本技術(shù)涉及檢測(cè)，特別是涉及一種缺陷驗(yàn)證方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、工業(yè)產(chǎn)品由于需要經(jīng)過制造、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等多重步驟，難免會(huì)出現(xiàn)缺陷，因此就需要高可信度的缺陷檢測(cè)方法對(duì)工業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行缺陷檢測(cè)，以確定缺陷點(diǎn)在工業(yè)產(chǎn)品上的大致方位，以備實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的缺陷點(diǎn)精確檢測(cè)。

2、相關(guān)技術(shù)多通過雙重驗(yàn)證的缺陷驗(yàn)證方法提高缺陷檢測(cè)的可信度，即獲得通過多種缺陷檢測(cè)方式對(duì)同一待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè)得到的多張待驗(yàn)證圖像，進(jìn)而對(duì)多張待驗(yàn)證圖像執(zhí)行逐像素相“與”操作，從而在待驗(yàn)證圖像上確定缺陷像素點(diǎn)所在的位置。

3、但是這種缺陷驗(yàn)證方式無法避免缺陷像素點(diǎn)檢測(cè)的缺失導(dǎo)致的驗(yàn)證后缺陷點(diǎn)變少，從而引發(fā)的缺陷點(diǎn)漏檢的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述技術(shù)問題，本技術(shù)提供了一種缺陷驗(yàn)證方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，通過劃定像素區(qū)域進(jìn)行分區(qū)域缺陷驗(yàn)證的方法，提高缺陷像素點(diǎn)的檢出率。

2、本技術(shù)實(shí)施例公開了如下技術(shù)方案：

3、第一方面，本技術(shù)實(shí)施例公開了一種缺陷驗(yàn)證方法，所述方法包括：

4、獲得第一待驗(yàn)證圖像與第二待驗(yàn)證圖像；其中，所述第一待驗(yàn)證圖像是待檢測(cè)圖像與第一參考圖像進(jìn)行對(duì)比得到的檢測(cè)結(jié)果，所述第二待驗(yàn)證圖像是所述待檢測(cè)圖像與第二參考圖像進(jìn)行對(duì)比得到的檢測(cè)結(jié)果，所述第一待驗(yàn)證圖像與所述第二待驗(yàn)證圖像包括缺陷像素點(diǎn)；

5、在所述第一待驗(yàn)證圖像劃分像素區(qū)域，獲得第一區(qū)域，在所述第二待驗(yàn)證圖像的相同位置劃分相同大小的像素區(qū)域，獲得第二區(qū)域；其中，所述像素區(qū)域是以待測(cè)點(diǎn)為中心的區(qū)域；

6、對(duì)所述第一區(qū)域內(nèi)的像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行求和得到第一像素求和值，對(duì)所述第二區(qū)域內(nèi)的像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行求和得到第二像素求和值；

7、根據(jù)所述第一像素求和值與所述第二像素求和值判斷所述像素區(qū)域內(nèi)是否存在所述缺陷像素點(diǎn)。

8、可選的，所述根據(jù)所述第一像素求和值與所述第二像素求和值判斷所述像素區(qū)域內(nèi)是否存在所述缺陷像素點(diǎn)包括：

9、若所述第一像素求和值與所述第二像素求和值均不為零，確定所述像素區(qū)域內(nèi)存在所述缺陷像素點(diǎn)。

10、可選的，所述方法還包括：

11、若所述第一像素求和值與所述第二像素求和值均不為零，通過遍歷所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域內(nèi)的所有像素點(diǎn)，逐個(gè)判斷是否為所述缺陷像素點(diǎn)。

12、可選的，所述逐個(gè)判斷是否為所述缺陷像素點(diǎn)包括：

13、將所述第一區(qū)域內(nèi)像素值非零的像素點(diǎn)以及所述第二區(qū)域內(nèi)像素值非零的像素點(diǎn)確定為所述缺陷像素點(diǎn)。

14、可選的，所述根據(jù)所述第一像素求和值與所述第二像素求和值判斷所述像素區(qū)域內(nèi)是否存在所述缺陷像素點(diǎn)包括：

15、判斷所述第一像素求和值是否為零；若非零，判斷所述第一區(qū)域內(nèi)存在所述缺陷像素點(diǎn)；

16、若為零，判斷所述第一區(qū)域內(nèi)不存在所述缺陷像素點(diǎn)；

17、判斷所述第二像素求和值是否為零；若非零，判斷所述第二區(qū)域內(nèi)存在所述缺陷像素點(diǎn)；

18、若為零，判斷所述第二區(qū)域內(nèi)不存在所述缺陷像素點(diǎn)。

19、可選的，所述方法還包括：

20、通過所述像素區(qū)域在所述第一待驗(yàn)證圖像與所述第二待驗(yàn)證圖像上滑動(dòng)遍歷，在所述第一待驗(yàn)證圖像與所述第二待驗(yàn)證圖像上確定缺陷像素點(diǎn)。

21、可選的，所述像素區(qū)域?yàn)檎叫?，所述滑?dòng)遍歷的步長(zhǎng)與所述像素區(qū)域的邊長(zhǎng)相等。

22、第二方面，本技術(shù)實(shí)施例公開了一種缺陷驗(yàn)證裝置，所述裝置包括：

23、圖像獲得單元，用于獲得第一待驗(yàn)證圖像與第二待驗(yàn)證圖像；其中，所述第一待驗(yàn)證圖像是待檢測(cè)圖像與第一參考圖像進(jìn)行對(duì)比得到的檢測(cè)結(jié)果，所述第二待驗(yàn)證圖像是所述待檢測(cè)圖像與第二參考圖像進(jìn)行對(duì)比得到的檢測(cè)結(jié)果，所述第一待驗(yàn)證圖像與所述第二待驗(yàn)證圖像包括缺陷像素點(diǎn)；

24、區(qū)域劃分單元，用于在所述第一待驗(yàn)證圖像劃分像素區(qū)域，獲得第一區(qū)域，在所述第二待驗(yàn)證圖像的相同位置劃分相同大小的像素區(qū)域，獲得第二區(qū)域；其中，所述像素區(qū)域是以待測(cè)點(diǎn)為中心的區(qū)域；

25、像素求和單元，用于對(duì)所述第一區(qū)域內(nèi)的像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行求和得到第一像素求和值；對(duì)所述第二區(qū)域內(nèi)的像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行求和得到第二像素求和值；

26、第一缺陷確定單元，用于根據(jù)所述第一像素求和值與所述第二像素求和值判斷所述像素區(qū)域內(nèi)是否存在所述缺陷像素點(diǎn)。

27、可選的，所述第一缺陷確定單元，還用于：

28、若所述第一像素求和值與所述第二像素求和值均不為零，確定所述像素區(qū)域內(nèi)存在所述缺陷像素點(diǎn)。

29、可選的，所述裝置還包括：

30、第二缺陷確定單元，用于若所述第一像素求和值與所述第二像素求和值均不為零，通過遍歷所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域內(nèi)的所有像素點(diǎn)，逐個(gè)判斷是否為所述缺陷像素點(diǎn)。

31、可選的，所述第二缺陷確定單元，還用于：

32、將所述第一區(qū)域內(nèi)像素值非零的像素點(diǎn)以及所述第二區(qū)域內(nèi)像素值非零的像素點(diǎn)確定為所述缺陷像素點(diǎn)。

33、可選的，所述第一缺陷確定單元，還用于：

34、判斷所述第一像素求和值是否為零；若非零，判斷所述第一區(qū)域內(nèi)存在所述缺陷像素點(diǎn)；

35、若為零，判斷所述第一區(qū)域內(nèi)不存在所述缺陷像素點(diǎn)；

36、判斷所述第二像素求和值是否為零；若非零，判斷所述第二區(qū)域內(nèi)存在所述缺陷像素點(diǎn)；

37、若為零，判斷所述第二區(qū)域內(nèi)不存在所述缺陷像素點(diǎn)。

38、可選的，所述裝置還包括：

39、第三缺陷確定單元，用于通過所述像素區(qū)域在所述第一待驗(yàn)證圖像與所述第二待驗(yàn)證圖像上滑動(dòng)遍歷，在所述第一待驗(yàn)證圖像與所述第二待驗(yàn)證圖像上確定缺陷像素點(diǎn)。

40、可選的，所述像素區(qū)域?yàn)檎叫?，所述滑?dòng)遍歷的步長(zhǎng)與所述像素區(qū)域的邊長(zhǎng)相等。

41、第三方面，本技術(shù)實(shí)施例公開了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括處理器以及存儲(chǔ)器：

42、所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)程序代碼，并將所述程序代碼傳輸給所述處理器；

43、所述處理器用于根據(jù)所述程序代碼中的指令執(zhí)行如第一方面或第一方面任意一種可選的實(shí)現(xiàn)方式所述的缺陷驗(yàn)證方法。

44、第四方面，本技術(shù)實(shí)施例公開了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行如第一方面或第一方面任意一種可選的實(shí)現(xiàn)方式所述的缺陷驗(yàn)證方法。

45、由上述技術(shù)方案可以看出，通過獲得第一待驗(yàn)證圖像與第二待驗(yàn)證圖像；其中，第一待驗(yàn)證圖像是待檢測(cè)圖像與第一參考圖像進(jìn)行對(duì)比得到的檢測(cè)結(jié)果，第二待驗(yàn)證圖像是待檢測(cè)圖像與第二參考圖像進(jìn)行對(duì)比得到的檢測(cè)結(jié)果，第一待驗(yàn)證圖像與第二待驗(yàn)證圖像包括缺陷像素點(diǎn)；在第一待驗(yàn)證圖像劃分像素區(qū)域，獲得第一區(qū)域，在第二待驗(yàn)證圖像的相同位置劃分相同大小的像素區(qū)域，獲得第二區(qū)域；其中，像素區(qū)域是以待測(cè)點(diǎn)為中心的區(qū)域；對(duì)第一區(qū)域內(nèi)的像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行求和得到第一像素求和值，對(duì)第二區(qū)域內(nèi)的像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行求和得到第二像素求和值；根據(jù)第一像素求和值與第二像素求和值判斷像素區(qū)域內(nèi)是否存在缺陷像素點(diǎn)。即通過對(duì)區(qū)域內(nèi)像素點(diǎn)的像素值進(jìn)行求和，進(jìn)而根據(jù)求和值判斷劃分的像素區(qū)域內(nèi)是否存在缺陷像素點(diǎn)，從而確定劃分出的像素區(qū)域內(nèi)是否存在缺陷像素點(diǎn)，以提高缺點(diǎn)像素點(diǎn)的檢出率，減少漏檢現(xiàn)象的發(fā)生。