本實用新型涉及電流檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是指一種近零磁通電流檢測技術(shù)。

背景技術(shù)：

目前有無源近零磁通電流傳感器和有源近零磁通技術(shù)，無源近零磁通電流傳感器，精度大概在0.1ma，對于因為環(huán)境的變化引起誤差不容易調(diào)節(jié)，而現(xiàn)有的有源近零磁通技術(shù)電路設(shè)計結(jié)構(gòu)較復(fù)雜，組件較多，易受干擾。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型提出一種近零磁通電流檢測技術(shù)，解決現(xiàn)有技術(shù)中電流傳感器容易因環(huán)境等因素變化引起的相位、元器件參數(shù)等的變化的問題。

本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的：

一種近零磁通電流檢測技術(shù)，包括待測電流輸入模塊、補償電流輸入模塊、MCU和電壓電流轉(zhuǎn)換模塊，所述待測電流輸入模塊和補償電流輸入模塊分別與MCU的輸入端連接，所述MCU的輸出端連接第三模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊，所述第三模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊連接電壓電流轉(zhuǎn)換模塊。

進(jìn)一步的，所述待測電流輸入模塊包括第一感應(yīng)線圈、第一運算放大器和第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊，所述第一感應(yīng)線圈、第一運算放大器和第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊串聯(lián)連接。

進(jìn)一步的，所述補償電流輸入模塊包括電流傳感器、第二運算放大器和第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊，所述電流傳感器、第二運算放大器和第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊串聯(lián)連接。

待測電流經(jīng)過第一感應(yīng)線圈后經(jīng)第一運算放大器放大，然后通過第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后送到MCU，同樣，補償電流輸入模塊經(jīng)過電流傳感器后經(jīng)第二運算放大器放大，然后通過第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后送到MCU，MCU經(jīng)過比例、積分運算，在通過D/A轉(zhuǎn)換，電壓轉(zhuǎn)換為電流，然后在電流回路上采樣測得電線中電流值。

綜上所述，本實用新型的優(yōu)點在于：本實用新型的一種近零磁通電流檢測技術(shù)，設(shè)置補償電流輸入模塊，比較方便的解決因為環(huán)境等因素變化引起的相位、元器件參數(shù)等的變化，實現(xiàn)使用過程中的精度跟蹤和控制。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型一種近零磁通電流檢測技術(shù)框架結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中，1-待測電流輸入模塊；2-補償電流輸入模塊；3-MCU；4-電壓電流轉(zhuǎn)換模塊；5-第三模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊；6-第一感應(yīng)線圈；7-第一運算放大器；8-第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊；9-電流傳感器；10-第二運算放大器；11-第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊。

具體實施方式

下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。

如圖1所述，一種近零磁通電流檢測技術(shù)，包括待測電流輸入模塊1、補償電流輸入模塊2、MCU3和電壓電流轉(zhuǎn)換模塊4，所述待測電流輸入模塊1和補償電流輸入模塊2分別與MCU3的輸入端連接，所述MCU的輸出端連接第三模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊5，所述第三模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊連接電壓電流轉(zhuǎn)換模塊4，所述待測電流輸入模塊包括第一感應(yīng)線圈6、第一運算放大器7和第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊8，所述第一感應(yīng)線圈6、第一運算放大器7和第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊8串聯(lián)連接，所述補償電流輸入模塊包括電流傳感器9、第二運算放大器10和第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊11，所述電流傳感器9、第二運算放大器10和第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊11串聯(lián)連接，待測電流經(jīng)過第一感應(yīng)線圈后經(jīng)第一運算放大器放大，然后通過第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后送到MCU，同樣，補償電流輸入模塊經(jīng)過電流傳感器后經(jīng)第二運算放大器放大，然后通過第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后送到MCU，MCU經(jīng)過比例、積分運算，在通過D/A轉(zhuǎn)換，電壓轉(zhuǎn)換為電流，然后在電流回路上采樣測得電線中電流值。

以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。