本技術(shù)涉及半導(dǎo)體材料及光電器件測試,尤其涉及一種用于el測試系統(tǒng)的穩(wěn)定且無損的外延片電性能測試裝置。
背景技術(shù):
1、led?照明產(chǎn)品正快速實(shí)現(xiàn)對傳統(tǒng)照明產(chǎn)品的替代,市場規(guī)模不斷擴(kuò)大。為提高能效、保護(hù)環(huán)境、應(yīng)對全球氣候變化,作為新型高效節(jié)能照明產(chǎn)品,led?照明產(chǎn)品是世界各國節(jié)能照明重點(diǎn)推廣產(chǎn)品,世界各國已陸續(xù)明確了淘汰白熾燈的時間表。
2、目前中國已成為全球最大的led照明產(chǎn)地,其led照明市場規(guī)模不斷擴(kuò)大。2019年,中國led照明市場規(guī)模達(dá)到6823億元,led照明產(chǎn)品滲透率達(dá)到76%。led照明技術(shù)不斷創(chuàng)新,產(chǎn)品成本不斷下降是其取得成功的重要原因。而這其中,測試技術(shù)的不斷進(jìn)步和創(chuàng)新是降低成本的重要一環(huán)。
3、在led外延片生產(chǎn)過程中,對產(chǎn)品性能進(jìn)行判定及監(jiān)控是量產(chǎn)過程的必要手段。但是目前的技術(shù)有以下缺陷:(1)接觸不穩(wěn)定:在電致發(fā)光檢測中,使用微型電學(xué)探針分別接觸led外延片的兩個電極并注入電流,以記錄led芯片的電學(xué)性能和發(fā)光性能。然而,由于led外延片本身存在翹曲問題,且探針與外延片電極為硬接觸,導(dǎo)致接觸不穩(wěn)定。這可能會影響測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。(2)損傷風(fēng)險:在進(jìn)行電致發(fā)光檢測時,需要在led外延片正面破壞后才能做n電極或側(cè)面單個硬接觸的n電極,因各類led外延片厚度差異較大,此方法損傷風(fēng)險和接觸問題更加明顯。
4、由于目前l(fā)ed外延片測試el點(diǎn)測時,因?yàn)閜/n電極接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致測試結(jié)果波動大,進(jìn)而影響外延片性能監(jiān)控的判斷,當(dāng)下el測試只能作為外延片性能監(jiān)控的一個參考,并不能作為標(biāo)準(zhǔn)。針對這個問題,業(yè)內(nèi)普遍采用的做法是挑選一些樣品片做芯片制程快測流程,通過快測數(shù)據(jù)進(jìn)行回帶。
5、然而,這種技術(shù)有著不可避免的缺點(diǎn):通過快測回帶賦以外延片電性等級:1、導(dǎo)致產(chǎn)品在制周期長(需要3天時間等快測數(shù)據(jù)作為性能的標(biāo)準(zhǔn));2、如果外延片性能出現(xiàn)異常,若是3天后才發(fā)現(xiàn)會出現(xiàn)此3天內(nèi)生產(chǎn)的產(chǎn)品均出現(xiàn)異常,造成巨大損失;3、回帶機(jī)制并不能真實(shí)呈現(xiàn)每片外延片的電性等級,會出現(xiàn)誤判的情況;4、傳統(tǒng)外延片電性能的方法測試結(jié)果波動大,進(jìn)而影響外延片性能監(jiān)控的判斷。
6、為了解決接觸不穩(wěn)定和損傷問題,研究人員提出了一些方法,例如使用透明導(dǎo)電膜覆蓋待測led芯片,或者采用無接觸型檢測技術(shù),如光致發(fā)光檢測。這些方法可以減少對led芯片的物理接觸,從而降低損傷風(fēng)險。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、針對背景技術(shù)中的提及的問題,本實(shí)用新型提出一種用于el測試系統(tǒng)的穩(wěn)定且無損的外延片電性能測試裝置,取代快測回帶流程,解決在制周期長、異常發(fā)現(xiàn)不及時、回帶機(jī)制誤判外延片電性等級等問題;同時,減少對led芯片的物理接觸,降低損傷風(fēng)險。
2、本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案如下:
3、一種用于el測試系統(tǒng)的穩(wěn)定且無損的外延片電性能測試裝置,包括電流源、與所述電流源連接的p極測試探針和n極測試電極;
4、所述p極測試探針為可伸縮式p極測試探針,包括殼體,殼體內(nèi)安裝有導(dǎo)電彈簧,所述彈簧一端固定在所述殼體頂端并通過導(dǎo)線連接電流源,另一端連接p極測試電極,所述p極測試電極連接待測外延片的一端為導(dǎo)電材料制成的平面,所述p極測試電極通過馬達(dá)控制移動直接接觸待測外延片表面;此設(shè)計可以有效避免因外延片在室溫下有翹曲,導(dǎo)致測試時下針深度不好掌控,p電極接觸不穩(wěn)定的問題;
5、所述n極測試電極為柔性導(dǎo)電材質(zhì)制成的環(huán)形n極測試電極,所述環(huán)形n極測試電極包覆在外延片側(cè)壁裸露的n層上并通過導(dǎo)線連接電流源;此設(shè)計可以使得n極測試電極能緊緊的與n層接觸,避免因n極接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致的測試結(jié)果波動。
6、所述導(dǎo)電材料包括銀、銅、金、鋁、銦錫合金等;
7、所述柔性導(dǎo)電材質(zhì)包括導(dǎo)電聚合物:例如包括聚對苯二甲酸乙二醇酯(pet)、聚二甲基硅氧烷(pdms)、聚氨酯(pu)等在內(nèi)的聚合物基體與包括石墨烯、碳納米管、金屬納米線等在內(nèi)的納米導(dǎo)電材料形成柔性的導(dǎo)電材料;導(dǎo)電橡膠:例如導(dǎo)電硅膠,具有良好的柔韌性和導(dǎo)電性能;導(dǎo)電纖維織物:紡織品中添加導(dǎo)電纖維,使其具備導(dǎo)電功能。
8、所述環(huán)形n極測試電極為一整片包覆在外延片側(cè)壁裸露的n層上電極或多片環(huán)形均勻設(shè)置在外延片側(cè)壁裸露的n層上電極。
9、上述用于el測試系統(tǒng)的穩(wěn)定且無損的外延片電性能測試裝置的測試方法,包括以下步驟:
10、(1)將外延片置于基座上;
11、(2)將所述可伸縮式p極測試探針的p極測試電極置于外延片表面并通過導(dǎo)線連接電流源,將所述環(huán)形n極測試電極包覆在外延片側(cè)壁裸露的n層上并通過導(dǎo)線連接電流源;
12、(3)設(shè)置好針壓參數(shù),進(jìn)行電性參數(shù)測試。
13、通過以上方法測試的el結(jié)果穩(wěn)定、可靠,經(jīng)過驗(yàn)證可作為判定外延片性能的標(biāo)準(zhǔn),可以取消快測流程,縮短在制周期,避免異常發(fā)現(xiàn)不及時,并可準(zhǔn)確賦以每片外延片電性等級。
1.一種用于el測試系統(tǒng)的穩(wěn)定且無損的外延片電性能測試裝置,其特征在于,包括電流源、與所述電流源連接的p極測試探針和n極測試電極;
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外延片電性能測試裝置,其特征在于,所述導(dǎo)電材料包括銀、銅、金、鋁、銦錫合金。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外延片電性能測試裝置,其特征在于,所述柔性導(dǎo)電材質(zhì)包括導(dǎo)電聚合物、導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電纖維織物。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的外延片電性能測試裝置,其特征在于,所述導(dǎo)電聚合物為包括聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚二甲基硅氧烷、聚氨酯在內(nèi)的聚合物基體與包括石墨烯、碳納米管、金屬納米線在內(nèi)的納米導(dǎo)電材料形成柔性的導(dǎo)電材料。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的外延片電性能測試裝置,其特征在于,所述導(dǎo)電橡膠包括導(dǎo)電硅膠。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的外延片電性能測試裝置,其特征在于,所述導(dǎo)電纖維織物為添加導(dǎo)電纖維的紡織品。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外延片電性能測試裝置,其特征在于,所述環(huán)形n極測試電極為一整片包覆在外延片側(cè)壁裸露的n層上電極或多片環(huán)形均勻設(shè)置在外延片側(cè)壁裸露的n層上電極。