技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型涉及用于檢測具有縱軸線和直徑的透明量筒中的顆粒的檢查系統(tǒng)，包括：?光源，其能照射透明量筒，?遮擋件，其能擋住來自于光源的光線的至少一部分；光源和遮擋件被設(shè)置成使得在透明量筒定位在系統(tǒng)中以進(jìn)行檢查時，光源、遮擋件和透明量筒沿垂直于透明量筒的縱軸線的檢查軸線大致對準(zhǔn)，遮擋件置于光源和透明量筒之間，以防止照射透明量筒的第一部分，同時可讓透明量筒的第二部分被照射，第一部分的寬度小于透明量筒的直徑；遮擋件被配置成與存在于第一部分中并被由透明量筒的第二部分折射的光線照射的顆粒形成對照。該系統(tǒng)能夠?qū)⒂^察到的不同類型瑕疵區(qū)分開來、可靠地檢測小的玻璃顆粒和外觀缺陷以及對透明量筒進(jìn)行快速和全方位檢查。

技術(shù)研發(fā)人員：A·格朗維耶曼
受保護(hù)的技術(shù)使用者：貝克頓迪金森法國公司
文檔號碼：201720174660
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.24
技術(shù)公布日：2017.10.24