本實(shí)用新型涉及測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種ICT綜合測(cè)試儀。

背景技術(shù)：

現(xiàn)在市場(chǎng)中ICT測(cè)試設(shè)備是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備，它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速和故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。但是普遍存在以下幾點(diǎn)缺點(diǎn)：

1.現(xiàn)有技術(shù)中的ICT測(cè)試儀，如專利號(hào)為CN201120347491.9的中國(guó)專利公開(kāi)的一種ICT測(cè)試儀，僅能對(duì)電子元器件進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)試，而且在線生產(chǎn)上大規(guī)模的應(yīng)用還有一定的困難；

2.板卡尺寸過(guò)大，一套設(shè)備的占用面積大；

3.測(cè)試項(xiàng)目少，大多數(shù)不包含功能測(cè)試，若有在線測(cè)試與功能測(cè)試同時(shí)測(cè)試的需求，需要增加額外的工位，極大的增加了設(shè)備成本和場(chǎng)地占用面積。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種可以擴(kuò)展FCT功能，同時(shí)具有傳統(tǒng)ICT基本功能的ICT綜合測(cè)試儀。

本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是：所述ICT綜合測(cè)試儀包括主機(jī)箱、適配器、電源及接插件，它還包括ICT測(cè)試主板、64點(diǎn)通道板和可選功能測(cè)試板，所述ICT測(cè)試主板、所述64點(diǎn)通道板及所述可選功能測(cè)試板均與所述主機(jī)箱連接，所述ICT測(cè)試主板包括12VDC輸入接口、SD卡通訊接口、485通訊接口、USB通訊接口、RS232通訊接口、8路光耦隔離輸入接口、8路光耦隔離輸出接口、36PIN功能擴(kuò)展接口和20PIN通道板接口，所述64點(diǎn)通道板裝置有64PIN通用牛角插座和10PIN特殊功能接口，所述可選功能測(cè)試板根據(jù)需求擴(kuò)展功能測(cè)試模塊電路，所述可選功能測(cè)試板上裝置有LED功能測(cè)試模塊電路和大電流輸出電路。

進(jìn)一步地，所述ICT測(cè)試主板上裝置有麥克風(fēng)靈敏度測(cè)試模塊電路、模擬信號(hào)放大采集電路、模擬帶通濾波器電路、IIC通信測(cè)試模塊電路、電源模塊電路、電容測(cè)試模塊電路和恒流源模塊電路。

再進(jìn)一步地，所述ICT測(cè)試主板上還裝置有0-5V可調(diào)恒壓上拉電路。

本實(shí)用新型的有益效果是：由于本實(shí)用新型包括主機(jī)箱、適配器、電源及接插件，它還包括ICT測(cè)試主板、64點(diǎn)通道板和可選功能測(cè)試板，所述ICT測(cè)試主板、所述64點(diǎn)通道板及所述可選功能測(cè)試板均與所述主機(jī)箱連接，所述ICT測(cè)試主板包括12VDC輸入接口、SD卡通訊接口、485通訊接口、USB通訊接口、RS232通訊接口、8路光耦隔離輸入接口、8路光耦隔離輸出接口、36PIN功能擴(kuò)展接口和20PIN通道板接口，所述64點(diǎn)通道板裝置有64PIN通用牛角插座和10PIN特殊功能接口，所述可選功能測(cè)試板根據(jù)需求擴(kuò)展功能測(cè)試模塊電路，所述可選功能測(cè)試板上裝置有LED功能測(cè)試模塊電路和大電流輸出電路；所述ICT測(cè)試主板通過(guò)各種接口的引入，使得整個(gè)ICT綜合測(cè)試儀在具備傳統(tǒng)的功能的基礎(chǔ)上，同時(shí)可擴(kuò)展FCT新功能。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板麥克風(fēng)靈敏度測(cè)試濾波部分原理示意圖；

圖2是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板IIC通信測(cè)試部分原理圖；

圖3是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板IIC通信測(cè)試部分的第一部分的放大原理圖；

圖4是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板IIC通信測(cè)試部分的第二部分的放大原理圖；

圖5是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板恒流源部分原理圖；

圖6是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板恒流源部分的第一部分的放大原理圖；

圖7是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板恒流源部分的第二部分的放大原理圖；

圖8是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板電容測(cè)試部分原理圖；

圖9是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板電容測(cè)試部分的第一部分的放大原理圖；

圖10是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板電容測(cè)試部分的第二部分的放大原理圖；

圖11是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板電容測(cè)試部分的第三部分的放大原理圖；

圖12是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板電源模塊部分原理圖；

圖13是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板電源模塊部分的第一部分的放大原理圖；

圖14是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板電源模塊部分的第二部分的放大原理圖；

圖15是本實(shí)用新型的ICT測(cè)試主板模擬信號(hào)采集放大部分原理圖；

圖16是本實(shí)用新型的原理框圖。

具體實(shí)施方式

如圖1至圖16所示，本實(shí)用新型包括主機(jī)箱、適配器、電源及接插件。它還包括ICT測(cè)試主板、64點(diǎn)通道板和可選功能測(cè)試板，所述ICT測(cè)試主板、所述64點(diǎn)通道板及所述可選功能測(cè)試板均與所述主機(jī)箱連接，所述ICT測(cè)試主板包括12VDC輸入接口、SD卡通訊接口、485通訊接口、USB通訊接口、RS232通訊接口、8路光耦隔離輸入接口、8路光耦隔離輸出接口、36PIN功能擴(kuò)展接口和20PIN通道板接口，所述64點(diǎn)通道板裝置有64PIN通用牛角插座和10PIN特殊功能接口，所述可選功能測(cè)試板根據(jù)需求擴(kuò)展功能測(cè)試模塊電路，所述可選功能測(cè)試板上裝置有LED功能測(cè)試模塊電路和大電流輸出電路。所述ICT測(cè)試主板上裝置有麥克風(fēng)靈敏度測(cè)試模塊電路、模擬信號(hào)放大采集電路、模擬帶通濾波器電路、IIC通信測(cè)試模塊電路、電源模塊電路、電容測(cè)試模塊電路、恒流源模塊電路和0-5V可調(diào)恒壓上拉電路。

本實(shí)施例中，由于麥克風(fēng)靈敏度測(cè)試模塊電路采集到的模擬信號(hào)十分微弱，我們通常處理是先放大模擬信號(hào)再采集，但是測(cè)試周圍存在著很多同樣十分微弱的干擾信號(hào)，在我們進(jìn)行模擬信號(hào)放大后一起被放大了，因此需要進(jìn)行濾波。測(cè)麥克風(fēng)靈敏度主要是針對(duì)人聲的靈敏度，而平常人聲的頻率主要集中在1KHz左右，因此本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀使用模擬帶通濾波器對(duì)1KHz以外頻率的干擾波進(jìn)行濾波。

針對(duì)不同的IC，需要用到不同的上拉電壓加到SCL線和SDA線上，通常IC正常工作電壓在1.8V-5V，因此我們要想進(jìn)行IIC通信，就必須在SCL線和SDA線上加入上拉電壓，本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀使用DAC IC提供連續(xù)可調(diào)電壓，滿足不同IC的上拉電壓需求。本實(shí)施例的測(cè)試過(guò)程中有很多地方需要用到穩(wěn)定的恒流源24V。

本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀有兩種測(cè)量電容的方法，一種是頻率法，另一種是充電法，測(cè)量小電容使用頻率法，測(cè)量大電容使用充電法。此外，具有性能優(yōu)良的電源對(duì)模擬信號(hào)的測(cè)試尤為關(guān)鍵，本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀的電源紋波小，用示波器觀察在20mV刻度下看紋波都特別好。

具體的，對(duì)于電阻的測(cè)試，測(cè)試范圍為0.01歐姆-40兆歐姆，測(cè)試速度為30-100ms；對(duì)于電容的測(cè)試，測(cè)試范圍為10pF-2200uF，測(cè)試速度為30-100ms。此外，采用本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀還可以對(duì)二極管、齊納二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管和光電耦合管進(jìn)行測(cè)試，還能進(jìn)行開(kāi)路、短路測(cè)試，以及對(duì)繼電器、運(yùn)算放大器和電源模塊進(jìn)行功能測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速和故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。采用本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀能夠?qū)崿F(xiàn)在線測(cè)試電子元器件，即時(shí)反映生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升，為現(xiàn)代化生產(chǎn)的品質(zhì)提供強(qiáng)有力的保證，而且能夠縮短生產(chǎn)過(guò)程，提高生產(chǎn)效率。

總之，本實(shí)用新型不僅能夠?qū)﹄娮?、電容、二極管等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、光電耦合管、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器和電源模塊進(jìn)行功能測(cè)試，而且把在線測(cè)試儀和功能測(cè)試儀整合在一起，如：麥克風(fēng)靈敏度測(cè)試、IIC通訊測(cè)試、LED測(cè)試等功能測(cè)試。降低了生產(chǎn)成本，縮短了生產(chǎn)過(guò)程，優(yōu)化了需要自動(dòng)化區(qū)分測(cè)試和處理產(chǎn)品的在線生產(chǎn)線，而且能夠縮短生產(chǎn)過(guò)程，提高生產(chǎn)效率。而且通過(guò)更換不同夾具和載入不同的程序，可以方便的更換生產(chǎn)線，從而使得本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀適用于各種生產(chǎn)線，應(yīng)用范圍廣泛。

根據(jù)上述說(shuō)明書的揭示和指導(dǎo)，本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員還可以對(duì)上述實(shí)施方式進(jìn)行適當(dāng)?shù)淖兏托薷?。因此，本?shí)用新型ICT測(cè)試儀并不局限于上面揭示和描述的具體實(shí)施方式，對(duì)本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀的一些修改和變更也應(yīng)當(dāng)落入本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀的權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。此外，盡管本說(shuō)明書中使用了一些特定的術(shù)語(yǔ)，但這些術(shù)語(yǔ)只是為了方便說(shuō)明，并不對(duì)本實(shí)用新型ICT測(cè)試儀構(gòu)成任何限制。