本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試，特別涉及一種測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在相關(guān)技術(shù)中，電子設(shè)備的器件需要具備一定的電磁抗干擾能力，即ems，否則，在強(qiáng)電磁環(huán)境下，電子設(shè)備會出現(xiàn)如控制板芯片損壞、程序死機(jī)、顯示屏閃屏、按鍵誤觸發(fā)等異常情況出現(xiàn)，這就需要電子設(shè)備的這些器件能夠承受一定的電磁干擾。

2、在對電子設(shè)備進(jìn)行測試時，需要向電子設(shè)備供電，然而，在測試過程中電子設(shè)備的電源線的擺放位置往往會影響測試效果。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實施方式提供了一種測試設(shè)備，用于對待測設(shè)備的電磁抗干擾能力進(jìn)行測試。

2、本發(fā)明實施方式提供的一種測試設(shè)備包括：

3、測試腔體，所述測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔，所述測試腔用于放置所述待測設(shè)備，所述測試腔的側(cè)壁設(shè)有安裝孔；

4、供電模塊，所述供電模塊位于所述測試腔外，和；

5、供電接頭，所述供電接頭包括第一接頭和第二接頭，所述第一接頭安裝在所述安裝孔處并連接所述供電模塊，所述第一接頭包括第一外殼，所述第一外殼為金屬外殼，所述第一外殼與所述測試腔體連接形成接地回路，所述第二接頭位于所述測試腔內(nèi)并與所述第一接頭連接，所述第二接頭用于通過電源線電連接所述待測設(shè)備。

6、上述測試設(shè)備中，向待測設(shè)備供電的供電接頭包括第一接頭和第二接頭，第一接頭的第一外殼與測試腔體連接形成接地回路，有效地減少電磁傳導(dǎo)輻射，減少電源線對測試結(jié)果的影響。

7、在某些實施方式中，所述電源線從內(nèi)至外依次包括金屬導(dǎo)線、絕緣層和屏蔽層，所述絕緣層包覆所述金屬導(dǎo)線，所述屏蔽層包覆所述絕緣層。

8、在某些實施方式中，所述電源線包括：

9、防護(hù)層，所述防護(hù)層包覆所述屏蔽層。

10、在某些實施方式中，所述安裝孔的內(nèi)壁設(shè)有內(nèi)螺紋，所述第一外殼設(shè)有外螺紋，所述外螺紋與所述內(nèi)螺紋連接。

11、在某些實施方式中，所述測試設(shè)備包括：

12、密封圈，所述密封圈密封連接所述第一外殼和所述測試腔體。

13、在某些實施方式中，所述第一接頭設(shè)有插槽，所述第二接頭包括插頭，所述插頭插在所述插槽中。

14、在某些實施方式中，所述第一外殼上設(shè)有第一防呆部，所述第二接頭上設(shè)有第二防呆部，在所述第一防呆部與所述第二防呆部配合連接的情況下，所述第一接頭與所述第二接頭連接。

15、在某些實施方式中，所述測試設(shè)備包括：

16、射頻模塊，所述射頻模塊用于產(chǎn)生射頻信號；

17、天線，所述天線連接所述射頻模塊，所述天線用于將所述射頻信號饋入至所述測試腔內(nèi)；

18、散熱組件，所述散熱組件用于對所述射頻模塊和所述供電模塊進(jìn)行散熱，和；

19、電氣室，所述電氣室位于所述測試腔外，所述供電模塊、所述射頻模塊和所述散熱組件位于所述電氣室內(nèi)。

20、在某些實施方式中，所述散熱組件包括：

21、散熱風(fēng)機(jī)，和；

22、導(dǎo)風(fēng)件，所述導(dǎo)風(fēng)件罩設(shè)所述射頻模塊，所述導(dǎo)風(fēng)件設(shè)有進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口，所述進(jìn)風(fēng)口與所述散熱風(fēng)機(jī)對應(yīng)設(shè)置。

23、在某些實施方式中，所述供電模塊設(shè)置在所述導(dǎo)風(fēng)件上方，所述供電模塊和所述導(dǎo)風(fēng)件導(dǎo)熱地連接。

24、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。

技術(shù)特征：

1.一種測試設(shè)備，用于對待測設(shè)備的電磁抗干擾能力進(jìn)行測試，其特征在于，所述測試設(shè)備包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述電源線從內(nèi)至外依次包括金屬導(dǎo)線、絕緣層和屏蔽層，所述絕緣層包覆所述金屬導(dǎo)線，所述屏蔽層包覆所述絕緣層。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述電源線包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述安裝孔的內(nèi)壁設(shè)有內(nèi)螺紋，所述第一外殼設(shè)有外螺紋，所述外螺紋與所述內(nèi)螺紋連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述測試設(shè)備包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述第一接頭設(shè)有插槽，所述第二接頭包括插頭，所述插頭插在所述插槽中。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述第一外殼上設(shè)有第一防呆部，所述第二接頭上設(shè)有第二防呆部，在所述第一防呆部與所述第二防呆部配合連接的情況下，所述第一接頭與所述第二接頭連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述測試設(shè)備包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述散熱組件包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述供電模塊設(shè)置在所述導(dǎo)風(fēng)件上方，所述供電模塊和所述導(dǎo)風(fēng)件導(dǎo)熱地連接。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種測試設(shè)備。用于對待測設(shè)備的電磁抗干擾能力進(jìn)行測試。測試設(shè)備包括測試腔體、供電模塊和供電接頭。測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔。測試腔用于放置待測設(shè)備。測試腔的側(cè)壁設(shè)有安裝孔。供電模塊位于測試腔外。供電接頭包括第一接頭和第二接頭。第一接頭安裝在安裝孔處并連接供電模塊。第一接頭包括第一外殼。第一外殼為金屬外殼。第一外殼與測試腔體連接形成接地回路。第二接頭位于測試腔內(nèi)并與第一接頭連接。第二接頭用于通過電源線電連接待測設(shè)備。上述測試設(shè)備中，向待測設(shè)備供電的供電接頭包括第一接頭和第二接頭，第一接頭的第一外殼與測試腔體連接形成接地回路，有效地減少電磁傳導(dǎo)輻射，減少電源線對測試結(jié)果的影響。

技術(shù)研發(fā)人員：陳宗龍,陳禮康,唐相偉,鄭弘佑,方友平,何建波
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東美的廚房電器制造有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2