本實(shí)用新型涉及實(shí)驗(yàn)用品技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種可調(diào)節(jié)的原子熒光分光光度計(jì)用進(jìn)樣試管架。

背景技術(shù)：

原子熒光光譜分析(AFS)是20世紀(jì)60年代中期提出并發(fā)展起來(lái)的光譜分析技術(shù)，它是原子吸收和原子發(fā)射光譜的綜合與發(fā)展，是一種優(yōu)良的痕量分析技術(shù)，常用來(lái)進(jìn)行環(huán)境中重金屬元素含量的檢測(cè)。但是在利用原子熒光分光光度計(jì)檢測(cè)的過(guò)程中，需要測(cè)試很多組樣品，需要通過(guò)進(jìn)樣試管架調(diào)制多種化學(xué)試劑，但傳統(tǒng)的進(jìn)樣試管架的高度是固定不變的，難以調(diào)節(jié)，適用性不強(qiáng)，因此需要改進(jìn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于提供一種可調(diào)節(jié)的原子熒光分光光度計(jì)用進(jìn)樣試管架，以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種可調(diào)節(jié)的原子熒光分光光度計(jì)用進(jìn)樣試管架，包括底板，所述底板的左右兩側(cè)的中部上端均固定安裝有豎板，所述豎板的外部均插接有套管，所述套管的底部外側(cè)均焊接有管體，所述管體的內(nèi)部外端均焊接有圓環(huán)，所述圓環(huán)的內(nèi)端均設(shè)有彈簧，所述彈簧的內(nèi)端均設(shè)有插接桿，所述套管的底部外側(cè)均開(kāi)設(shè)有第一插接孔，所述第一插接孔的內(nèi)側(cè)豎板的基體上均開(kāi)設(shè)有第二插接孔，所述插接桿的內(nèi)端穿過(guò)第一插接孔位于第一插接孔的內(nèi)部，所述插接桿的外端均焊接有拉桿，所述拉桿的外端穿過(guò)圓環(huán)的內(nèi)環(huán)，所述套管的上端焊接有下承載板，所述下承載板的上端通過(guò)連接板安裝有上承載板，所述上承載板和下承載板的基體上開(kāi)設(shè)有一一對(duì)應(yīng)的第三插接孔和插接槽。

優(yōu)選的，所述下承載板的左右兩側(cè)的中部外端均焊接有伸縮桿，所述下承載板的左右兩側(cè)的伸縮桿的外端均通過(guò)連接桿分別與下承載板的左右兩側(cè)的拉桿的外端固定連接。

優(yōu)選的，所述豎板的基體上均開(kāi)設(shè)有五個(gè)第二插接孔，且第二插接孔呈等距線性設(shè)置。

優(yōu)選的，所述套管的底部?jī)?nèi)端均開(kāi)設(shè)有第四插接孔，且第四插接孔的內(nèi)端為密封設(shè)置，且內(nèi)端穿過(guò)第一插接孔和第一插接孔位于第四插接孔的內(nèi)部。

優(yōu)選的，所述插接桿的內(nèi)端均設(shè)有尖頭。

優(yōu)選的，所述第三插接孔至少設(shè)有八個(gè)，且第三插接孔呈均勻分布設(shè)置。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是：該可調(diào)節(jié)的原子熒光分光光度計(jì)用進(jìn)樣試管架，操作簡(jiǎn)單，可快速調(diào)節(jié)進(jìn)樣試管架的高度，定位方便，適合大規(guī)模推廣。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)切面圖；

圖2為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)切面圖中的A部放大圖；

圖3為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)切面圖中的B部放大圖。

圖中：1底板、2豎板、3套管、4管體、5圓環(huán)、6彈簧、7插接桿、8第一插接孔、9第二插接孔、10拉桿、11下承載板、12連接板、13上承載板、14第三插接孔、15插接槽、16伸縮桿、17連接桿、18第四插接孔、19尖頭。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參閱圖1-3，本實(shí)用新型提供一種技術(shù)方案：一種可調(diào)節(jié)的原子熒光分光光度計(jì)用進(jìn)樣試管架，包括底板1，所述底板1的左右兩側(cè)的中部上端均固定安裝有豎板2，所述豎板2的外部均插接有套管3，所述套管3的底部外側(cè)均焊接有管體4，所述管體4的內(nèi)部外端均焊接有圓環(huán)5，所述圓環(huán)5的內(nèi)端均設(shè)有彈簧6，所述彈簧6的內(nèi)端均設(shè)有插接桿7，所述套管3的底部外側(cè)均開(kāi)設(shè)有第一插接孔8，所述第一插接孔8的內(nèi)側(cè)豎板2的基體上均開(kāi)設(shè)有第二插接孔9，所述插接桿7的內(nèi)端穿過(guò)第一插接孔8位于第一插接孔8的內(nèi)部，所述插接桿7的外端均焊接有拉桿10，所述拉桿10的外端穿過(guò)圓環(huán)5的內(nèi)環(huán)，所述套管3的上端焊接有下承載板11，所述下承載板11的上端通過(guò)連接板12安裝有上承載板13，所述上承載板13和下承載板11的基體上開(kāi)設(shè)有一一對(duì)應(yīng)的第三插接孔14和插接槽15。

具體地，所述下承載板11的左右兩側(cè)的中部外端均焊接有伸縮桿16，所述下承載板11的左右兩側(cè)的伸縮桿16的外端均通過(guò)連接桿17分別與下承載板11的左右兩側(cè)的拉桿10的外端固定連接。需要調(diào)節(jié)進(jìn)樣試管架的高度時(shí)，只需握住連接桿17向外拉動(dòng)帶動(dòng)拉桿10向外運(yùn)動(dòng)，使拉桿10的內(nèi)端與第二插接孔9分離，握住連接桿17上下移動(dòng)下承載板11，當(dāng)調(diào)節(jié)到合適的高度后，松開(kāi)連接桿17，在彈簧6的作用下，插接桿7的內(nèi)端穿過(guò)第一插接孔8位于第一插接孔8的內(nèi)部，完成定位，操作更加簡(jiǎn)單。

具體地，所述豎板2的基體上均開(kāi)設(shè)有五個(gè)第二插接孔9，且第二插接孔9呈等距線性設(shè)置。第二插接孔9方便調(diào)節(jié)試管架的不同高度。

具體地，所述套管3的底部?jī)?nèi)端均開(kāi)設(shè)有第四插接孔18，且第四插接孔18的內(nèi)端為密封設(shè)置，且內(nèi)端穿過(guò)第一插接孔8和第一插接孔8位于第四插接孔18的內(nèi)部。提高了定位效果。

具體地，所述插接桿7的內(nèi)端均設(shè)有尖頭19。方便插接桿7的內(nèi)端穿過(guò)第一插接孔8位于第一插接孔8的內(nèi)部

具體地，所述第三插接孔14至少設(shè)有八個(gè)，且第三插接孔14呈均勻分布設(shè)置。有多個(gè)第三插接孔14就有多個(gè)插接槽15，可同時(shí)插入多個(gè)試管。

該可調(diào)節(jié)的原子熒光分光光度計(jì)用進(jìn)樣試管架，使用時(shí)，將試管的下端穿過(guò)第三插接孔14放入插接槽15的內(nèi)部，然后進(jìn)行添加化學(xué)試劑進(jìn)行調(diào)制，需要調(diào)節(jié)進(jìn)樣試管架的高度時(shí)，向外拉動(dòng)拉桿10，使拉桿10的內(nèi)端與第二插接孔9分離，然后上下移動(dòng)下承載板11，當(dāng)調(diào)節(jié)到合適的高度后，松開(kāi)拉桿10，在彈簧6的作用下，插接桿7的內(nèi)端穿過(guò)第一插接孔8位于第一插接孔8的內(nèi)部，完成定位，操作簡(jiǎn)單，可快速調(diào)節(jié)進(jìn)樣試管架的高度，定位方便，適合大規(guī)模推廣。

盡管已經(jīng)示出和描述了本實(shí)用新型的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本實(shí)用新型的原理和精神的情況下可以對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型，本實(shí)用新型的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。