1.一種實時自校準熱電偶測溫電路，其特征在于，所述電路包括熱電偶、熱電偶前置濾波電路、熱電偶前置電路、微控制單元MCU、模擬開關(guān)電路、自校準電路、放大電路和斷偶檢測電路；
所述熱電偶的熱端與所述熱電偶前置濾波電路的輸入端連接，所述熱電偶前置濾波電路包括電容器和電阻器；
所述熱電偶前置濾波電路的輸出端與所述熱電偶前置電路的輸入端連接，所述熱電偶前置電路至少包括雙向光MOS管；
所述熱電偶前置電路的輸出端分別與所述模擬開關(guān)電路、所述自校準電路和所述斷偶檢測電路連接，所述模擬開關(guān)電路至少包括模擬開關(guān)芯片，所述斷偶檢測電路包括快恢復二極管和電阻器；
所述自校準電路分別與所述模擬開關(guān)電路和所述斷偶檢測電路連接，所述自校準電路至少包括基準電源芯片和第一運算放大器；
所述模擬開關(guān)電路的輸出端與所述放大電路的輸入端連接，所述放大電路至少包括第二運算放大器；
所述放大電路的輸出端與所述MCU連接；
所述MCU通過第一信號控制線與所述熱電偶前置電路中的所述雙向光MOS管連接；
所述MCU通過第二信號控制線和第三信號控制線與所述模擬開關(guān)電路中的所述模擬開關(guān)芯片連接；
所述MCU通過第四信號控制線與所述斷偶檢測電路連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述自校準電路至少包括基準電源芯片、第一運算放大器、電位器和電容器；
所述第一運算放大器的輸出端與所述模擬開關(guān)電路中的模擬開關(guān)芯片連接；
所述第一運算放大器的同相輸入端至少通過一個電位器與所述基準電源芯片的正極連接；
所述第一運算放大器的反相輸入端與所述第一運算放大器的輸出端連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述熱電偶前置電路、所述斷偶檢測電路和所述模擬開關(guān)電路三者的公共端與所述自校準電路中的電位器的動端連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述模擬開關(guān)電路中的所述模擬開關(guān)芯片的第一輸入端、第二輸入端、第三輸入端、第四輸入端和第五輸入端分別與所述熱電偶前置電路中的所述雙向光MOS管連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述放大電路還包括電容器；
所述第二運算放大器的同相輸入端和反相輸入端分別與所述模擬開關(guān)芯片的第一輸出端和第二輸出端連接；
所述第二運算放大器的所述同相輸入端和所述反相輸入端之間連接有一個電容器；
所述第二運算放大器的輸出端與所述MCU連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述MCU通過所述第二信號控制線和所述第三信號控制線分別與所述模擬開關(guān)芯片的兩個輸入控制端連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一所述的電路，其特征在于，
所述熱電偶前置電路還包括電容器和電阻器，所述放大電路還包括電阻器，所述自校準電路還包括電阻器。