技術(shù)總結(jié)
本實用新型特別涉及一種PCIE通道損耗測試治具。該PCIE通道損耗測試治具，包括治具主板和金手指接口，所述治具主板通過高速測試探針SMA接口連接到頻域測試儀器網(wǎng)絡(luò)分析儀；所述治具主板上部設(shè)有去嵌入THRU線，一端連接一對高速測試探針SMA接口，另一端采用金手指設(shè)計；所述治具主板利用去嵌入THRU線做端口延伸，將測試界面移到金手指接口下方的被測通道位置，進而直接得到被測板的傳輸線損耗參數(shù)。該PCIE通道損耗測試治具，結(jié)構(gòu)簡單，簡化了測試工序，降低了測試成本，既能用于測試發(fā)送信號，又能用于測試接收信號，便于評估系統(tǒng)性能，分析系統(tǒng)信號問題點，能夠為產(chǎn)品設(shè)計提供了有效、有利的數(shù)據(jù)。

技術(shù)研發(fā)人員：王素華
受保護的技術(shù)使用者：鄭州云海信息技術(shù)有限公司
文檔號碼：201720353830
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.06
技術(shù)公布日：2017.11.03