技術(shù)特征:
技術(shù)總結(jié)
一種改良的B?H測量線圈,其中磁場強(qiáng)度測量線圈由4層印制電路板PCB制成,針對每層板進(jìn)行布線,使中間兩層通過過孔連接形成內(nèi)層H測量線圈,外側(cè)兩層通過同樣方法形成外層H測量線圈,內(nèi)外測量線圈通過過孔串聯(lián)形成整體H測量線圈。同時(shí),磁通密度測量線圈由4層印制電路板PCB制成,每層為螺旋形布線形成閉合導(dǎo)體,且每層板內(nèi)布線相同,通過過孔串聯(lián)連接,形成整體B測量線圈。在使用改良的B?H測量線圈行二維磁特性測量前,需得到B?H測量線圈與對應(yīng)線圈端電壓的準(zhǔn)確關(guān)系,即進(jìn)行測量線圈標(biāo)定,其標(biāo)定方法各有五大步驟。該測量線圈結(jié)構(gòu)可靠性、精確度高,測量更加方便。
技術(shù)研發(fā)人員:丁曉峰;任素萍;翟容
受保護(hù)的技術(shù)使用者:北京航空航天大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日:2017.06.20
技術(shù)公布日:2017.10.20