本發(fā)明涉及電池相關(guān)，特別是一種電芯焊接檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及電芯制造方法。

背景技術(shù)：

1、薄膜電池，例如動(dòng)力鋰離子電池，在制造過(guò)程中，不論卷繞還是疊片方式，通常會(huì)遇到電芯內(nèi)多極耳與極片之間的焊接、以及電芯與電芯之間并聯(lián)方式的組裝焊接，是否能有效的將電芯與電芯間、電芯內(nèi)極耳與極耳間充分連接起來(lái)并實(shí)現(xiàn)100％虛焊漏焊異常檢測(cè)對(duì)電芯安全性能及電芯產(chǎn)品性能發(fā)揮至關(guān)重要；

2、然而，現(xiàn)有技術(shù)中，超聲波焊接質(zhì)量檢測(cè)僅能通過(guò)外觀人工目檢，尚無(wú)有效的在線設(shè)備檢測(cè)手段，人工目檢只能看到表面極耳層數(shù)，無(wú)法有效識(shí)別電芯連接情況。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)于電芯焊接質(zhì)量?jī)H能通過(guò)人工目檢，無(wú)法有效識(shí)別電芯連接情況的技術(shù)問(wèn)題，提供一種電芯焊接檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及電芯制造方法。

2、本發(fā)明提供一種電芯焊接檢測(cè)方法，包括：

3、獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，所述電芯包括一層或多層極片組合，所述極片組合包括等效為等效電容器的兩個(gè)極片，所述電容測(cè)量值從與所述極片連接的電氣元件測(cè)量得到；

4、以所述電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，在所述電容測(cè)量值小于所述預(yù)設(shè)第一閾值時(shí)，計(jì)算所述電容測(cè)量值與所述預(yù)設(shè)第一閾值的差值絕對(duì)值，根據(jù)所述差值絕對(duì)值與預(yù)設(shè)第二閾值的整數(shù)倍的比較結(jié)果，判斷是否存在虛焊漏焊。

5、進(jìn)一步地，所述獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，具體包括：獲取經(jīng)過(guò)放電后的單個(gè)電芯的電容測(cè)量值，所述電容測(cè)量值從與所述極片焊接的極耳測(cè)量得到。

6、更進(jìn)一步地，所述預(yù)設(shè)第一閾值為單體電芯電容值，所述預(yù)設(shè)第二閾值為單層極片間平均電容，所述以所述電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，在所述電容測(cè)量值小于所述預(yù)設(shè)第一閾值時(shí)，計(jì)算所述電容測(cè)量值與所述預(yù)設(shè)第一閾值的差值絕對(duì)值，根據(jù)所述差值絕對(duì)值與預(yù)設(shè)第二閾值的整數(shù)倍的比較結(jié)果，判斷是否存在虛焊漏焊，具體包括：

7、如果單個(gè)所述電芯的電容測(cè)量值小于所述單體電芯電容值，則計(jì)算單個(gè)所述電芯的電容測(cè)量值與所述單體電芯電容值的差值絕對(duì)值為第一差值；

8、如果所述第一差值為所述單層極片間平均電容的整數(shù)倍，則判斷所述電芯內(nèi)存在極耳與極片虛焊漏焊。

9、再進(jìn)一步地，所述方法還包括：

10、如果判斷所述電芯內(nèi)存在極耳與極片虛焊漏焊，則計(jì)算虛焊漏焊層數(shù)為所述第一差值除以單層極片間平均電容；

11、輸出所述虛焊漏焊層數(shù)。

12、進(jìn)一步地，所述獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，具體包括：獲取經(jīng)過(guò)放電后的多個(gè)焊接并聯(lián)的電芯的總體電容測(cè)量值。

13、更進(jìn)一步地，所述預(yù)設(shè)第一閾值為多電芯并聯(lián)電容值，所述預(yù)設(shè)第二閾值為單體電芯電容值，所述以所述電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，在所述電容測(cè)量值小于所述預(yù)設(shè)第一閾值時(shí)，計(jì)算所述電容測(cè)量值與所述預(yù)設(shè)第一閾值的差值絕對(duì)值，根據(jù)所述差值絕對(duì)值與預(yù)設(shè)第二閾值的整數(shù)倍的比較結(jié)果，判斷是否存在虛焊漏焊，具體包括：

14、如果多個(gè)焊接并聯(lián)的所述電芯的總體電容測(cè)量值小于所述多電芯并聯(lián)電容值，則計(jì)算所述總體電容測(cè)量值與所述多電芯并聯(lián)電容值的差值絕對(duì)值為第二差值；

15、如果所述第二差值為所述單體電芯電容值的整數(shù)倍，則判斷存在并聯(lián)電芯虛焊漏焊。

16、再進(jìn)一步地，所述方法還包括：

17、如果判斷存在并聯(lián)電芯虛焊漏焊，則計(jì)算虛焊漏焊電芯數(shù)量為所述第二差值除以單體電芯標(biāo)準(zhǔn)電容；

18、輸出所述虛焊漏焊電芯數(shù)量。

19、本發(fā)明提供一種電芯虛焊漏焊檢測(cè)裝置，包括：

20、電容測(cè)量值獲取模塊，用于獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，所述電芯包括一層或多層極片組合，所述極片組合包括等效為等效電容器的兩個(gè)極片，所述電容測(cè)量值從與所述極片連接的電氣元件測(cè)量得到；

21、判斷模塊，用于以所述電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，在所述電容測(cè)量值小于所述預(yù)設(shè)第一閾值時(shí)，計(jì)算所述電容測(cè)量值與所述預(yù)設(shè)第一閾值的差值絕對(duì)值，根據(jù)所述差值絕對(duì)值與預(yù)設(shè)第二閾值的整數(shù)倍的比較結(jié)果，判斷是否存在虛焊漏焊。

22、本發(fā)明提供一種電子設(shè)備，包括：

23、至少一個(gè)處理器；以及，

24、與至少一個(gè)所述處理器通信連接的存儲(chǔ)器；其中，

25、所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有可被至少一個(gè)所述處理器執(zhí)行的指令，所述指令被至少一個(gè)所述處理器執(zhí)行，以使至少一個(gè)所述處理器能夠執(zhí)行如前所述的電芯焊接檢測(cè)方法。

26、本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)指令，當(dāng)計(jì)算機(jī)執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)指令時(shí)，用于執(zhí)行如前所述的電芯焊接檢測(cè)方法的所有步驟。

27、本發(fā)明提供一種電芯制造方法，包括：

28、執(zhí)行多個(gè)電芯終焊前制造工序；

29、執(zhí)行終焊工序，得到終焊后的電芯，所述電芯包括一層或多層極片組合，所述極片組合包括等效為等效電容器的兩個(gè)極片；

30、對(duì)終焊后的所述電芯進(jìn)行放電后，測(cè)量一個(gè)或多個(gè)所述電芯的電容測(cè)量值，所述電容測(cè)量值從與所述極片連接的電氣元件測(cè)量得到；

31、執(zhí)行如前所述的電芯焊接檢測(cè)方法的所有步驟，在判斷存在虛焊漏焊時(shí)，執(zhí)行告警操作。

32、本發(fā)明的電芯焊接檢測(cè)方法，在電芯制造工序中，獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，由于電芯內(nèi)的極片能夠等效為平行板電容器，整個(gè)電芯等效為多個(gè)電容器并聯(lián)，當(dāng)電芯存在虛焊漏焊，則測(cè)量得到的電容測(cè)量值將與無(wú)虛焊漏焊時(shí)的電容測(cè)量值存在差異，且該差異為第二閾值的整數(shù)倍。因此通過(guò)電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，并根據(jù)差值與第二閾值的整數(shù)倍進(jìn)行比較，判斷是否存在虛焊漏焊，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)焊接過(guò)程中的虛焊漏焊等制程異常問(wèn)題電芯的篩選。

技術(shù)特征：

1.一種電芯焊接檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電芯焊接檢測(cè)方法，其特征在于，所述獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，具體包括：獲取經(jīng)過(guò)放電后的單個(gè)電芯的電容測(cè)量值，所述電容測(cè)量值從與所述極片焊接的極耳測(cè)量得到。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電芯焊接檢測(cè)方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)第一閾值為單體電芯電容值，所述預(yù)設(shè)第二閾值為單層極片間平均電容，所述以所述電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，在所述電容測(cè)量值小于所述預(yù)設(shè)第一閾值時(shí)，計(jì)算所述電容測(cè)量值與所述預(yù)設(shè)第一閾值的差值絕對(duì)值，根據(jù)所述差值絕對(duì)值與預(yù)設(shè)第二閾值的整數(shù)倍的比較結(jié)果，判斷是否存在虛焊漏焊，具體包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電芯焊接檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電芯焊接檢測(cè)方法，其特征在于，所述獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，具體包括：獲取經(jīng)過(guò)放電后的多個(gè)焊接并聯(lián)的電芯的總體電容測(cè)量值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電芯焊接檢測(cè)方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)第一閾值為多電芯并聯(lián)電容值，所述預(yù)設(shè)第二閾值為單體電芯電容值，所述以所述電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，在所述電容測(cè)量值小于所述預(yù)設(shè)第一閾值時(shí)，計(jì)算所述電容測(cè)量值與所述預(yù)設(shè)第一閾值的差值絕對(duì)值，根據(jù)所述差值絕對(duì)值與預(yù)設(shè)第二閾值的整數(shù)倍的比較結(jié)果，判斷是否存在虛焊漏焊，具體包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電芯焊接檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法還包括：

8.一種電芯虛焊漏焊檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：

10.一種存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)指令，當(dāng)計(jì)算機(jī)執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)指令時(shí)，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的電芯焊接檢測(cè)方法的所有步驟。

11.一種電芯制造方法，其特征在于，包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)電芯焊接檢測(cè)方法、裝置、及電芯制造方法。電芯焊接檢測(cè)方法，包括：獲取經(jīng)過(guò)放電后的一個(gè)或多個(gè)電芯的電容測(cè)量值，電芯包括一層或多層極片組合，極片組合包括等效為等效電容器的兩個(gè)極片，電容測(cè)量值從與極片連接的電氣元件測(cè)量得到；以電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，在電容測(cè)量值小于預(yù)設(shè)第一閾值時(shí)，計(jì)算電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值的差值絕對(duì)值，根據(jù)差值絕對(duì)值與預(yù)設(shè)第二閾值的整數(shù)倍的比較結(jié)果，判斷是否存在虛焊漏焊，第一閾值為第二閾值的整數(shù)倍。本發(fā)明的電芯焊接檢測(cè)方法，通過(guò)電容測(cè)量值與預(yù)設(shè)第一閾值進(jìn)行比較，判斷是否存在虛焊漏焊，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)焊接過(guò)程中的虛焊漏焊等制程異常問(wèn)題電芯的篩選。

技術(shù)研發(fā)人員：張竹
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京車和家汽車科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6