本發(fā)明涉及一種無損檢測方法，特別是涉及一種非金屬材料形變裂紋檢測方法。

背景技術(shù)：

隨著生產(chǎn)和科學技術(shù)的進步，尤其是無機化學和有機化學工業(yè)的發(fā)展，人類以天然的礦物、植物、石油等為原料，制造和合成了許多新型非金屬材料，如水泥、人造石墨、特種陶瓷、合成橡膠、合成樹脂（塑料）、合成纖維等。這些非金屬材料因具有各種優(yōu)異的性能，被廣泛應用于工、農(nóng)業(yè)領(lǐng)域，基礎(chǔ)建設(shè)領(lǐng)域和我們的日常生活中。隨著非金屬材料在各個領(lǐng)域應用范圍的日益擴大，也給此類材料相應性能的檢測提出了要求，特別是對非金屬材料形變的檢測，例如，某大型拱橋在長期使用過程中由于外部環(huán)境等因素引發(fā)結(jié)構(gòu)形變而導致發(fā)生橋斷裂事故，某隧道在其在役期間由于自然或人為等因素的作用引發(fā)結(jié)構(gòu)損傷而導致隧道驟然崩塌，針對此類事故的發(fā)生均是因為結(jié)構(gòu)件發(fā)生了結(jié)構(gòu)形變卻不能及時發(fā)現(xiàn)引起的，因此有必要對此類非金屬材料的形變進行檢測，這樣便能夠及時的發(fā)現(xiàn)問題并采取預防措施，防范于未然，減少安全事故的發(fā)生。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之不足，提供一種非金屬材料形變裂紋檢測方法，在非金屬材料表面刷鍍一層金屬微粒涂料，經(jīng)一定周期后采用電磁渦流檢測方法，間接檢測非金屬材料表面形變或裂紋。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種非金屬材料形變裂紋檢測方法，其特征在于：基于電磁渦流檢測方法，包括如下步驟，

a.首先采用含有金屬微粒的涂料刷鍍在被檢非金屬材料表面形成一個金屬微粒涂層；

b.待金屬微粒涂層干固后，采用渦流檢測探頭掃查金屬微粒涂層表面，當被檢非金屬材料表面有形變或裂紋時，刷鍍在該形變或裂紋處的金屬微粒涂層將有不連續(xù)，渦流檢測探頭掃查到該形變或裂紋處的金屬微粒涂層時的渦流檢測信號中將出現(xiàn)相應的形變渦流缺陷信號或裂紋渦流缺陷信號，以此間接檢測出被檢非金屬材料表面形變或裂紋。

本發(fā)明的有益效果是，一種非金屬材料形變裂紋檢測方法，在非金屬材料表面刷鍍一層金屬微粒涂料，經(jīng)一定周期后采用電磁渦流檢測方法，間接檢測非金屬材料表面形變或裂紋，本方法在不損害被檢非金屬材料性能結(jié)構(gòu)的前提下，有效解決了非金屬材料形變或裂紋等缺陷的在役關(guān)鍵部位檢測難題。

以下結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明，但本發(fā)明的一種非金屬材料形變裂紋檢測方法不局限于實施例。

附圖說明

下面結(jié)合附圖中實施例對本發(fā)明進一步說明。

圖1是本發(fā)明實施例的檢測方法示意圖。

圖2是本發(fā)明實施例的非金屬材料表面形變檢測示意圖。

圖3是本發(fā)明實施例的非金屬材料表面裂紋檢測示意圖。

圖中，1.金屬微粒涂層，2.渦流檢測探頭，3.被檢非金屬材料，30.形變，31.裂紋，e.渦流檢測信號，b.形變渦流缺陷信號，l.裂紋渦流缺陷信號。

具體實施方式

實施例，如圖1、圖2、圖3所示，一種非金屬材料形變裂紋檢測方法，其特征在于：基于電磁渦流檢測方法，包括如下步驟，

a.首先采用含有金屬微粒的涂料刷鍍在被檢非金屬材料表面形成一個金屬微粒涂層1；

b.待金屬微粒涂層1干固后，采用渦流檢測探頭2掃查金屬微粒涂層1表面，當被檢非金屬材料3表面有形變30或裂紋31時，刷鍍在該形變30或裂紋31處的金屬微粒涂層1將有不連續(xù)，渦流檢測探頭2掃查到該形變30或裂紋31處的金屬微粒涂層1時的渦流檢測信號e中將出現(xiàn)相應的形變渦流缺陷信號b或裂紋渦流缺陷信號l，以此間接檢測出被檢非金屬材料3表面形變30或裂紋31。

上述實施例僅用來進一步說明本發(fā)明的一種非金屬材料形變裂紋檢測方法，但本發(fā)明并不局限于實施例，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均落入本發(fā)明技術(shù)方案的保護范圍內(nèi)。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種非金屬材料表面形變裂紋檢測方法，在非金屬材料表面刷鍍一層金屬微粒涂料，經(jīng)一定周期后，采用電磁渦流檢測方法，間接檢測非金屬材料表面形變或裂紋，本方法在不損害被檢非金屬材料性能結(jié)構(gòu)的前提下，有效解決了非金屬材料形變或裂紋等缺陷的在役關(guān)鍵部位檢測難題。

技術(shù)研發(fā)人員：林俊明
受保護的技術(shù)使用者：愛德森（廈門）電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.20
技術(shù)公布日：2017.10.24