本申請案的實施例涉及空氣質(zhì)量感測,且更具體涉及基于多個光源的光散射測量。
背景技術(shù):
1、當光傳播通過空間中的顆粒(例如,煙霧顆粒)并被空間中的顆粒散射時,可能發(fā)生光散射。光散射測量裝置可以將光發(fā)射到空間中,并感測傳播通過空間的光以測量光的散射(如果有的話)?;跍y量結(jié)果,可以檢測到空間中是否存在某些感興趣的顆粒。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、在一些實例中,一種設(shè)備包含第一光源、第二光源、具有檢測器輸出的光檢測器,以及具有處理輸入和處理輸出的處理電路,所述處理輸入耦合到所述檢測器輸出。所述第一光源經(jīng)配置以產(chǎn)生具有第一波長的第一光信號。所述第二光源經(jīng)配置以產(chǎn)生具有第二波長的第二光信號,所述第二波長不同于所述第一波長。所述光檢測器經(jīng)配置以響應(yīng)于所述第一光信號而在所述檢測器輸出處產(chǎn)生第一檢測信號,并且響應(yīng)于所述第二光信號而在所述檢測器輸出處產(chǎn)生第二檢測信號。所述處理電路經(jīng)配置以響應(yīng)于所述第一檢測信號和所述第二檢測信號而在所述處理輸出處產(chǎn)生表示空氣質(zhì)量測量結(jié)果的第三信號。
2、在一些實例中,一種方法包含用第一光源發(fā)射具有第一波長的第一光信號。所述方法還包含用第二光源發(fā)射具有不同于所述第一波長的第二波長的第二光信號。所述方法還包含由光檢測器響應(yīng)于所述第一光信號而產(chǎn)生第一檢測信號。所述方法還包含由所述光檢測器響應(yīng)于所述第二光信號而產(chǎn)生第二檢測信號。所述方法還包含由處理電路響應(yīng)于所述第一檢測信號和所述第二檢測信號而產(chǎn)生表示空氣質(zhì)量測量結(jié)果的第三信號。
3、在一些實例中,一種計算機可讀媒體包括計算機可執(zhí)行指令。所述指令可由處理器執(zhí)行以使所述處理器經(jīng)配置以:接收第一檢測信號,所述第一檢測信號表示對具有第一波長的第一光信號的檢測;接收第二檢測信號,所述第二檢測信號表示對具有第二波長的第二光信號的檢測;并且響應(yīng)于所述第一檢測信號和所述第二檢測信號而在所述處理輸出處產(chǎn)生表示空氣質(zhì)量測量結(jié)果的第三信號。
1.一種設(shè)備,其包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述第三信號表示以下中的至少一者:顆粒的顆粒大小或質(zhì)量濃度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的設(shè)備,其中所述處理電路經(jīng)配置以:
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的設(shè)備,其中所述處理電路經(jīng)配置以基于以下中的至少一者而確定所述顆粒大小:使顆粒大小和強度比相關(guān)的多項式函數(shù),或顆粒大小與強度比之間的映射。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的設(shè)備,其中所述處理電路經(jīng)配置以基于所述顆粒大小而確定所述質(zhì)量濃度。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的設(shè)備,其中所述處理電路經(jīng)配置以:
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述第一波長在紅外光譜區(qū)中,并且所述第二波長在藍色光譜區(qū)中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述第一光源經(jīng)定向為以在50到60度范圍內(nèi)的前向反向散射角度產(chǎn)生所述第一光信號,并且所述第二光源經(jīng)定向為以在145到155度范圍內(nèi)的后向反向散射角度產(chǎn)生所述第二光信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述處理電路包括微控制器單元mcu,所述mcu包含控制器輸入和控制器輸出,所述控制器輸入耦合到所述處理輸入,且所述控制器輸出耦合到所述處理輸出,并且其中所述mcu經(jīng)配置以:在所述控制器輸入處接收所述第一檢測信號和所述第二檢測信號;并且在所述控制器輸出處提供表示所述空氣質(zhì)量測量結(jié)果的所述第三信號。
10.一種設(shè)備,其包括:
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的設(shè)備,其中所述第三信號表示以下中的至少一者:顆粒的顆粒大小或質(zhì)量濃度。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的設(shè)備,其中所述處理電路經(jīng)配置以:
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的設(shè)備,其中所述處理電路經(jīng)配置以基于以下中的至少一者而確定所述顆粒大?。菏诡w粒大小和強度比相關(guān)的多項式函數(shù),或顆粒大小與強度比之間的映射。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的設(shè)備,其中所述處理電路經(jīng)配置以:
15.一種方法,其包括:
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中所述第三信號表示以下中的至少一者:顆粒的顆粒大小或質(zhì)量濃度。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,其進一步包括:
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,其進一步包括基于以下中的至少一者而確定所述顆粒大小:使顆粒大小和強度比相關(guān)的多項式函數(shù),或顆粒大小與強度比之間的映射。
19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,其進一步包括:
20.一種存儲指令的非暫時性計算機可讀媒體,所述指令在由處理器執(zhí)行時使所述處理器:
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的非暫時性計算機可讀媒體,其中所述第三信號表示以下中的至少一者:顆粒的顆粒大小或質(zhì)量濃度。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的非暫時性計算機可讀媒體,其中所述指令使所述處理器:
23.根據(jù)權(quán)利要求21所述的非暫時性計算機可讀媒體,其中所述指令使所述處理器基于以下中的至少一者而確定所述顆粒大?。菏诡w粒大小和強度比相關(guān)的多項式函數(shù),或顆粒大小與強度比之間的映射。
24.根據(jù)權(quán)利要求21所述的非暫時性計算機可讀媒體,其中所述指令使所述處理器: