本實(shí)用新型涉及化學(xué)發(fā)光免疫分析儀領(lǐng)域，具體地，涉及用于化學(xué)發(fā)光免疫分析儀中的一種用于光電倍增管的保護(hù)裝置。

背景技術(shù)：

在化學(xué)發(fā)光免疫分析儀中，可以設(shè)置有與光纖連接的探頭，該探頭用于檢測，檢測過程如下：光纖將待測樣品的光信號傳輸至探頭，探頭檢測該光信號。探頭內(nèi)部設(shè)置有光電倍增管，該光電倍增管接收光信號。然而，用于檢測的探頭一般處于兩種狀態(tài)：檢測狀態(tài)和非檢測狀態(tài)。在檢測狀態(tài)下，探頭需要與光纖連通，所以在這種情況下，需要暴露探頭的進(jìn)光口；而在非檢測狀態(tài)下，探頭沒有必要與光纖連通，也不需要暴露探頭的進(jìn)光口。由于光電倍增管的壽命與所接收到的光的強(qiáng)弱有關(guān)，光越強(qiáng)則其壽命越短，而光越弱則其壽命越長。所以，當(dāng)探頭中的光電倍增管長時間接觸強(qiáng)光時，該光電倍增管的壽命會大大降低，因此，需要對光電倍增管進(jìn)行保護(hù)，使光電倍增管在非檢測狀態(tài)下不接觸強(qiáng)光。在這種情況下，需要在探頭的非檢測狀態(tài)下，將探頭的進(jìn)光口遮住，防止強(qiáng)光通過光纖和進(jìn)光口進(jìn)入探頭中，從而損壞光電倍增管。

同時，在現(xiàn)有的化學(xué)發(fā)光免疫分析儀的探頭中，在探頭的進(jìn)光口處沒有用以保護(hù)光電倍增管的部件，使得光電倍增管與強(qiáng)光長期接觸，從而降低光電倍增管的使用壽命。因此，提供一種用于光電倍增管的保護(hù)裝置來保護(hù)光電倍增管，使光電倍增管在不檢測時接觸不到強(qiáng)光，從而延長光電倍增管的使用壽命。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的問題而提出一種用于光電倍增管的保護(hù)裝置。

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：一種用于光電倍增管的保護(hù)裝置1，包括：

探頭7，其用于容納光電倍增管并用于檢測；

固定件6，其置于探頭7與光纖座5之間并包括擋塊4；

電磁鐵2，電磁鐵2通過連桿與擋塊4的一端連接，并控制擋塊4的水平移動；

支撐件3，其用于支撐擋塊4；和

進(jìn)光口9，其設(shè)置在固定件6中，擋塊4通過水平移動而選擇遮擋或暴露進(jìn)光口9。

根據(jù)本實(shí)用新型，擋塊4水平穿過進(jìn)光口9。

根據(jù)本實(shí)用新型，支撐件3位于固定件6中，并具有與進(jìn)光口9相對應(yīng)的口。

根據(jù)本實(shí)用新型，進(jìn)光口9豎直穿過固定件6，并與光纖口和探頭7口相通。

根據(jù)本實(shí)用新型，擋塊4的遮擋面的面積大于進(jìn)光口9的面積。

根據(jù)本實(shí)用新型，電磁鐵(2)為推拉式電磁鐵。

根據(jù)本實(shí)用新型，當(dāng)探頭7檢測時，擋塊4暴露進(jìn)光口9。

根據(jù)本實(shí)用新型，當(dāng)探頭7不檢測時，擋塊4遮擋進(jìn)光口9。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果：

(1)本實(shí)用新型的保護(hù)裝置能夠保護(hù)光電倍增管，防止光電倍增管長時間接觸強(qiáng)光，從而延長光電倍增管的壽命。

(2)本實(shí)用新型的保護(hù)裝置設(shè)計(jì)簡單，操作容易。

附圖說明

圖1為根據(jù)本實(shí)用新型的保護(hù)裝置的剖視圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例來說明本實(shí)用新型。

圖1為當(dāng)本實(shí)用新型的擋塊4遮擋進(jìn)光口9時，根據(jù)本實(shí)用新型的保護(hù)裝置1的主視圖。在圖1中，根據(jù)本實(shí)用新型的擋塊4處于遮擋進(jìn)光口9的位置，也就是說，根據(jù)本實(shí)用新型的探頭7處于非檢測狀態(tài)。

根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式，本實(shí)用新型提供一種如圖1所示的用于光電倍增管的保護(hù)裝置1，包括：探頭7，其用于容納光電倍增管并用于檢測；固定件6，其置于探頭7與光纖座5之間并包括擋塊4；電磁鐵2，電磁鐵2通過連桿與擋塊4的一端連接，并控制擋塊4的水平移動；支撐件3，其用于支撐擋塊 4；和進(jìn)光口9，其設(shè)置在固定件6中，擋塊4通過水平移動而選擇遮擋或暴露進(jìn)光口9。

進(jìn)光口9下面將參考圖1詳細(xì)描述根據(jù)本實(shí)用新型的保護(hù)裝置1的操作過程。

本實(shí)用新型的保護(hù)裝置1的操作如下：當(dāng)需要探頭7檢測時，使電磁鐵2 通電，則電磁鐵2向擋塊4的方向移動，由于電磁鐵2與擋塊4在同一連桿上，所以，擋塊4在水平方向上移動，從而使進(jìn)光口9暴露，使光纖與探頭7相通；當(dāng)探頭7不檢測時，對電磁鐵2斷電，則電磁鐵2失去磁性，同時彈簧8向與擋塊4的方向相反的方向拉電磁鐵2，以使擋塊4水平移動，從而使擋塊4遮擋進(jìn)光口9，因此，確保光電倍增管接觸不到強(qiáng)光。

因此，本實(shí)用新型的保護(hù)裝置能夠保護(hù)光電倍增管，防止光電倍增管長時間接觸強(qiáng)光，從而延長光電倍增管的壽命。

在本實(shí)用新型中，僅通過在進(jìn)光口9處設(shè)置能夠移動的擋塊4，使得在探頭 7的檢測期間，暴露進(jìn)光口9，而在探頭7的非檢測期間，遮擋進(jìn)光口9，從而達(dá)到保護(hù)光電倍增管并延長光電倍增管的壽命的目的。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)裝置設(shè)計(jì)簡單，操作容易。

根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式，擋塊4水平穿過進(jìn)光口9。具體地，進(jìn)光口9 具有兩個部分，第一部分與光纖座5相鄰，第二部分與支撐件3的口相鄰，而進(jìn)光口9的暴露與遮擋取決于第二部分，當(dāng)擋塊4水平移動至第二部分，進(jìn)光口9的第二部分的空間被擋塊4占用時，從而進(jìn)光口9被擋住。當(dāng)擋塊4從進(jìn)光口9的第二部分移開，進(jìn)光口9的第二部分的空間空出來與進(jìn)光口9的第一部分重合時，形成完整的進(jìn)光口9，從而暴露了進(jìn)光口9。所以，擋塊4在進(jìn)光口9的第二部分以及其延長方向上水平移動。

根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式，支撐件3位于固定件6中，并具有與進(jìn)光口9 相對應(yīng)的口，使得進(jìn)光口9與探頭7相通。支撐件不僅能夠支撐擋塊4，還能夠確保擋塊4在水平方向上移動。

根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式，進(jìn)光口9豎直穿過固定件6，并與光纖和探頭 7相通。

根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式，擋塊4的遮擋面的面積遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于進(jìn)光口9的面積，使得擋塊4能夠全部遮擋住外部強(qiáng)光，以確保光電倍增管接觸不到強(qiáng)光。

根據(jù)本實(shí)用新型，電磁鐵2為推拉式電磁鐵，使得在電磁鐵2中通電時，電磁鐵2的鐵芯向擋塊4的方向移動，從而推動擋塊4，并且在電磁鐵2中沒有通電時，電磁鐵2中的彈簧8可以對電磁鐵2施加彈力，使電磁鐵2水平移動，從而使擋塊4水平移動。具體地，電磁鐵2可以設(shè)計(jì)成使得，當(dāng)探頭7進(jìn)行檢測時，需要使電磁鐵2通電，以使擋塊4從進(jìn)光口9移開，從而暴露進(jìn)光口9，當(dāng)探頭7不檢測時，需要使電磁鐵2斷電，以使擋塊4移動至進(jìn)光口9處，從而遮擋進(jìn)光口9。

根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式，當(dāng)探頭7檢測時，擋塊4暴露進(jìn)光口9，使得探頭7與光纖之間能夠連通。

根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施方式，當(dāng)探頭7不檢測時，擋塊4遮擋進(jìn)光口9，以避免外部強(qiáng)光通過光纖進(jìn)而通過進(jìn)光口9進(jìn)入探頭7，從而損傷光電倍增管。

以上具體實(shí)施例僅用于對本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明，不能理解為對本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制。任何熟悉該領(lǐng)域的工程技術(shù)人員根據(jù)上述實(shí)用新型內(nèi)容對本實(shí)用新型所做的一些非本質(zhì)的改進(jìn)和調(diào)整，都應(yīng)該涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。

附圖標(biāo)記

1 保護(hù)裝置

2 電磁鐵

3 支撐件

4 擋塊

5 光纖座

6 固定件

7 探頭

8 彈簧

9 進(jìn)光口。