技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型公開了一種微波暗室，包括電磁屏蔽室、安裝于所述電磁屏蔽室內(nèi)壁的吸波材料及測(cè)量天線，所述吸波材料至少上部為周期性角錐，其特征在于，所述微波暗室中至少位于非垂直入射的主反射區(qū)的吸波材料的角錐的棱邊朝向主要來波方向。本實(shí)用新型通過一種簡(jiǎn)單，易操作，低成本的方式，在不改變暗室結(jié)構(gòu)或吸波材料高度的情況下，僅僅通過改變吸波材料的布局就可以極大程度降低暗室反射，創(chuàng)造一個(gè)更純凈的測(cè)量環(huán)境，提高測(cè)量精度。

技術(shù)研發(fā)人員：漆一宏;于偉;羅慶春;沈鵬輝
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市通用測(cè)試系統(tǒng)有限公司
文檔號(hào)碼：201720033109
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.12
技術(shù)公布日：2017.08.15