本技術(shù)涉及電池,尤其涉及一種電池的檢測(cè)裝置、方法、生產(chǎn)方法、設(shè)備和介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、節(jié)能減排是汽車(chē)產(chǎn)業(yè)可持續(xù)發(fā)展的關(guān)鍵,電動(dòng)車(chē)輛由于其節(jié)能環(huán)保的優(yōu)勢(shì)成為汽車(chē)產(chǎn)業(yè)可持續(xù)發(fā)展的重要組成部分。對(duì)于電動(dòng)車(chē)輛而言,電池技術(shù)又是關(guān)乎其發(fā)展的一項(xiàng)重要因素。
2、電池在生產(chǎn)或者使用的過(guò)程中可能會(huì)使得電池產(chǎn)生缺陷,對(duì)于疊片型的電池,電池的四個(gè)角處容易磕碰產(chǎn)生缺陷,有些缺陷可能從電池的外部無(wú)法觀測(cè)到,需要對(duì)電池的內(nèi)部進(jìn)行檢測(cè)。
3、相關(guān)技術(shù)中,對(duì)電池進(jìn)行檢測(cè)時(shí),電池的角的成像容易出現(xiàn)畸變,使得電池的缺陷檢測(cè)存在誤判、遺漏,以及檢測(cè)不全的情況。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本技術(shù)旨在至少解決背景技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。為此,本技術(shù)的一個(gè)目的在于提供一種電池的檢測(cè)裝置、方法、生產(chǎn)方法、設(shè)備和介質(zhì),以改善相關(guān)技術(shù)中缺陷檢測(cè)誤判、遺漏和檢測(cè)不全的情況的問(wèn)題。
2、本技術(shù)第一方面的實(shí)施例提供了一種用于檢測(cè)電池的檢測(cè)裝置,待測(cè)電池為疊片型電池,檢測(cè)裝置包括:第一射線源;第二射線源;第一探測(cè)器,與第一射線源的出射口相對(duì);第二探測(cè)器,與第二射線源的出射口相對(duì);承載平臺(tái),被配置為用于放置待測(cè)電池,承載平臺(tái)可移動(dòng),承載平臺(tái)的移動(dòng)軌跡經(jīng)過(guò)第一射線源和第一探測(cè)器之間,且承載平臺(tái)的移動(dòng)軌跡經(jīng)過(guò)第二射線源和第二探測(cè)器之間;以及檢測(cè)單元,分別與第一探測(cè)器和第二探測(cè)器連接,檢測(cè)單元被配置為用于基于第一探測(cè)器接收的射線和第二探測(cè)器接收的射線對(duì)待測(cè)電池進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
3、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中,第一射線源和第一探測(cè)器相互配合對(duì)待測(cè)電池的第一角進(jìn)行檢測(cè),第二射線源和第二探測(cè)器相互配合對(duì)待測(cè)電池的第二角進(jìn)行檢測(cè),使得在對(duì)待測(cè)電池進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí),射線與待測(cè)電池的第一角和第二角所在處的面的夾角盡可能地接近90°,從而可以減小第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖中的畸變,使得第一角位檢測(cè)圖像和待測(cè)電池的第一角的真實(shí)情況更加接近,第二角位檢測(cè)圖和待測(cè)電池的第二角的真實(shí)情況更加接近,檢測(cè)單元通過(guò)第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖對(duì)待測(cè)電池的角進(jìn)行缺陷檢測(cè),使得對(duì)待測(cè)電池內(nèi)部的缺陷檢測(cè)更加全面,減少缺陷檢測(cè)誤判、遺漏和不全的問(wèn)題。
4、在一些實(shí)施例中,第一射線源的射線源焦點(diǎn)的尺寸d1和第二射線源中的射線源焦點(diǎn)的尺寸d2滿(mǎn)足:d1≤10μm和/或d2≤10μm。由于射線源焦點(diǎn)越小,射線穿透物體后幾何不清晰度越小,分辨率越高。本技術(shù)的實(shí)施例將第一射線源和第二射線源中的至少一個(gè)的射線源焦點(diǎn)的尺寸限定為小于或等于10微米,使得至少一個(gè)角的成像效果會(huì)提高,從而進(jìn)一步減小畸變對(duì)待測(cè)電池缺陷檢測(cè)的影響。
5、在一些實(shí)施例中,檢測(cè)裝置還包括:第三射線源;第三探測(cè)器,與第三射線源的出射口相對(duì);其中,承載平臺(tái)的移動(dòng)軌跡還經(jīng)過(guò)第三射線源和第三探測(cè)器之間,檢測(cè)單元還被配置為用于基于第三探測(cè)器接收的射線對(duì)所述待測(cè)電池進(jìn)行缺陷檢測(cè)。設(shè)置第三射線源與第三探測(cè)器相互配合對(duì)待測(cè)電池的第一表面進(jìn)行缺陷檢測(cè),實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)待測(cè)電池的檢測(cè),使得對(duì)待測(cè)電池的缺陷檢測(cè)更加全面。
6、在一些實(shí)施例中,第三射線源的射線源焦點(diǎn)的尺寸d3滿(mǎn)足:10μm<d3≤30μm。待測(cè)電池的中間部分的畸變較小,并不需要太小的射線源焦點(diǎn)來(lái)成像,當(dāng)?shù)谌渚€源的射線源焦點(diǎn)的尺寸小于或等于10微米,雖然成像質(zhì)量較好,但檢測(cè)時(shí)間較長(zhǎng),增加了檢測(cè)時(shí)間,降低了效率;當(dāng)?shù)谌渚€源的射線源焦點(diǎn)的尺寸大于30微米,成像質(zhì)量較差,會(huì)降低檢測(cè)的準(zhǔn)確性。將第三射線源的射線源焦點(diǎn)的尺寸d3設(shè)置為10μm<d3≤30μm,可以提高成像質(zhì)量,也可以縮短檢測(cè)時(shí)間,提搞工作效率。
7、在一些實(shí)施例中,第三射線源在待測(cè)電池的第一表面上的輻射面的面積大于或等于第一表面的面積的一半,第一表面為待測(cè)電池與第三射線源的出射口相對(duì)的面。第三射線源在第一表面上的輻射面的面積大于或等于第一表面的面積的一半,可以通過(guò)兩次檢測(cè)實(shí)現(xiàn)對(duì)第一表面的檢測(cè),且使得在兩側(cè)檢測(cè)中對(duì)第一表面的檢測(cè)更加全面。
8、在一些實(shí)施例中,第一射線源、第二射線源和第三射線源均位于承載平臺(tái)的同一側(cè),方便布置射線源和探測(cè)器。
9、在一些實(shí)施例中,第一射線源、第二射線源和第三射線源中的至少一個(gè)為一體式射線源。一體式射線源的返修率低、穩(wěn)定性高、體積小、后期維護(hù)簡(jiǎn)單,將第一射線源、第二射線源或者第三射線源設(shè)置為一體式射線源,以提高檢測(cè)裝置的可靠性。
10、本技術(shù)第二方面的實(shí)施例提供了一種電池的檢測(cè)方法,檢測(cè)方法采用上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的檢測(cè)裝置對(duì)待測(cè)電池進(jìn)行檢測(cè),待測(cè)電池包括第一角和第二角,檢測(cè)方法包括:獲取待測(cè)電池的檢測(cè)圖像,檢測(cè)圖像包括第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖像;基于檢測(cè)圖像,確定待測(cè)電池的缺陷信息;基于待測(cè)電池的缺陷信息確定待測(cè)電池的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果。獲取待測(cè)電池的第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖像,通過(guò)對(duì)第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖像的分析確定待測(cè)電池的缺陷信息,從而可以減小第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖中的畸變,使得第一角位檢測(cè)圖像和待測(cè)電池的第一角的真實(shí)情況更加接近,第二角位檢測(cè)圖和待測(cè)電池的第二角的真實(shí)情況更加接近,對(duì)待測(cè)電池內(nèi)部的缺陷檢測(cè)更加全面,減少缺陷檢測(cè)誤判、遺漏和不全的問(wèn)題。
11、在一些實(shí)施例中,獲取待測(cè)電池的檢測(cè)圖像,包括:通過(guò)控制使得第一角位于第一射線源和第一探測(cè)器之間,第二角位于二射線源和第二探測(cè)器之間;控制第一射線源發(fā)出的射線通過(guò)待測(cè)電池的第一角投射至第一探測(cè)器;控制第二射線源發(fā)出的射線通過(guò)待測(cè)電池的第二角投射至第二探測(cè)器;基于第一探測(cè)器接收的射線確定第一角位檢測(cè)圖像;基于第二探測(cè)器接收的射線確定第二角位檢測(cè)圖像;基于第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖像確定待測(cè)電池的檢測(cè)圖像。通過(guò)控制使得第一角位于第一射線源和第一探測(cè)器之間,第二角位于第二射線源和第二探測(cè)器之間,在對(duì)待測(cè)電池進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí),射線與待測(cè)電池的第一角和第二角所在處的面的夾角盡可能地接近90°,從而可以減小第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖中的畸變,使得第一角位檢測(cè)圖像和待測(cè)電池的第一角的真實(shí)情況更加接近,第二角位檢測(cè)圖和待測(cè)電池的第二角的真實(shí)情況更加接近,通過(guò)第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖對(duì)待測(cè)電池的角進(jìn)行缺陷檢測(cè),使得對(duì)待測(cè)電池內(nèi)部的缺陷檢測(cè)更加全面,減少缺陷檢測(cè)誤判、遺漏和不全的問(wèn)題。
12、在一些實(shí)施例中,基于第一探測(cè)器接收的射線確定第一角位檢測(cè)圖,包括:基于第一探測(cè)器接收的射線采集包括第一角的多張第一原始圖像;處理多張第一原始圖像得到第一角位檢測(cè)圖像。
13、在一些實(shí)施例中,處理多張第一原始圖像得到第一角位檢測(cè)圖像,包括:對(duì)多張第一原始圖像進(jìn)行濾波處理,得到第一濾波圖像;對(duì)第一濾波圖像進(jìn)行降噪處理,得到第一降噪圖像;截取第一降噪圖像中的第一檢測(cè)區(qū)域,得到第一角位檢測(cè)圖像,第一檢測(cè)區(qū)域?yàn)榈谝唤翟雸D像中包括第一角的區(qū)域。采集多張第一原始圖像,對(duì)多張第一原始圖像進(jìn)行處理,如果其中一張第一原始圖像出現(xiàn)誤差,其他的第一原始圖像仍然是正確的,也可以減小誤差對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。在本技術(shù)的實(shí)施例中,濾波處理可以去除多張第一原始圖像中不相關(guān)的信息,可以提高第一原始圖像信噪比。通過(guò)對(duì)第一濾波圖像進(jìn)行降噪得到第一降噪圖像,通過(guò)可以去除第一濾波圖像中的量子噪聲、混疊噪聲、電子噪聲等隨機(jī)噪聲,很大程度上提高了第一濾波圖像的信噪比。在通過(guò)第一射線源以及第一探測(cè)器采集的第一原始圖像中,不僅包括的第一角,也包括其他區(qū)域,在本技術(shù)的實(shí)施例中,將具有第一角的區(qū)域截取出來(lái),一方面可以減小后續(xù)的計(jì)算,同時(shí)可以減小其他區(qū)域出現(xiàn)誤差對(duì)第一角缺陷檢測(cè)的影響。
14、在一些實(shí)施例中,第一角與第二角相鄰,待測(cè)電池還包括相鄰的第三角和第四角,第三角與第一角相鄰,第四角與第二角相鄰,獲取待測(cè)電池的檢測(cè)圖像包括:控制待測(cè)電池移動(dòng),使得第三角位于第一射線源和第一探測(cè)器之間,第四角位于二射線源和第二探測(cè)器之間;控制第一射線源發(fā)出的射線通過(guò)待測(cè)電池的第三角投射至第一探測(cè)器;控制第二射線源發(fā)出的射線通過(guò)待測(cè)電池的第四角投射至第二探測(cè)器;基于第一探測(cè)器接收的射線確定第三角的第三角位檢測(cè)圖像;基于第二探測(cè)器接收的射線確定第四角的第四角位檢測(cè)圖像;基于所一角位檢測(cè)圖像、第二角位檢測(cè)圖像、第三角位檢測(cè)圖像和第四角位檢測(cè)圖像確定待測(cè)電池的缺陷信息。通過(guò)上述步驟也可以實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)電池的第三角和第四角的檢測(cè),使得對(duì)待測(cè)電池的檢測(cè)更加全面,同時(shí)使得第三角位檢測(cè)圖像和待測(cè)電池的第三角的真實(shí)情況更加接近,第四角位檢測(cè)圖和待測(cè)電池的第四角的真實(shí)情況更加接近,減少缺陷檢測(cè)誤判、遺漏和不全的問(wèn)題。
15、在一些實(shí)施例中,待測(cè)電池位于承載平臺(tái),第三角和第一角沿第一方向排布,第四角和第二角沿第一方向排布,控制待測(cè)電池移動(dòng),使得第三角位于第一射線源和第一探測(cè)器之間,第四角位于第二射線源和第二探測(cè)器之間,包括:控制承載平臺(tái)沿第一方向移動(dòng),使得第三角位于第一射線源和第一探測(cè)器之間,第四角位于第二射線源和第二探測(cè)器之間。通過(guò)控制承載平臺(tái)移動(dòng)相較于控制待測(cè)電池移動(dòng),更加簡(jiǎn)單,不需要改變待測(cè)電池和承載平臺(tái)之間的位置關(guān)系,使得待測(cè)電池更加穩(wěn)固。
16、在一些實(shí)施例中,待測(cè)電池還包括第一表面,第一表面與待測(cè)電池的厚度方向垂直,第一角和第二角均位于第一表面,獲取待測(cè)電池的檢測(cè)圖像包括:通過(guò)控制使得第一表面位于第三射線源和第三探測(cè)器之間;控制第三射線源發(fā)出的射線通過(guò)待測(cè)電池的第一表面投射至第三探測(cè)器;基于第三探測(cè)器接收的射線確定第一表面的第一表面檢測(cè)圖像;基于第一角位檢測(cè)圖像、第二角位檢測(cè)圖像、第三角位檢測(cè)圖像、第四角位檢測(cè)圖像和第一表面檢測(cè)圖像確定待測(cè)電池的缺陷信息。通過(guò)上述步驟對(duì)待測(cè)電池還包括第一表面進(jìn)行檢測(cè),實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)電池的更加全面的檢測(cè)。
17、在一些實(shí)施例中,第一表面包括相互連接的第一區(qū)域和第二區(qū)域,控制第三射線源發(fā)出的射線通過(guò)待測(cè)電池的第一表面投射至第三探測(cè)器,包括:通過(guò)控制使得第三射線源發(fā)出的射線至少通過(guò)第一區(qū)域投射至第三探測(cè)器;通過(guò)控制使得第三射線源發(fā)出的射線至少通過(guò)第二區(qū)域投射至第三探測(cè)器。通過(guò)兩次檢測(cè)對(duì)第一表面進(jìn)行檢測(cè),可以減小對(duì)第一表面檢測(cè)的遺漏,從而使得對(duì)待測(cè)電池的缺陷檢測(cè)更加全面。
18、在一些實(shí)施例中,基于檢測(cè)圖像,確定待測(cè)電池的缺陷信息,包括:基于檢測(cè)圖像,確定待測(cè)電池的缺陷數(shù)量和/或缺陷尺寸;基于缺陷數(shù)量和/或缺陷尺寸確定待測(cè)電池的缺陷信息。缺陷數(shù)量和缺陷尺寸均是衡量待測(cè)電池缺陷的標(biāo)準(zhǔn),缺陷數(shù)量是待測(cè)電池中所有缺陷的數(shù)量的總和,缺陷尺寸是每一個(gè)缺陷單獨(dú)的尺寸。
19、在一些實(shí)施例中,基于待測(cè)電池的缺陷信息確定待測(cè)電池的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果,包括:響應(yīng)于缺陷數(shù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)量,確定待測(cè)電池不合格。當(dāng)缺陷數(shù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)量,說(shuō)明待測(cè)電池中的缺陷較多,確定待測(cè)電池不合格。
20、在一些實(shí)施例中,基于待測(cè)電池的缺陷信息確定待測(cè)電池的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果,包括:響應(yīng)于缺陷尺寸大于預(yù)設(shè)尺寸,確定待測(cè)電池不合格。當(dāng)缺陷尺寸大于預(yù)設(shè)尺寸,說(shuō)明待測(cè)電池中的缺陷尺寸較大,確定待測(cè)電池不合格。
21、本技術(shù)第三方面的實(shí)施例提供了一種電池的檢測(cè)裝置,待測(cè)電池包括第一角和第二角,第一角與第二角相鄰,電池的檢測(cè)裝置包括:獲取模塊,被配置為用于獲取待測(cè)電池的檢測(cè)圖像,檢測(cè)圖像包括第一角位檢測(cè)圖像和第二角位檢測(cè)圖像;第一確定模塊,被配置為用于基于檢測(cè)圖像,確定待測(cè)電池的缺陷信息;第二確定模塊,被配置為用于基于待測(cè)電池的缺陷信息確定待測(cè)電池的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果。
22、本技術(shù)第四方面的實(shí)施例提供了一種電池的生產(chǎn)方法,方法包括:采用上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的方法對(duì)待測(cè)電池的質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè),以確定待測(cè)電池的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果。本技術(shù)實(shí)施例提供的電池的生產(chǎn)方法可以確定待測(cè)電池的缺陷,可以根據(jù)待測(cè)電池的缺陷來(lái)確定待測(cè)電池的質(zhì)量。
23、在一些實(shí)施例中,方法還包括:響應(yīng)于待測(cè)電池的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果為不合格,剔除不合格的電池。可以根據(jù)待測(cè)電池的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果來(lái)確定待測(cè)電池的質(zhì)量,剔除不合格的電池,提高使用該電池的裝置或者設(shè)備的穩(wěn)定性。
24、本技術(shù)第五方面的實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備,電子設(shè)備包括:至少一個(gè)處理器;以及與至少一個(gè)處理器通信連接的存儲(chǔ)器;其中,存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有能夠被至少一個(gè)處理器執(zhí)行的指令,指令被至少一個(gè)處理器執(zhí)行,以使至少一個(gè)處理器能夠執(zhí)行上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的電池的檢測(cè)方法或上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的電池的生產(chǎn)方法。
25、本技術(shù)第六方面的實(shí)施例提供了一種電池的生產(chǎn)設(shè)備,包括上述實(shí)施例中的電子設(shè)備。
26、本技術(shù)第七方面的實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的電池的檢測(cè)方法或上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的電池的生產(chǎn)方法。
27、本技術(shù)第八方面的實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括計(jì)算機(jī)程序,該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的電池的檢測(cè)方法或上述實(shí)施例中任一項(xiàng)的電池的生產(chǎn)方法。
28、上述說(shuō)明僅是本技術(shù)技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本技術(shù)的技術(shù)手段,而可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本技術(shù)的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉本技術(shù)的具體實(shí)施方式。