技術特征：

技術總結
本發(fā)明公開了一種基于全反射動態(tài)圖像采集的孔內表面質量缺陷檢測裝置及方法，裝置包括調節(jié)支架、圖像采集模塊、支撐筒和反射鏡，其中，所述支撐筒設置在調節(jié)支架上，為中空結構，支撐筒內上端設置有圖像采集模塊，所述支撐筒下端設置有反射鏡，且支撐筒上與反射鏡的照射面相對應的一側設有圖像采集口，且反射鏡與圖像采集模塊的位置相適配，調節(jié)支架帶動支撐筒在孔內運動，通過反射鏡反射孔內表面圖像，圖像采集模塊采集孔內各個位置處的圖像。

技術研發(fā)人員：趙娟;劉松年;夏長鵬;滿治強;孫國梁;張書凱;黃軍;王妍研;韓露娟;陳明
受保護的技術使用者：青島理工大學
技術研發(fā)日：2017.06.13
技術公布日：2017.08.04