本技術(shù)提供一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，屬于hast測試。

背景技術(shù)：

1、cof柔性封裝基板(又稱覆晶薄膜)在顯示模組中起到承載驅(qū)動芯片、電氣導(dǎo)通、絕緣支撐的關(guān)鍵作用，被廣泛應(yīng)用于大尺寸智能電視、全面屏手機、柔性oled顯示終端等領(lǐng)域。隨著電子電器的復(fù)雜性在不斷地增多，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)格、裝置密度不斷增加，cof柔性封裝基板的可靠性也已經(jīng)成為對產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)進(jìn)行考核和檢測。

2、hast測試是集成電路行業(yè)中常用的一種可靠性測試方法。它通過將樣品置于高溫高濕環(huán)境下，模擬樣品在實際應(yīng)用中可能面臨的惡劣條件，以評估樣品的穩(wěn)定性和可靠性。當(dāng)前市面現(xiàn)有的hast試驗箱空間狹小，操作難度大，同時hast治具可測試樣品數(shù)量有限，若多次測試存在耗時長、效率低的問題。因此，亟需發(fā)明一種降低作業(yè)難度并大幅提升作業(yè)效率的測試治具。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型提供的一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，采用分體式設(shè)計，方便調(diào)節(jié)，可同時測試多個樣品，提高了測試效率，解決了現(xiàn)有hast試驗箱空間狹小、操作難度大以及hast治具可測試樣品數(shù)量有限的問題。

2、本實用新型為了解決上述問題，所提出的技術(shù)方案為：一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，包括下層治具測試底座和上層樣品安裝部；所述上層樣品安裝部與下層治具測試底座滑動設(shè)置；所述下層治具測試底座包括治具框架，治具框架下方固定連接有治具支撐架；治具框架內(nèi)設(shè)置有金屬測試單元；所述上層樣品安裝部包括上層框架，上層框架內(nèi)滑動設(shè)置有成對使用的可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置；可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置包括相互連通的金屬下壓頭和金屬伸縮桿；上層框架內(nèi)設(shè)置有測試焊盤，測試焊盤上設(shè)置有測試樣品；金屬下壓頭壓緊測試焊盤，且金屬伸縮桿向下伸出與金屬測試單元導(dǎo)通。

3、作為改進(jìn)的，所述金屬測試單元包括金屬片和金屬導(dǎo)通插座，金屬導(dǎo)通插座連接于金屬片下方；所述金屬伸縮桿與所述金屬測試單元的金屬片相導(dǎo)通，且金屬導(dǎo)通插座通過外接引線與試驗箱連接。

4、作為改進(jìn)的，所述上層框架內(nèi)開設(shè)有滑動軌道，且可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置相對于滑動軌道滑動設(shè)置；所述可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置上設(shè)置有緊固裝置，所述緊固裝置將可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置與上層框架固定連接。

5、作為改進(jìn)的，所述上層樣品安裝部兩側(cè)設(shè)置有互動導(dǎo)軌，所述下層治具測試底座兩側(cè)設(shè)置有插入式滑動導(dǎo)軌；所述互動導(dǎo)軌與所述插入式滑動導(dǎo)軌滑動配合設(shè)置。

6、作為改進(jìn)的，所述互動導(dǎo)軌與所述插入式滑動導(dǎo)軌配合連接后通過軌道鎖扣進(jìn)行鎖死固定。

7、作為改進(jìn)的，所述治具框架采用耐腐蝕材料制成。

8、本實用新型的有益效果：

9、本申請包括可相對滑動分離的上層樣品安裝部與下層治具測試底座，且設(shè)置可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置；通過分體式的設(shè)計大幅度降低連接樣品難度、提升作業(yè)效率，通過可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置輕松完成樣品的夾取，通過可調(diào)軌道適用各類型樣品，實現(xiàn)降本增效。同時，可充分利用hast試驗箱空間，大幅度提升測試樣本數(shù)量。

技術(shù)特征：

1.一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，包括下層治具測試底座和上層樣品安裝部；其特征在于：所述上層樣品安裝部與下層治具測試底座滑動設(shè)置；所述下層治具測試底座包括治具框架(5)，治具框架(5)下方固定連接有治具支撐架(1)；治具框架(5)內(nèi)設(shè)置有金屬測試單元；所述上層樣品安裝部包括上層框架(13)，上層框架(13)內(nèi)滑動設(shè)置有成對使用的可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置；可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置包括相互連通的金屬下壓頭(9)和金屬伸縮桿(12)；上層框架(13)內(nèi)設(shè)置有測試焊盤(15)，測試焊盤(15)上設(shè)置有測試樣品(14)；金屬下壓頭(9)壓緊測試焊盤(15)，且金屬伸縮桿(12)向下伸出與金屬測試單元導(dǎo)通。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，其特征在于：所述金屬測試單元包括金屬片(4)和金屬導(dǎo)通插座(3)，金屬導(dǎo)通插座(3)連接于金屬片(4)下方；所述金屬伸縮桿(12)與所述金屬測試單元的金屬片(4)相導(dǎo)通，且金屬導(dǎo)通插座(3)通過外接引線(2)與試驗箱連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，其特征在于：所述上層框架(13)內(nèi)開設(shè)有滑動軌道(11)，且可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置相對于滑動軌道(11)滑動設(shè)置；所述可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置上設(shè)置有緊固裝置(10)，所述緊固裝置(10)將可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置與上層框架(13)固定連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，其特征在于：所述上層樣品安裝部兩側(cè)設(shè)置有互動導(dǎo)軌(8)，所述下層治具測試底座兩側(cè)設(shè)置有插入式滑動導(dǎo)軌(7)；所述互動導(dǎo)軌(8)與所述插入式滑動導(dǎo)軌(7)滑動配合設(shè)置。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，其特征在于：所述互動導(dǎo)軌(8)與所述插入式滑動導(dǎo)軌(7)配合連接后通過軌道鎖扣(6)進(jìn)行鎖死固定。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分體式可調(diào)節(jié)hast測試治具，其特征在于：所述治具框架(5)采用耐腐蝕材料制成。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開的一種分體式可調(diào)節(jié)HAST測試治具，屬于HAST測試技術(shù)領(lǐng)域；包括下層治具測試底座和上層樣品安裝部；所述上層樣品安裝部與下層治具測試底座滑動設(shè)置；所述下層治具測試底座包括治具框架，治具框架下方固定連接有治具支撐架；治具框架內(nèi)設(shè)置有金屬測試單元；所述上層樣品安裝部包括上層框架，上層框架內(nèi)滑動設(shè)置有成對使用的可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置；可移動按壓開關(guān)導(dǎo)通裝置包括相互連通的金屬下壓頭和金屬伸縮桿；上層框架內(nèi)設(shè)置有測試焊盤，測試焊盤上設(shè)置有測試樣品；金屬下壓頭壓緊測試焊盤，且金屬伸縮桿向下伸出與金屬測試單元導(dǎo)通。本申請可以解決現(xiàn)有HAST試驗箱空間狹小、操作難度大以及HAST治具可測試樣品數(shù)量有限的問題。

技術(shù)研發(fā)人員：孫飛,張馨,王新賀,崔虎,張碩,陸文,王健,孫彬
受保護的技術(shù)使用者：江蘇上達(dá)半導(dǎo)體有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20231220
技術(shù)公布日：2024/12/26