所述oled顯示器件的失效規(guī)律，和/或根據(jù)所述探測器裝置傳送的信息、定量分析出所述待測物的保護性能。所述排氣裝置4用于排出所述探測器裝置2內(nèi)的混合氣體。

更進一步地，先將待測試的所述oled顯示器件放置在所述器件夾具22上，其中，所述器件夾具22上設(shè)置有與待測物接觸的溫度探頭，用戶通過所述混氣輸入裝置1輸入一定量的水汽、氧氣濃度、空氣或氮氣，或通過所述加熱平臺221提供高溫環(huán)境，或通過所述所述探測器裝置2內(nèi)的電路提供交直流條件，所述探測器裝置2獲取所述lied顯示器件在對應(yīng)測試條件下的變化情況，并將獲取結(jié)果傳輸至所述控制器3，所述控制器3處理分析所述探測器裝置2傳輸?shù)乃霁@取結(jié)果并根據(jù)獲取結(jié)果、分析判斷失效原因、失效位置及相應(yīng)的解決方案，比如，所述控制器3分析到所述oled顯示器件出現(xiàn)黑斑的現(xiàn)象，且該oled顯示器件的發(fā)光面積慢慢較小時，判斷所述oled顯示器件失效的主要原因為水汽和氧氣滲入導(dǎo)致，進一步地，當(dāng)分析判斷到所述oled顯示器件的發(fā)光區(qū)域從四周開始模糊時，判斷氧氣和水汽從器件的邊緣入侵器件內(nèi)部，所述控制器3發(fā)出報警提示信息，同時標(biāo)注出所述oled顯示器件的失效位置并顯示對應(yīng)的問題解決方案。同時，所述探測器裝置2獲取待測物的襯底和封裝材料的反射率波譜，并將獲取結(jié)果傳送至所述控制器3，所述控制器3分析該襯底和封裝材料的角度對待測物器件的失效情況進行分析，進而測量出保護膜的均勻性，由此篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)。

從以上描述可以看出，本發(fā)明的一種oled顯示器件失效檢測探測系統(tǒng)，通過所述混氣輸入裝置1控制一定濕度及一定量的氣體輸入，所述探測器裝置2在不同的測試條件下探測所述oled顯示器件的失效規(guī)律，同時，所述探測器裝置2獲取待測物的反射率波譜，并將探測結(jié)果或反射率波譜傳輸至所述控制器3，所述控制器3處理所述信息、分析出所述oled顯示器件的失效規(guī)律，或定量分析出所述待測物的保護性能。本發(fā)明能測試出不同測試環(huán)境對所述oled的影響，并根據(jù)測試結(jié)果篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)，從而實現(xiàn)oled顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業(yè)生產(chǎn)需要。

實施例2：

請參考圖2，本發(fā)明的一種oled顯示器件失效的檢測方法，包括如下步驟：

001，控制輸入相對應(yīng)的檢測條件。具體地，所述檢測條件包括：可控水汽、氧氣濃度條件，高低溫條或交直流條件，更具體地，用戶通過氣體流量控制器和飽和濕度發(fā)生裝置向探測器裝置輸入一定濃度的氣體，通過所述探測器裝置提供對應(yīng)的高溫環(huán)境或交直流環(huán)境。

002，探測器裝置探測oled顯示器件在所述檢測條件下的工作情況。具體地，所述探測器裝置探測放置在所述探測器裝置內(nèi)的所述oled顯示器件的失效情況，并將探測結(jié)果發(fā)送至控制器。

003，探測器裝置獲取待測物的反射率波譜。具體地，所述待測物包括：玻璃、有機薄膜、氧化物薄膜襯底和/或封裝材料，更具體地，所述探測器裝置獲取待測物的襯底和封裝材料的反射率波譜，并將獲取結(jié)果傳送至所述控制器。

004，控制器根據(jù)探測器裝置傳送的工作情況信息、處理分析出所述oled顯示器件的失效規(guī)律。具體地，如當(dāng)所述控制器分析到所述oled顯示器件出現(xiàn)黑斑的現(xiàn)象，且該oled顯示器件的發(fā)光面積慢慢較小時，判斷所述oled顯示器件失效的主要原因為水汽和氧氣滲入導(dǎo)致，進一步地，當(dāng)分析判斷到所述oled顯示器件的發(fā)光區(qū)域從四周開始模糊時，判斷氧氣和水汽從器件的邊緣入侵器件內(nèi)部，所述控制器發(fā)出報警提示信息，同時標(biāo)注出所述oled顯示器件的失效位置并顯示對應(yīng)的問題解決方案。

005，控制器根據(jù)探測器傳送的反射率波譜信息、處理分析待測物的保護性能。具體地，所述控制器分析通過該反射率進行計算擬合，分析出待測物襯底和封裝材料的角度對待測物器件的失效影響情況，進而測量出保護膜的均勻性，由此篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)。

從以上描述可以看出，本發(fā)明的一種oled顯示器件失效的檢測方法，所述探測器裝置探測oled顯示器件在所述檢測條件下的工作情況，并將檢測結(jié)果反饋至所述控制器，所述控制器根據(jù)所述檢測結(jié)果處理分析出所述loed顯示器件的失效規(guī)律，同時，所述探測器裝置獲取待測物的反射率波譜，并將獲取信息傳輸至所述控制器，所述控制器定量分析出所述待測物的保護性能。本發(fā)明實現(xiàn)了試不同測試環(huán)境對所述oled的影響，并根據(jù)測試結(jié)果篩選出有效的封裝材料及結(jié)構(gòu)，從而實現(xiàn)oled顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點，進而滿足大部分科研及工業(yè)生產(chǎn)需要。

以上所揭露的僅為本發(fā)明的較佳實施例，不能以此來限定本發(fā)明的權(quán)利保護范圍，因此依本發(fā)明申請專利范圍所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。