本實用新型涉及人工晶狀體光譜透過率測量，是一種輔助測量工裝。

背景技術(shù)：

光譜透過率測試是人工晶狀體必須要做的試驗之一，也是判斷人工晶狀體性能的一個重要指標(biāo)，直接影響人工晶狀體的成像質(zhì)量及有害光的透過濾，普通測量人工晶狀體光譜透過率是把人工晶狀體直接放置于比色皿中，通過紫外分光光度計進行測量，在測量過程中因晶狀體漂浮或者振動都會造成測量不準(zhǔn)確，形成光譜漂移，因此測量人工晶狀體光譜透過率非常困難，需要反復(fù)測量才能得到一個比較好的曲線。本實用新型提供的一種人工晶狀體光譜透過率測工裝設(shè)備，降低了人工晶狀體光譜透過率的測量難度，并且極大的提高了測量效果和測量準(zhǔn)確率。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用型的目的在于，克服現(xiàn)有技術(shù)設(shè)備不足之處，提供一種人工晶狀體光譜透過率測工裝設(shè)備，提高人工晶狀體光譜透過率的測量效果與效率。

本實用新型所述的一種人工晶狀體光譜透過率測定工裝設(shè)備，其特征是：工裝設(shè)備主體由大小相等的兩部分組成，兩個部分通過卯榫結(jié)構(gòu)結(jié)合在一起，材料比重大，晶托和蓋子兩部分在相同位置開有等半徑透光孔，其孔徑略大于人工晶狀體光學(xué)半徑。其中，蓋子為帶有卯眼部分，晶托為帶有榫頭部分，兩部分組合形成人工晶狀體卡槽，可以把待測量人工晶狀體固定在等半徑透光孔中間而避免透過面發(fā)生偏移使得測量數(shù)據(jù)精確度更高。并且設(shè)備主體由亞光黑色材質(zhì)做成，抗反射光干擾，提高了測量的準(zhǔn)確性。

本實用型所述的一種人工晶狀體光譜透過率測工裝設(shè)備，整體結(jié)構(gòu)簡單，操作簡單方便，穩(wěn)定性好，可靠性高。使用本實用型所述的一種人工晶狀體光譜透過率測工裝設(shè)備，既能提高測量效果，又能提高測量準(zhǔn)確率。

附圖說明

附圖1是本實用新型所述一種人工晶狀體光譜通過率測工裝設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖1 人工晶狀體光譜通過率測工裝設(shè)備。

附圖1中：1—蓋子，2—晶托，3—卯眼，4—榫頭，5—透光孔，6—晶體卡槽。

具體實施方式

現(xiàn)參照附圖1，結(jié)合實例說明如下：本實用新型所述的一種人工晶狀體光譜透過率測工裝設(shè)備，包括如圖所示1與2兩個拼接成主體部分。本實用新型所述的一種人工晶狀體光譜透過率測工裝設(shè)備：

1. 測量時，首先分開晶托和蓋子兩個部分。

2. 用鑷子將人工晶狀體放入晶托上通光孔處的卡槽部分，對準(zhǔn)插槽將晶托和蓋子結(jié)合在一起。

3. 將裝有人工晶狀體的工裝放入盛有純化水的比色皿里，擦拭比色皿外壁，放入分光光度計內(nèi)開始測量。

使用本實用新型所述的一種人工晶狀體光譜透過率測工裝設(shè)備，操作使用方便，穩(wěn)定性好，可靠性高，既縮短了測量時間，又提高了測量效果與準(zhǔn)確性。