1.一種擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，包含：絕緣殼體、控制單元、驅(qū)動單元、絕緣傳動軸、導(dǎo)電傳動軸、第一導(dǎo)電口、第二導(dǎo)電口、第一旋轉(zhuǎn)刀盤、第二旋轉(zhuǎn)刀盤；
所述驅(qū)動單元與所述控制單元電性連接，用于帶動所述絕緣傳動軸旋轉(zhuǎn)；
所述驅(qū)動單元還包含離合器，所述離合器在啟動時帶動所述第一旋轉(zhuǎn)刀盤轉(zhuǎn)動；
所述絕緣傳動軸與所述導(dǎo)電傳動軸同軸心固定連接，并位于所述絕緣殼體內(nèi)；
所述第一導(dǎo)電口設(shè)置在所述絕緣殼體上，用于外接輸入電壓；
所述第二導(dǎo)電口設(shè)置在所述絕緣殼體上，用于外接輸出電壓；
所述第一旋轉(zhuǎn)刀盤為絕緣體，并設(shè)有N個電壓工位，N為大于1的自然數(shù)，所述各電壓工位與所述導(dǎo)電傳動軸電性連接，并用于與不同的電壓電性連接，在所述電壓工位位于所述第一導(dǎo)電口處時，所述電壓工位與所述第一導(dǎo)電口導(dǎo)通；
所述第二旋轉(zhuǎn)刀盤為絕緣體，設(shè)置在所述導(dǎo)電傳動軸上，并設(shè)有M個測試工位，M為大于1的自然數(shù)，所述各測試工位與所述導(dǎo)電傳動軸電性連接，并用于與不同的待測試品電性連接，在所述測試工位位于所述第二導(dǎo)電口處時，所述測試工位與所述第二導(dǎo)電口導(dǎo)通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，所述第一旋轉(zhuǎn)刀盤上設(shè)有N個第一擋片，所述各第一擋片與所述各電壓工位一一對應(yīng)；
所述擊穿電壓試驗設(shè)備還包括，第一感應(yīng)裝置，設(shè)置在所述絕緣殼體上，與所述控制單元電性連接，用于感應(yīng)所述第一擋片，并且在所述第一感應(yīng)裝置感應(yīng)到其中一第一擋片時，該第一擋片對應(yīng)的電壓工位與所述第一導(dǎo)電口導(dǎo)通。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，所述第二旋轉(zhuǎn)刀盤上設(shè)有M個第二擋片，所述各第二擋片與所述各測試工位一一對應(yīng)；
所述擊穿電壓試驗設(shè)備還包括，第二感應(yīng)裝置，設(shè)置在所述絕緣殼體上，與所述控制單元電性連接，用于感應(yīng)所述第二擋片，并且在所述第二感應(yīng)裝置感應(yīng)到其中一第二擋片時，該第二擋片對應(yīng)的測試工位與所述第二導(dǎo)電口導(dǎo)通。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，所述絕緣殼體具有鏤空結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，所述驅(qū)動單元包括電機與減速器，所述電機與所述控制單元電性連接，所述電機與所述減速器連接，所述減速器與所述絕緣傳動軸連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，還包括軸承組件，與所述導(dǎo)電傳動軸固定并電性連接，用于安裝所述第一旋轉(zhuǎn)刀盤，所述各電壓工位分別與所述軸承組件電性連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，所述軸承組件包括滾動軸承。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，還包括第一接線螺桿和第二接線螺桿；
所述第一接線螺桿，設(shè)置在所述絕緣殼體上，與所述第一導(dǎo)電口電性連接；
所述第二接線螺桿，設(shè)置在所述絕緣殼體上，與所述第二導(dǎo)電口電性連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，所述第一旋轉(zhuǎn)刀盤具有鏤空結(jié)構(gòu)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擊穿電壓試驗設(shè)備，其特征在于，所述第二旋轉(zhuǎn)刀盤具有鏤空結(jié)構(gòu)。