本申請要求基于2022年10月28日提交的韓國專利申請no.?10-2022-0140870的優(yōu)先權(quán)的權(quán)益，其全部公開內(nèi)容被并入作為本說明書的一部分。本公開涉及一種高速電池缺陷檢查方法，并且更具體地涉及一種用于通過預(yù)測通過堆疊多個(gè)單式單體而形成的電池的劣化特性來在短時(shí)間內(nèi)確定電池缺陷的高速電池缺陷檢查方法。

背景技術(shù)：

1、在其中堆疊有多個(gè)單式單體的中型或大型電池的情況下，存在的問題在于內(nèi)部的一些單式單體呈現(xiàn)出低電壓缺陷現(xiàn)象（其中特定單式單體的電勢降低的現(xiàn)象）（其原因未知），以及其中所有單體的容量退化的缺陷現(xiàn)象。

2、諸如配備有運(yùn)送的低電壓缺陷單體的ess和車輛電池的產(chǎn)品在長時(shí)間段內(nèi)呈現(xiàn)出顯著的性能不穩(wěn)定性，并且可能降低產(chǎn)品可靠性。

3、常規(guī)地，執(zhí)行電池電壓跟蹤以在電池運(yùn)送階段中檢測低電壓缺陷電池。在電池電壓跟蹤的情況下，其通?；ㄙM(fèi)2周或更長的長時(shí)間。此外，存在將低電壓缺陷的主要原因視為間隔件的折疊現(xiàn)象的高壓力電流檢測（hpcd）檢查方法，但是存在對通過hpcd檢查方法進(jìn)行檢測的限制。

4、因此，需要一種檢查方法，其能夠利用現(xiàn)有的檢查方法檢測低電壓缺陷單體，并且在短時(shí)間內(nèi)同時(shí)檢查所有單體。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、技術(shù)目標(biāo)

2、本公開涉及一種高速電池缺陷檢查方法，并且具體地涉及一種通過預(yù)測通過堆疊多個(gè)單式單體而形成的電池的劣化特性并且在短時(shí)間內(nèi)確定電池缺陷的高速電池缺陷檢查方法。

3、本公開要實(shí)現(xiàn)的技術(shù)目的不限于上述技術(shù)目的，并且本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)下面的描述將清楚地理解未提到的其他技術(shù)目的。

4、技術(shù)方案

5、本公開的高速電池缺陷檢查方法可以包括：

6、分析目標(biāo)阻抗測量步驟（s30），其通過向分析目標(biāo)電池施加設(shè)定頻率的交流電流來獲得作為分析目標(biāo)電池的阻抗的分析目標(biāo)阻抗；

7、實(shí)部電阻提取步驟（s40），其從分析目標(biāo)阻抗中提取實(shí)部值作為實(shí)部電阻；以及

8、缺陷確定步驟（s50），其基于實(shí)部電阻來確定分析目標(biāo)電池的缺陷，

9、其中設(shè)定頻率是從當(dāng)作為分析目標(biāo)阻抗的虛部值的虛部電阻大于0時(shí)的頻率中選擇的。

10、有益效果

11、本公開的高速電池缺陷檢查方法可以在短時(shí)間內(nèi)檢測低電壓缺陷電池，并且能夠每秒檢查數(shù)千至數(shù)萬個(gè)電池。

12、本公開的高速電池缺陷檢查方法能夠?qū)Τ善冯姵貓?zhí)行非破壞性檢查，并且可以適用于大規(guī)模生產(chǎn)線中的電池以及已經(jīng)生產(chǎn)的電池。

13、與常規(guī)方法相比，本公開的高速電池缺陷檢查方法顯著地減少檢查時(shí)間，并且能夠確定甚至尚未檢查的電池中的缺陷。

技術(shù)特征：

1.一種高速電池缺陷檢查方法，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述設(shè)定頻率為在10-2?khz至7?mhz之間。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述分析目標(biāo)電池包括多個(gè)單式單體。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中所述參考電池具有300?mv以上或3?sigma以上的docv。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中所述設(shè)定頻率計(jì)算步驟（s20）包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，在所述函數(shù)擬合步驟（s22）中，

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，在所述設(shè)定頻率獲取步驟（s23）中，

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中在所述設(shè)定頻率獲取步驟中，

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，在所述缺陷確定步驟（s50）中，

11.一種電池活化方法，包括：

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種高速電池缺陷檢查方法，并且具體地涉及一種用于通過預(yù)測通過堆疊多個(gè)單式單體而形成的電池的退化特性來在短時(shí)間內(nèi)確定該電池是否有缺陷的高速電池缺陷檢查方法。

技術(shù)研發(fā)人員：許煉赫,李恩周,孫基賢,申斗鉉,黃教賢,金赫,羅鈞日
受保護(hù)的技術(shù)使用者：株式會(huì)社LG新能源
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9