本發(fā)明涉及設(shè)備檢測，特別涉及一種檢測系統(tǒng)和檢測方法。

背景技術(shù)：

1、目前，在受到強(qiáng)電磁環(huán)境下，電子設(shè)備可能會出現(xiàn)控制板芯片損壞、程序死機(jī)、顯示屏閃屏、按鍵誤觸發(fā)等情況，這就需要電子設(shè)備的這些部件能夠承受一定的輻射抗干擾能力。在消費(fèi)家電領(lǐng)域，往往某一單品的銷量百萬到千瓦級別，產(chǎn)品在設(shè)計(jì)及測試時(shí)，出現(xiàn)上述問題的概率較小，當(dāng)大批量生產(chǎn)時(shí)，由于電子設(shè)備器件差異性引起，出現(xiàn)上述問題的概率變高，因此可以設(shè)計(jì)階段提前采用該設(shè)備，盡可能早的篩選出輻射抗干擾能力差的方案，或者提升設(shè)計(jì)階段此類部件的輻射抗干擾能力，提升生產(chǎn)大貨整體品質(zhì)能力，提高效率。同時(shí)也可以測試被測件在溫濕度環(huán)境下的輻射抗干擾能力，以完整模擬電子設(shè)備在各種工況環(huán)境下的使用。因此，有必要提供一種檢測系統(tǒng)，可以模擬被測器件是實(shí)際工作環(huán)境下的輻射抗干擾測試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施方式提供一種檢測系統(tǒng)和檢測方法。

2、本發(fā)明實(shí)施方式的一種檢測系統(tǒng)用于對待測設(shè)備進(jìn)行檢測，所述檢測系統(tǒng)包括：

3、測試腔體，所述測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔，所述測試腔用于放置所述待測設(shè)備；

4、天線組件，所述天線組件安裝在所述測試腔體；

5、射頻模塊，所述射頻模塊電連接所述天線組件，所述射頻模塊用于輸出射頻信號，所述射頻信號經(jīng)所述天線組件饋入至所述測試腔；

6、環(huán)境組件，所述環(huán)境組件用于調(diào)節(jié)所述測試腔的溫度和濕度中的至少一個(gè)；

7、控制組件，所述控制組件電連接所述射頻模塊和所述環(huán)境組件，所述控制組件用于根據(jù)測試指令控制所述射頻模塊發(fā)射所述射頻信號和所述環(huán)境組件調(diào)節(jié)所述測試腔的溫度和濕度中的至少一個(gè)。

8、上述檢測系統(tǒng)中，射頻模塊所發(fā)射的射頻信號可以經(jīng)天線組件饋入測試腔，以將射頻信號輻射至待測設(shè)備，環(huán)境組件可以調(diào)節(jié)測試腔的溫度和濕度中的至少一個(gè)，進(jìn)而可以較為完整地模擬待測設(shè)備在各種工況環(huán)境下的使用場景。

9、在某些實(shí)施方式中，所述環(huán)境組件包括溫度調(diào)節(jié)裝置和檢測裝置，所述控制組件電連接所述溫度調(diào)節(jié)裝置和所述檢測裝置，所述檢測裝置用于檢測所述測試腔的溫度，所述控制組件用于根據(jù)所述測試指令和所述測試腔的溫度控制所述溫度調(diào)節(jié)裝置運(yùn)行。

10、在某些實(shí)施方式中，所述溫度調(diào)節(jié)裝置包括加熱件和風(fēng)扇，所述風(fēng)扇包括葉片，所述加熱件和所述葉片位于所述測試腔，所述加熱件圍繞所述葉片設(shè)置，和/或；

11、所述溫度調(diào)節(jié)裝置包括制冷件，所述制冷件用于降低所述測試腔的溫度。

12、在某些實(shí)施方式中，所述環(huán)境組件包括濕度調(diào)節(jié)裝置和檢測裝置，所述控制組件電連接所述濕度調(diào)節(jié)裝置和所述檢測裝置，所述檢測裝置用于檢測所述測試腔的濕度，所述控制組件用于根據(jù)所述測試指令和所述測試腔的濕度控制所述濕度調(diào)節(jié)裝置運(yùn)行。

13、在某些實(shí)施方式中，所述檢測系統(tǒng)還包括通信模塊，所述控制組件電連接所述通信模塊，所述通信模塊用于發(fā)送所述待測設(shè)備的檢測結(jié)果至預(yù)設(shè)終端。

14、在某些實(shí)施方式中，所述檢測系統(tǒng)包括控制面板，所述控制組件安裝在所述控制面板，所述控制面板包括顯示屏，所述顯示屏用于顯示所述射頻信號的功率、頻率和相位中的至少一個(gè)和所述測試腔的目標(biāo)溫度和目標(biāo)濕度中的至少一個(gè)，及顯示所述測試腔的當(dāng)前溫度和當(dāng)前濕度中的至少一個(gè)。

15、在某些實(shí)施方式中，所述檢測系統(tǒng)包括電器室和散熱組件，所述電器室位于所述測試腔外，所述散熱組件和所述射頻模塊位于所述電器室內(nèi)，所述散熱組件用于對所述射頻模塊進(jìn)行散熱。

16、在某些實(shí)施方式中，所述散熱組件包括導(dǎo)風(fēng)件和散熱電機(jī)，所述導(dǎo)風(fēng)件罩設(shè)所述射頻模塊，所述導(dǎo)風(fēng)件設(shè)有進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口，所述進(jìn)風(fēng)口與所述散熱電機(jī)對應(yīng)設(shè)置。

17、本發(fā)明實(shí)施方式的一種檢測方法用于對待測設(shè)備進(jìn)行檢測，所述檢測方法包括：

18、根據(jù)測試指令控制射頻模塊輸出射頻信號和控制環(huán)境組件調(diào)節(jié)測試腔的溫度和濕度中的至少一個(gè)，所述射頻信號經(jīng)天線組件饋入至測試腔并輻射至位于所述測試腔的待測設(shè)備；

19、獲取并保存所述待測設(shè)備的檢測結(jié)果。

20、上述檢測方法中，射頻模塊所發(fā)射的射頻信號可以經(jīng)天線組件饋入測試腔，以將射頻信號輻射至待測設(shè)備，環(huán)境組件可以調(diào)節(jié)測試腔的溫度和濕度中的至少一個(gè)，進(jìn)而可以較為完整地模擬待測設(shè)備在各種工況環(huán)境下的使用場景。

21、在某些實(shí)施方式中，所述檢測方法還包括：發(fā)送所述待測設(shè)備的檢測結(jié)果至預(yù)設(shè)終端。

22、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。

技術(shù)特征：

1.一種檢測系統(tǒng)，用于對待測設(shè)備進(jìn)行檢測，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述環(huán)境組件包括溫度調(diào)節(jié)裝置和檢測裝置，所述控制組件電連接所述溫度調(diào)節(jié)裝置和所述檢測裝置，所述檢測裝置用于檢測所述測試腔的溫度，所述控制組件用于根據(jù)所述測試指令和所述測試腔的溫度控制所述溫度調(diào)節(jié)裝置運(yùn)行。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述溫度調(diào)節(jié)裝置包括加熱件和風(fēng)扇，所述風(fēng)扇包括葉片，所述加熱件和所述葉片位于所述測試腔，所述加熱件圍繞所述葉片設(shè)置，和/或；

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述環(huán)境組件包括濕度調(diào)節(jié)裝置和檢測裝置，所述控制組件電連接所述濕度調(diào)節(jié)裝置和所述檢測裝置，所述檢測裝置用于檢測所述測試腔的濕度，所述控制組件用于根據(jù)所述測試指令和所述測試腔的濕度控制所述濕度調(diào)節(jié)裝置運(yùn)行。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)還包括通信模塊，所述控制組件電連接所述通信模塊，所述通信模塊用于發(fā)送所述待測設(shè)備的檢測結(jié)果至預(yù)設(shè)終端。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括控制面板，所述控制組件安裝在所述控制面板，所述控制面板包括顯示屏，所述顯示屏用于顯示所述射頻信號的功率、頻率和相位中的至少一個(gè)和所述測試腔的目標(biāo)溫度和目標(biāo)濕度中的至少一個(gè)，及顯示所述測試腔的當(dāng)前溫度和當(dāng)前濕度中的至少一個(gè)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括電器室和散熱組件，所述電器室位于所述測試腔外，所述散熱組件和所述射頻模塊位于所述電器室內(nèi)，所述散熱組件用于對所述射頻模塊進(jìn)行散熱。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述散熱組件包括導(dǎo)風(fēng)件和散熱電機(jī)，所述導(dǎo)風(fēng)件罩設(shè)所述射頻模塊，所述導(dǎo)風(fēng)件設(shè)有進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口，所述進(jìn)風(fēng)口與所述散熱電機(jī)對應(yīng)設(shè)置。

9.一種檢測方法，用于對待測設(shè)備進(jìn)行檢測，其特征在于，所述檢測方法包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種檢測系統(tǒng)和檢測方法。檢測系統(tǒng)包括：測試腔體，測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔，測試腔用于放置待測設(shè)備；天線組件，天線組件安裝在測試腔體；射頻模塊，射頻模塊電連接天線組件，射頻模塊用于輸出射頻信號，射頻信號經(jīng)天線組件饋入至測試腔；環(huán)境組件，環(huán)境組件用于調(diào)節(jié)測試腔的溫度和濕度中的至少一個(gè)；控制組件，控制組件電連接射頻模塊和環(huán)境組件，控制組件用于根據(jù)測試指令控制射頻模塊發(fā)射射頻信號和環(huán)境組件調(diào)節(jié)測試腔的溫度和濕度中的至少一個(gè)。上述檢測系統(tǒng)可以較為完整地模擬待測設(shè)備在各種工況環(huán)境下的使用場景。

技術(shù)研發(fā)人員：陳宗龍,唐相偉,鄭弘佑,陳禮康,方友平,何建波
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東美的廚房電器制造有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2