本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種老化測試擴(kuò)展板。

背景技術(shù)：

由于產(chǎn)品的驗(yàn)證周期的問題，越來越多的產(chǎn)品使用DIP(Dual In-line Package，雙列直插式封裝技術(shù))48封裝技術(shù)進(jìn)行封裝。但由于DIP封裝技術(shù)封裝的產(chǎn)品體積比較大，再加上現(xiàn)有用于DIP48的BIB(Burn in Board，老化測試板)布局設(shè)計(jì)布線限制的原因，每塊老化測試板上面可以放置的產(chǎn)品數(shù)量很有限(每塊老化測試板可以放置36個(gè)產(chǎn)品)；同時(shí)，目前老化測試機(jī)臺(tái)的資源非常有限，即使有足夠的老化測試板，也沒有足夠多的老化測試機(jī)臺(tái)可以使用。上述問題的存在使得老化測試的周期非常長，從而延長產(chǎn)品的驗(yàn)證周期。如果重新購買老化測試機(jī)臺(tái)及老化測試板，則會(huì)大大增加測試成本。

鑒于此，有必要設(shè)計(jì)一種新的老化測試擴(kuò)展板用以解決上述技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種老化測試擴(kuò)展板，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中的老化測試板可以放置的產(chǎn)品數(shù)量非常有限而導(dǎo)致的產(chǎn)品測試驗(yàn)證周期較長的問題，以及為了縮短產(chǎn)品驗(yàn)證周期重新購買設(shè)置老化測試機(jī)臺(tái)及老化測試板而導(dǎo)致的測試成本顯著增加的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實(shí)用新型提供一種老化測試擴(kuò)展板，所述老化測試擴(kuò)展板包括擴(kuò)展板主體，所述擴(kuò)展板主體內(nèi)包括：

第一插接區(qū)域，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；

第二插接區(qū)域，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；

轉(zhuǎn)接區(qū)域，位于所述第一插接區(qū)域與所述第二插接區(qū)域之間，且與所述第一插接區(qū)域及所述第二插接區(qū)域相連接，適于將所述第一插接區(qū)域及所述第二插接區(qū)域相連接。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述第一插接區(qū)域包括：

第一插接孔，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；所述第一插接孔沿所述第一插接區(qū)域的長度方向呈兩排平行間隔排布；兩排所述第一插接孔分別靠近所述第一插接區(qū)域的兩側(cè)，且其中一排所述第一插接孔靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域，另一排所述第一插接孔遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域；

第二插接孔，位于兩排所述第一插接孔之間，且沿所述第一插接區(qū)域的長度方向呈兩排平行間隔排布；其中一排所述第二插接孔與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第一插接孔一一對應(yīng)連接，另一排所述第二插接孔與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第一插接孔一一對應(yīng)連接；

第三插接孔，位于兩排所述第二插接孔之間，且沿所述第一插接孔區(qū)域的長度方向呈兩排平行間隔排布。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述第二插接區(qū)域包括：

第四插接孔，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；所述第四插接孔沿所述第二插接區(qū)域的長度方向呈兩排平行間隔排布；兩排所述第四插接孔分別靠近所述第二插接區(qū)域的兩側(cè)，且其中一排所述第四插接孔靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域，另一排所述第四插接孔遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域；

第五插接孔，位于兩排所述第四插接孔之間，且沿所述第二插接區(qū)域的長度方向呈兩排平行間隔排布；其中一排所述第五插接孔與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第四插接孔一一對應(yīng)連接，另一排所述第五插接孔與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第四插接孔一一對應(yīng)連接；

第六插接孔，位于兩排所述第五插接孔之間，且沿所述第二插接孔區(qū)域的長度方向呈兩排平行間隔排布。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述轉(zhuǎn)接區(qū)域包括第七插接孔，所述第七插接孔沿所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的長度方向呈兩排平行間隔排布；其中一排所述第七插接孔靠近所述第一插接區(qū)域，且與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第三插接孔及靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第六插接孔一一對應(yīng)連接；另一排所述第七插接孔靠近所述第二插接區(qū)域，且與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第三插接孔及遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第六插接孔一一對應(yīng)連接。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述老化測試擴(kuò)展板還包括插接針，所述插接針適于將遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第二插接孔與與其臨近的所述第三插接孔對應(yīng)插接，且適于將遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第五插接孔與與其臨近的所述第六插接孔對應(yīng)插接。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述插接針為U形插針。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述第一插接孔、所述第二插接孔、所述第三插接孔、所述第四插接孔、所述第五插接孔、所述第六插接孔及所述第七插接孔沿所述擴(kuò)展板主體厚度的方向貫穿所述擴(kuò)展板主體。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述擴(kuò)展板主體包括第一表面及第二表面；所述第二插接孔與所述第一插接孔、所述第五插接孔與所述第四插接孔、靠近所述第一插接區(qū)域的所述第七插接孔與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第三插接孔、靠近所述第二插接區(qū)域的所述第七插接孔與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第六插接孔均在所述擴(kuò)展板主體的第一表面相連接；靠近所述第一插接區(qū)域的所述第七插接孔與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第六插接孔、靠近所述第二插接區(qū)域的所述第七插接孔與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的所述第三插接孔均在所述擴(kuò)展板主體的第二表面相連接。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述第一插接區(qū)域的長度方向、所述第二插接區(qū)域的長度方向及所述轉(zhuǎn)接區(qū)域的長度方向相平行。

作為本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板的一種優(yōu)選方案，所述第一插接區(qū)域的尺寸及所述第二插接區(qū)域的尺寸均與老化測試板的尺寸相同。

如上所述，本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板，具有以下有益效果：本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板可以與現(xiàn)有的老化測試板及待測器件底座配合使用，資源容量至少相當(dāng)于現(xiàn)有老化測試板的兩倍，從而增加了一次老化測試中的待測器件的數(shù)量，縮短了產(chǎn)品測試驗(yàn)證周期；本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板還具有結(jié)構(gòu)簡單、公用性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

附圖說明

圖1顯示為本實(shí)用新型實(shí)施例一中提供的老化測試擴(kuò)展板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2顯示為本實(shí)用新型實(shí)施例一中提供的老化測試擴(kuò)展板的第一表面的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3顯示為本實(shí)用新型實(shí)施例一中提供的老化測試擴(kuò)展板的第二表面的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4顯示為本實(shí)用新型實(shí)施例二中提供的老化測試擴(kuò)展板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。

元件標(biāo)號說明

1 擴(kuò)展板主體

11 第一插接區(qū)域

111 第一插接孔

112 第二插接孔

113 第三插接孔

12 第二插接區(qū)域

121 第四插接孔

122 第五插接孔

123 第六插接孔

13 轉(zhuǎn)接區(qū)域

131 第七插接孔

14 插接針

具體實(shí)施方式

以下通過特定的具體實(shí)例說明本實(shí)用新型的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本實(shí)用新型還可以通過另外不同的具體實(shí)施方式加以實(shí)施或應(yīng)用，本說明書中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒有背離本實(shí)用新型的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。

請參閱圖1至圖4。須知，本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容，以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀，并非用以限定本實(shí)用新型可實(shí)施的限定條件，故不具技術(shù)上的實(shí)質(zhì)意義，任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整，在不影響本實(shí)用新型所能產(chǎn)生的功效及所能達(dá)成的目的下，均應(yīng)仍落在本實(shí)用新型所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時(shí)，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本實(shí)用新型可實(shí)施的范圍，其相對關(guān)系的改變或調(diào)整，在無實(shí)質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下，當(dāng)亦視為本實(shí)用新型可實(shí)施的范疇。

實(shí)施例一

請參閱圖1，本實(shí)用新型提供一種老化測試擴(kuò)展板，所述老化測試擴(kuò)展板包括擴(kuò)展板主體1，所述擴(kuò)展板主體1內(nèi)包括：第一插接區(qū)域11，所述第一插接區(qū)域11適于插接用于老化測試的待測器件的插座；第二插接區(qū)域12，所述第二插接區(qū)域12適于插接用于老化測試的待測器件的插座；轉(zhuǎn)接區(qū)域13，所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13位于所述第一插接區(qū)域11與所述第二插接區(qū)域12之間，且與所述第一插接區(qū)域11及所述第二插接區(qū)域12相連接，適于將所述第一插接區(qū)域11及所述第二插接區(qū)域12相連接。

作為示例，所述第一插接區(qū)域包括：第一插接孔111，所述第一插接孔111適于插接用于老化測試的待測器件的插座；所述第一插接孔111沿所述第一插接區(qū)域11的長度方向呈兩排平行間隔排布；兩排所述第一插接孔111分別靠近所述第一插接區(qū)域11的兩側(cè)，且其中一排所述第一插接孔111靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13，另一排所述第一插接孔111遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13；第二插接孔112，所述第二插接孔112位于兩排所述第一插接孔111之間，且沿所述第一插接區(qū)域11的長度方向呈兩排平行間隔排布；其中一排所述第二插接孔112與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第一插接孔111一一對應(yīng)連接，另一排所述第二插接孔112與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第一插接孔111一一對應(yīng)連接；第三插接孔113，所述第三插接孔113位于兩排所述第二插接孔112之間，且沿所述第一插接孔區(qū)域11的長度方向呈兩排平行間隔排布。

需要說明的是，所述第一插接孔區(qū)域11的長度方向?yàn)榇怪庇谒龅谝徊褰訁^(qū)域11、所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13及所述第二插接區(qū)域12的排布方向。

需要進(jìn)一步說明的是，所述第一插接孔111、所述第二插接孔112及所述第三插接孔113的數(shù)量相同。當(dāng)然，在其他示例中，也可以根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置為不同的數(shù)量。

作為示例，所述第二插接區(qū)域12包括：第四插接孔121，所述第四插接孔121適于插接用于老化測試的待測器件的插座；所述第四插接孔121沿所述第二插接區(qū)域12的長度方向呈兩排平行間隔排布；兩排所述第四插接孔121分別靠近所述第二插接區(qū)域12的兩側(cè)，且其中一排所述第四插接孔121靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13，另一排所述第四插接孔121遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13；第五插接孔122，所述第五插接孔122位于兩排所述第四插接孔121之間，且沿所述第二插接區(qū)域12的長度方向呈兩排平行間隔排布；其中一排所述第五插接孔122與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第四插接孔121一一對應(yīng)連接，另一排所述第五插接孔122與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第四插接孔121一一對應(yīng)連接；第六插接孔123，所述第六插接孔123位于兩排所述第五插接孔122之間，且沿所述第二插接孔區(qū)域12的長度方向呈兩排平行間隔排布。

需要說明的是，所述第二插接區(qū)域12的長度方向?yàn)榇怪庇谒龅谝徊褰訁^(qū)域11、所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13及所述第二插接區(qū)域12的排布方向。

需要進(jìn)一步說明的是，所述第四插接孔121、所述第五插接孔122及所述第六插接孔123的數(shù)量相同。當(dāng)然，在其他示例中，也可以根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置為不同的數(shù)量。

作為示例，所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13包括第七插接孔131，所述第七插接孔131沿所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的長度方向呈兩排平行間隔排布；其中一排所述第七插接孔131靠近所述第一插接區(qū)域11，且與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第三插接孔113及靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第六插接孔123一一對應(yīng)連接；另一排所述第七插接孔131靠近所述第二插接區(qū)域12，且與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第三插接孔113及遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第六插接孔123一一對應(yīng)連接。

需要說明的是，需要說明的是，所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的長度方向?yàn)榇怪庇谒龅谝徊褰訁^(qū)域11、所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13及所述第二插接區(qū)域12的排布方向。即所述第一插接區(qū)域11的長度方向、所述第二插接區(qū)域12的長度方向及所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的長度方向相平行。

需要進(jìn)一步說明的是，所述第七插接孔131與所述第一插接孔111、所述第二插接孔112、所述第三插接孔113、所述第四插接孔121、所述第五插接孔122及所述第六插接孔123的數(shù)量相同。當(dāng)然，在其他示例中，也可以根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置為不同的數(shù)量。

作為示例，所述第一插接孔111、所述第二插接孔112、所述第三插接孔113、所述第四插接孔121、所述第五插接孔122、所述第六插接孔123及所述第七插接孔131沿所述擴(kuò)展板主體1厚度的方向貫穿所述擴(kuò)展板主體1。

作為示例，所述擴(kuò)展板主體1包括第一表面及第二表面；所述第二插接孔112與所述第一插接孔111、所述第五插接孔122與所述第四插接孔121、靠近所述第一插接區(qū)域11的所述第七插接孔131與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第三插接孔113、靠近所述第二插接區(qū)域12的所述第七插接孔131與遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第六插接孔123均在所述擴(kuò)展板主體1的第一表面相連接，如圖2所示；靠近所述第一插接區(qū)域11的所述第七插接孔131與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第六插接孔123、靠近所述第二插接區(qū)域12的所述第七插接孔131與靠近所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第三插接孔113均在所述擴(kuò)展板主體1的第二表面相連接，如圖3所示。

作為示例，所述第一插接區(qū)域11的尺寸及所述第二插接區(qū)域12的尺寸均與老化測試板的尺寸相同。

實(shí)施例二

如圖4所示，本實(shí)施例還提供一種老化測試擴(kuò)展板，本實(shí)施例中的所述老化測試擴(kuò)展板的結(jié)構(gòu)與實(shí)施例一中所述的老化測試擴(kuò)展板的結(jié)構(gòu)大致相同，二者的區(qū)別在于：本實(shí)施例中所述的老化測試擴(kuò)展板相較于實(shí)施例一中所述的老化測試擴(kuò)展板增設(shè)了插接針14，所述插接針14適于將遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第二插接孔112與與其臨近的所述第三插接孔113對應(yīng)插接，且適于將遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第五插接孔122與與其臨近的所述第六插接孔123對應(yīng)插接。本實(shí)施例中遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第二插接孔112與與其臨近的所述第三插接孔113及遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)接區(qū)域13的所述第五插接孔122與與其臨近的所述第六插接孔123作為所述老化測試擴(kuò)展板的I/O信號插接孔，將其通過所述插接針14控制連接和斷開，可以有效防止相鄰所述的待測器件插接座上的待測器件輸出干擾。

作為示例，所述插接針14可以為但不僅限于U形插針。

綜上所述，本實(shí)用新型提供一種老化測試擴(kuò)展板，所述老化測試擴(kuò)展板包括擴(kuò)展板主體，所述擴(kuò)展板主體內(nèi)包括：第一插接區(qū)域，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；第二插接區(qū)域，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；轉(zhuǎn)接區(qū)域，位于所述第一插接區(qū)域與所述第二插接區(qū)域之間，且與所述第一插接區(qū)域及所述第二插接區(qū)域相連接，適于將所述第一插接區(qū)域及所述第二插接區(qū)域相連接。本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板可以與現(xiàn)有的老化測試板及待測器件底座配合使用，資源容量至少相當(dāng)于現(xiàn)有老化測試板的兩倍，從而增加了一次老化測試中的待測器件的數(shù)量，縮短了產(chǎn)品測試驗(yàn)證周期；本實(shí)用新型的老化測試擴(kuò)展板還具有結(jié)構(gòu)簡單、公用性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

上述實(shí)施例僅例示性說明本實(shí)用新型的原理及其功效，而非用于限制本實(shí)用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實(shí)用新型的精神及范疇下，對上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本實(shí)用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本實(shí)用新型的權(quán)利要求所涵蓋。