本申請涉及電池管理技術,尤其涉及一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理方法及裝置、設備、存儲介質(zhì)。
背景技術:
1、隨著快充充電技術的發(fā)展,現(xiàn)有技術已支持基于可編程電源(programmablepower?supply,pps)快速充電協(xié)議的大功率的150w快充方案,大電流的快充在某些條件下會造成電池“損傷”,比如電池析鋰。那怎么監(jiān)控電池相關的狀態(tài)呢,電池電化學阻抗譜分析提供一種分析思路。電化學阻抗譜是以小振幅的正弦波電勢(或電流)為擾動電信號,使電極系統(tǒng)產(chǎn)生近似線性關系的響應,測量電極系統(tǒng)在很寬頻率范圍內(nèi)的交流電勢與電流信號的比值(此比值即為系統(tǒng)的阻抗),以此來研究電極系統(tǒng)的方法。
2、電化學阻抗譜(electrochemical?impedance?spectroscopy,eis)分析方法已經(jīng)成為研究復雜化學和電化學過程(如腐蝕)的有力工具,特別是近二十年來,在電化學能源系統(tǒng)(燃料電池,超級電容和二次電池)上的應用非常廣泛,尤其是在預測電池狀態(tài)(例如,電池充電狀態(tài)(state?of?charger,soc)和電池健康度(state?of?health,soh)和確定限制電極性能因素(電導率、電荷轉移特性、鈍化膜特性等)方面。eis在研究復雜因素干擾的體系研究中有著突出的優(yōu)點。阻抗測試的頻率范圍非常寬,因此測得的阻抗能夠反映多種復雜的電化學性能:物質(zhì)轉移、速率常數(shù)、擴散系數(shù)和介電常數(shù)等。針對一些電子設備的阻抗測試的寬屏中的高采樣頻率目前能夠高達1khz,也即是1ms采樣一次,如此的高的采樣頻率,電子設備實時處理(1ms?adc采樣+1ms周期實時處理)的代價太高,一直在占用中央處理器(central?processing?unit,cpu)資源會造成發(fā)熱嚴重,而且在多任務調(diào)度系統(tǒng)中,并不能保證嚴格的1ms一次的cpu調(diào)度。因此高采樣頻率的阻抗譜分析面臨的問題需要亟待解決。
技術實現(xiàn)思路
1、本申請實施例期望提供一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理方法及裝置、設備、存儲介質(zhì)。
2、本申請的技術方案是這樣實現(xiàn)的:
3、第一方面,提供了一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理方法,該方法包括:
4、在獲取到數(shù)據(jù)讀取觸發(fā)事件的情況下,讀取電計量芯片采集電池數(shù)據(jù),并將所述電池數(shù)據(jù)緩存到第一存儲單元;其中,所述電池數(shù)據(jù)包括電池電壓和電池電流;
5、在所述第一存儲單元數(shù)據(jù)緩存結束的情況下,從所述第一存儲單元中讀取所述電池數(shù)據(jù);
6、利用所述電池數(shù)據(jù)更新第二存儲單元中用于進行阻抗譜分析處理的歷史數(shù)據(jù);
7、在獲取到運行阻抗譜分析算法的處理觸發(fā)事件的情況下,從所述第二存儲單元中讀取電池數(shù)據(jù),以運行阻抗譜分析算法。
8、第二方面,提供了一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理裝置,該裝置包括:第一處理單元、第一存儲單元、第二處理單元、第二存儲單元和第三處理單元;
9、所述第一處理單元,用于在獲取到數(shù)據(jù)讀取觸發(fā)事件的情況下,讀取電計量芯片采集電池數(shù)據(jù),并將所述電池數(shù)據(jù)緩存到所述第一存儲單元;其中,所述電池數(shù)據(jù)包括電池電壓和電池電流;
10、所述第二處理單元,用于在所述第一存儲單元數(shù)據(jù)緩存結束的情況下,從所述第一存儲單元中讀取所述電池數(shù)據(jù);利用所述電池數(shù)據(jù)更新第二存儲單元中用于進行阻抗譜分析處理的歷史數(shù)據(jù);
11、所述第三處理單元,還用于在獲取到運行阻抗譜分析算法的處理觸發(fā)事件的情況下,從所述第二存儲單元中讀取電池數(shù)據(jù),以運行阻抗譜分析算法。
12、第三方面,提供了一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理裝置,包括:處理器和配置為存儲能夠在處理器上運行的計算機程序的存儲器,
13、其中,所述處理器配置為運行所述計算機程序時,執(zhí)行前述方法的步驟。
14、第四方面,提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計算機程序,其中,該計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)前述方法的步驟。
15、本申請實施例中提供了一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理方法及裝置、設備、存儲介質(zhì),該方法包括:在獲取到數(shù)據(jù)讀取觸發(fā)事件的情況下,讀取電計量芯片采集電池數(shù)據(jù),并將電池數(shù)據(jù)緩存到第一存儲單元;其中,電池數(shù)據(jù)包括電池電壓和電池電流;第一存儲單元數(shù)據(jù)緩存結束,從第一存儲單元中讀取電池數(shù)據(jù);利用電池數(shù)據(jù)更新第二存儲單元中用于進行阻抗譜分析處理的歷史數(shù)據(jù);在獲取到運行阻抗譜分析算法的處理觸發(fā)事件的情況下,從第二存儲單元中讀取電池數(shù)據(jù),以運行阻抗譜分析算法。這樣,通過多級緩存方式輸送到阻抗譜分析算法,有序協(xié)調(diào)阻抗譜分析算法的處理周期和電計量芯片的采樣率,即能夠保證高采樣率的電池數(shù)據(jù)能夠被及時準確輸送,也能適應較長的算法處理周期,在保證阻抗譜分析算法功能的前提下,阻抗譜分析算法適當?shù)恼加胏pu資源,使得系統(tǒng)發(fā)熱處于合理范圍內(nèi)。
1.一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
3.根據(jù)權利要求2所述的方法,其特征在于,所述高采樣率執(zhí)行條件包括:電子設備處于充電狀態(tài)下,或者電子設備處于快速充電狀態(tài)下。
4.根據(jù)權利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法包括:
5.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,所述電計量芯片包括第三存儲單元和第四存儲單元;
6.根據(jù)權利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
7.根據(jù)權利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
8.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,所述讀取電計量芯片采集電池數(shù)據(jù),并將所述電池數(shù)據(jù)緩存到第一存儲單元,包括:
9.根據(jù)權利要求8所述的方法,其特征在于,從所述第一存儲單元中讀取所述電池數(shù)據(jù),包括:
10.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述電池數(shù)據(jù)更新第二存儲單元中用于進行阻抗譜分析處理的電池數(shù)據(jù),包括:
11.一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理裝置,其特征在于,所述裝置包括:第一處理單元、第一存儲單元、第二處理單元、第二存儲單元和第三處理單元;
12.一種阻抗譜分析的數(shù)據(jù)管理設備,其特征在于,所述設備包括:處理器和配置為存儲能夠在處理器上運行的計算機程序的存儲器,
13.一種計算機可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權利要求1至10任一項所述方法的步驟。